滤光片检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种滤光片检测装置，包括测量装置与数据处理装置，所述测量装置与所述数据处理装置电连接以便所述数据处理装置接收并处理所述测量装置采集的数据；所述测量装置包括相对设置的第一电极板和第二电极板，所述第一电极板和第二电极板内皆设有多个金属探针，所述第一电极板内的金属探针与所述第二电极板内的金属探针相互配合；所述数据处理装置内存储有所述第一电极板内的各金属探针和所述第二电极板内的各金属探针的预设坐标值。本发明专利技术的滤光片检测装置可确定滤光片中的异常剥离膜层，同时可确定该异常剥离膜层中发生异常剥离的具体位置。相应地，本发明专利技术还提供了一种滤光片检测方法。

【技术实现步骤摘要】
滤光片检测装置及方法
本专利技术涉及滤光片测量技术及显示
，尤其涉及一种滤光片检测装置，以及相应的滤光片检测方法。
技术介绍
彩色滤光片主要由玻璃基板、黑色矩阵、彩色层、保护层以及隔垫物构成。彩色滤光片作为TFT-LCD的重要组成部分，是决定液晶显示屏彩色化、显示屏色彩表现力的关键零组件。在彩色滤光片制作的过程中，会出现膜层异常剥离的现象，而膜层发生异常剥离常常会导致产品出现多种不良状况，产品良率降低从而增加制造成本。
技术实现思路
本专利技术的目的旨在提供一种滤光片检测装置，可确定滤光片中的异常剥离膜层，同时可确定该异常剥离膜层中发生异常剥离的具体位置。本专利技术的另一目的是提供一种滤光片检测方法，其运用于所述滤光片检测装置中，可确定滤光片中的异常剥离膜层以及该异常剥离膜层中发生异常剥离的具体位置。为了实现上述目的，本专利技术提供以下技术方案：本专利技术提供平一种滤光片检测装置，其包括测量装置与数据处理装置，所述测量装置与所述数据处理装置电连接以便所述数据处理装置接收并处理所述测量装置采集的数据；所述测量装置包括相对设置的第一电极板和第二电极板，所述第一电极板和第二电极板内皆设有多个金属探针，所述第一电极板内的金属探针与所述第二电极板内的金属探针相互配合；所述数据处理装置内存储有所述第一电极板内的各金属探针和所述第二电极板内的各金属探针的预设坐标值。具体地，所述测量装置还包括电源、绝缘壳体、第一平台和第二平台，所述第一平台设于所述绝缘壳体底端内侧面，所述第二平台设于所述绝缘壳体顶端内侧面；所述第一电极板和第二电极板设于所述第一平台与第二平台之间，所述第一电极板紧贴所述第一平台，所述第二电极板紧贴所述第二平台；所述第一平台和第二平台分别与所述电源正负极连接。较佳地，所述第一电极板和第二电极板中的所有金属探针皆以行列形式排列，同一电极板内相同行或相同列中任意两相邻所述金属探针之间等间距设置。较佳地，所述第一电极板的表面和第二电极板的表面皆设有保护层。相应地，本专利技术还提供一种滤光片检测方法，其运用于上述任意一项技术方案所述的滤光片检测装置，包括如下步骤：S1：所述数据处理装置获取并记录待测滤光片厚度的实测值D2；S2：所述数据处理装置计算并确定待测滤光片不计入某一膜层厚度时该滤光片的厚度D2’；S3：所述数据处理装置计算D2与D2’的差值；S4：依次重复步骤S2和S3，确定每次不计入不同单一膜层的厚度时待测滤光片的厚度D2’及D2与D2’的差值；S5：对比判断不计入不同单一膜层厚度时D2与各D2’的差值，以确定该差值为最小时所对应的未计入的膜层为异常剥离膜层。进一步地，所述滤光片检测方法还包括如下具体步骤：所述数据处理装置计算所述异常剥离膜层中各点对应于所述第一电极板和第二电极板之间的电容值，确定该膜层中发生异常剥离的具体位置。具体地，所述数据处理装置计算并确定D2’的原理公式为：D2’＝ε’ε0s/(C-ε02s/D1)；其中，ε’为待测滤光片不计入某一膜层的介电常数时该滤光片的介电常数，ε0为真空介电常数，C为所述第一电极板和第二电极板之间的正常电容值，s为所述金属探针的截面积，D1为所述第二电极板与待测滤光片上靠近所述第二电极板的端面之间的距离。进一步地，所述滤光片检测方法还包括如下步骤：所述数据处理装置获取并记录经所述测量装置采集的所述第一电极板与第二电极板之间的正常电容值C。进一步地，所述滤光片检测方法还包括如下步骤：所述数据处理装置获取并记录经所述测量装置采集的所述第一电极板与第二电极板之间的距离D。进一步地，所述滤光片检测方法还包括如下步骤：所述数据处理装置获取并记录待测滤光片各膜层的厚度及各膜层的介电常数。相比现有技术，本专利技术的方案具有以下优点：本专利技术的滤光片检测装置，通过将滤光片中不计入某一膜层厚度时计算而得的该滤光片的厚度与滤光片的实际厚度或滤光片不计入该膜层厚度时滤光片的实际厚度进行比较，从而确定滤光片中的异常剥离膜层；同时，将所述第一电极板中的各金属探针和第二电极板中的各金属探针设定坐标值，并通过计算各金属探针对应于所述滤光片上表面与所述第一电极板之间的电容值，从而可确定异常剥离膜层中发生异常剥离的具体位置。本专利技术的滤光片检测装置中，通过将同一电极板中的金属探针按行列形式排列，并且同一电极板内相同行或相同列中任意两相邻所述金属探针之间等间距设置，可保证均匀地检测所述滤光片上表面与所述第一电极板之间各处的电容值，从而可较为精确地确定异常剥离膜层中发生异常剥离的位置。