The invention belongs to the technical field of physical measurement, in particular to a method for measuring the distribution of antiferromagnetic domain by using magneto-optical Kerr effect. The invention uses a magneto-optical Kerr microscope with the function of collecting digital images. The measuring process includes: data acquisition, that is, controlling the polarizer as a polarizer to deviate clockwise and counter-clockwise from the same angle in the extinction position, collecting two images on the surface of the sample respectively; data analysis, and acquisition. The two images are blurred and all the information of magnetic domains is erased. Only the information of non-uniform light intensity on the sample surface is retained. Then the contribution of non-uniform light intensity is subtracted from the two original images to get the mixed signal of the morphology and domain information of the two samples. Domain distribution. The method has low cost and provides many possible directions for the study of antiferromagnetic materials.
【技术实现步骤摘要】
一种利用磁光克尔效应测量反铁磁磁畴分布的方法
本专利技术属于物理测量
,具体涉及一种利用磁光克尔显微镜进行反铁磁磁畴测量的方法。
技术介绍
反铁磁材料由于其在外磁场下的稳定性,在现有的自旋电子学器件(如机械硬盘)以及将来的器件(如磁随机存储器)中都有着广泛的应用。尤其是最近几年有人发现反铁磁材料也可以存储信息,以及可以通过电流来操纵反铁磁磁矩之后,反铁磁材料开始受到越来越多的关注。但是对反铁磁材料进行探测的手段一直以来都比较匮乏。目前对于反铁磁材料磁畴结构的研究主要依赖的是借助X光磁线二色性效应的光电子显微镜,但是这种手段需要依赖特定波长的X射线,而这样的X射线只能从全国不超过五座的同步辐射光源获得,在实验时间和地点上都会受到很大的限制。同时,由于光电子显微镜需要对电子束进行成像,因此无法在测量的同时引入电流与磁场。虽然也有人利用飞秒激光借助泵浦-探测的手段实现了反铁磁方向的探测,但是飞秒激光的价格也很昂贵,探测花费的时间比较长,而且高强度的泵浦激光也可能会对反铁磁材料本身产生破坏。这些限制在很大程度上制约了对反铁磁材料研究的进展。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提出一种简易的成本较低的利用磁光克尔光效应测量反铁磁磁畴分布的方法。本专利技术提出的利用磁光克尔光效应测量反铁磁磁畴分布的方法,使用一台带有采集数字图像功能的磁光克尔显微镜,包括两个阶段:数据采集与数据分析,其中:所述数据采集,主要是控制作为检偏器的偏振片,使其在消光位置往顺时针与逆时针方向偏离相同角度(一般在10度以下,比如为4-10度内),分别采集样品表面的两张图像,虽然这两张图片直接相 ...
【技术保护点】
1.一种利用磁光克尔效应测量反铁磁磁畴分布的方法,一台带有采集数字图像功能的磁光克尔显微镜,其特征在于,包括两个阶段:数据采集与数据分析,其中:所述数据采集,主要是控制作为检偏器的偏振片,使其在消光位置往顺时针与逆时针方向偏离相同角度,分别采集样品表面的两张图像;所述的数据分析,先用高斯滤镜对前面采集到的两张图像分别进行模糊,抹去所有磁畴的信息,只保留样品表面的不均匀的光强的信息,然后分别从两张原图里扣除不均匀光强的贡献,得到两张样品形貌与磁畴信息的混合信号;然后再将这两张图像相减,并且除以它们的和,以进一步扣除样品形貌的信息,只留下了反铁磁磁畴的信号,得到样品表面的反铁磁磁畴的分布。
【技术特征摘要】
1.一种利用磁光克尔效应测量反铁磁磁畴分布的方法,一台带有采集数字图像功能的磁光克尔显微镜,其特征在于,包括两个阶段:数据采集与数据分析,其中:所述数据采集,主要是控制作为检偏器的偏振片,使其在消光位置往顺时针与逆时针方向偏离相同角度,分别采集样品表面的两张图像;所述的数据分析,先用高斯滤镜对前面采集到的两张图像分别进行模糊,抹去所有磁畴的信息,只保留...
【专利技术属性】
技术研发人员:周超,许佳,贾孟文,吴义政,
申请(专利权)人:复旦大学,
类型:发明
国别省市:上海,31
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