本专利技术的滤光片检测方法包括如下步骤：S1：所述数据处理装置获取并记录待测滤光片厚度的实测值D2；S2：所述数据处理装置计算并确定待测滤光片排除某一膜层后该滤光片的厚度D2’；S3：所述数据处理装置计算D2与D2’的差值；S4：依次重复步骤S2和S3，确定每次不计入不同单一膜层的厚度时待测滤光片的厚度D2’及D2与D2’的差值；S5：对比判断不计入不同单一膜层厚度时D2与各D2’的差值，以确定该差值为最小时所对应的未计入的膜层为异常剥离膜层。通常，发生异常剥离的膜层对应于所述滤光片上表面与所述第一电极板之间的电容值与正常电容值产生较大的偏离，而当D2与D2’的差值为最小时，对应的电容值C2与C2’差值为最大，故可据此判断发生异常剥离的膜层。本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，这些将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1为本专利技术的滤光片检测装置的一种典型实施例的结构示意图，主要示出了测量装置；图2为图1中第二电极板中设置金属探针的结构示意图；图3为图1中第二电极板中金属探针的排布示意图；图4为本专利技术的滤光片检测方法的流程示意图；图5为本专利技术的滤光片检测方法中待测彩色滤光片与所述第一电极板、第二电极板的位置关系示意图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能解释为对本专利技术的限制。请结合图1、图2和图3，本专利技术的滤光片检测装置，包括测量装置100与数据处理装置(未图示，下同)。所述测量装置100与所述数据处理装置电连接以便所述数据处理装置接收并处理所述测量装置100采集的数据。所述测量装置100包括相对设置的第一电极板5和第二电极板9，并且所述第一电极板5和第二电极板9内皆设有多个金属探针14，所述第一电极板5内的金属探针14与所述第二电极板9内的金属探针14相互配合，同一电极板内任意两相邻所述金属探针14之间填充有绝缘材料15以使各所述金属探针14彼此绝缘。同时，所述第一电极板5中的各所述金属探针14与所述第二电极板9中的各所述金属探针14分别一一对应而标记有预设的坐标值，所有坐标值存储于所述数据处理装置内。本专利技术的滤光片检测装置主要用于检测滤光片中发生异常剥离的膜层，同时确定异常剥离膜层中发生异常剥离的具体位置，从而有助于提高滤光片的良品率，节省制造成本。请继续参阅图1，所述测量装置100还包括电源1、绝缘壳体6、第一平台4和第二平台8。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种滤光片检测装置，其特征在于，包括测量装置与数据处理装置，所述测量装置与所述数据处理装置电连接以便所述数据处理装置接收并处理所述测量装置采集的数据；所述测量装置包括相对设置的第一电极板和第二电极板，所述第一电极板和第二电极板内皆设有多个金属探针，所述第一电极板内的金属探针与所述第二电极板内的金属探针相互配合；所述数据处理装置内存储有所述第一电极板内的各金属探针和所述第二电极板内的各金属探针的预设坐标值。

【技术特征摘要】
1.一种滤光片检测装置，其特征在于，包括测量装置与数据处理装置，所述测量装置与所述数据处理装置电连接以便所述数据处理装置接收并处理所述测量装置采集的数据；所述测量装置包括相对设置的第一电极板和第二电极板，所述第一电极板和第二电极板内皆设有多个金属探针，所述第一电极板内的金属探针与所述第二电极板内的金属探针相互配合；所述数据处理装置内存储有所述第一电极板内的各金属探针和所述第二电极板内的各金属探针的预设坐标值。2.根据权利要求1所述的滤光片检测装置，其特征在于，所述测量装置还包括电源、绝缘壳体、第一平台和第二平台，所述第一平台设于所述绝缘壳体底端内侧面，所述第二平台设于所述绝缘壳体顶端内侧面；所述第一电极板和第二电极板设于所述第一平台与第二平台之间，所述第一电极板紧贴所述第一平台，所述第二电极板紧贴所述第二平台；所述第一平台和第二平台分别与所述电源正负极连接。3.根据权利要求1所述的滤光片检测装置，其特征在于，所述第一电极板和第二电极板中的所有金属探针皆以行列形式排列，同一电极板内相同行或相同列中任意两相邻所述金属探针之间等间距设置。4.根据权利要求1所述的滤光片检测装置，其特征在于，所述第一电极板的表面和第二电极板的表面皆设有保护层。5.一种滤光片检测方法，其特征在于，运用于权利要求1-4中任意一项所述的滤光片检测装置，包括如下步骤：S1：所述数据处理装置获取并记录待测滤光片厚度的实测值D2；S2：所述数据处理装置计算并确定待测滤光片不计入某一膜层的厚度时该滤光片的厚度D2...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵文龙，王栋，崔晓强，徐海燕，王钊，齐超，赵梓亨，唐欢，金贤镇，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11