本申请公开一种设置为物质检测的方法、装置、芯片及检测设备。涉及物质成分检测领域，该方法包括：确定芯片中的待检测分区；将检测设备中的激光源对准所述待检测分区；以及通过检测设备对所述待检测分区依次进行物质检测。本申请公开的设置为物质检测的方法、装置、芯片及检测设备，能够提高拉曼检测的检测效率，并节约检测成本。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于物质检测的方法、装置、芯片及检测设备
本专利技术涉及计算机信息处理领域，具体而言，涉及一种用于物质检测的方法、装置、芯片及检测设备。
技术介绍
拉曼光谱分析法是基于印度科学家C.V.拉曼(Raman)所发现的拉曼散射效应，对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息，并应用于分子结构研究的一种分析方法。拉曼光谱的分析方法不需要对样品进行前处理，也没有样品的制备过程，避免了一些误差的产生，并且在分析过程中操作简便，测定时间短，灵敏度高等优点。表面增强拉曼散射(SERS)效应是指在特殊制备的一些金属良导体表面或溶胶中，在激发区域内，由于样品表面或近表面的电磁场的增强导致吸附分子的拉曼散射信号比普通拉曼散射(NRS)信号大大增强的现象。表面增强拉曼克服了拉曼光谱灵敏度低的缺点，可以获得常规拉曼光谱所不易得到的结构信息，被广泛用于表面研究、吸附界面表面状态研究、生物大小分子的界面取向及构型、构象研究、结构分析等，可以有效分析化合物在界面的吸附取向、吸附态的变化、界面信息等。目前市面上拉曼检测的使用越来越广泛，针对低浓度物质的检测，如农药残留，细胞检测等等的拉曼增强芯片，也已经开始小范围的应用。表面增强拉曼散射(SERS)技术克服了传统拉曼光谱与生俱来的信号微弱的缺点，可以使得拉曼信号强度增大几个数量级，使低浓度物质也足以被探测到。但是，拉曼增强芯片是由纳米材料附着硅片或石英片上构成的，当前价格较高。而且，对于拉曼检测而言，如果需要进行连续多样本的检测，要频繁更换新的拉曼增强芯片，从而造成拉曼检测效率的低下。拉曼芯片造价高昂，拉曼检测设备检测效率低下，是目前急需解决的技术问题。因此，需要一种新的用于物质检测的方法、装置、芯片及检测设备。在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本专利技术的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种用于物质检测的方法、装置、芯片及检测设备，能够提高拉曼检测的检测效率，并节约检测成本。本专利技术的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本专利技术的实践而习得。根据本专利技术的第一方面，提出一种用于物质检测的方法，该方法包括：确定芯片中的待检测分区；将检测设备中的激光源对准所述待检测分区；以及通过检测设备对所述待检测分区依次进行物质检测。根据本专利技术的第二方面，提出一种用于物质检测的装置，该装置包括：分区模块，设置为确定芯片中的待检测分区；调整模块，设置为将检测设备中的激光源对准所述待检测分区；以及检测模块，设置为通过检测设备对所述待检测分区依次进行物质检测。根据本专利技术的第三方面，提出一种用于物质检测的芯片，该芯片包括：下层基片、中层基片和上层基片；所述上层基片用于承载待检测物质，所述上层基片通过凸起的分隔线分成了多个分区。根据本专利技术的第四方面，提出一种用于物质检测的检测设备，该检测设备包括：芯片放置平台；激光源；所述激光源与所述芯片放置平台能够进行相对移动，通过相对移动使得所述激光源对芯片上的任意分区进行检测。根据本专利技术的第五方面，提出一种电子设备，该电子设备包括：一个或多个处理器；存储装置，设置为存储一个或多个程序；当一个或多个程序被一个或多个处理器执行，使得一个或多个处理器实现如上文的方法。根据本专利技术的第六方面，提出一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上文中的方法。根据本专利技术的用于物质检测的方法、装置、芯片及检测设备，能够提高拉曼检测的检测效率，并节约检测成本。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本专利技术。附图说明图1是现有技术中拉曼增强芯片的意图。图2是根据一示例性实施例示出的一种用于物质检测的芯片的分区示意图。图3是根据一示例性实施例示出的一种用于物质检测的方法的流程图。图4是根据一示例性实施例示出的一种用于物质检测的方法中芯片中心位置示意图。图5是根据一示例性实施例示出的一种用于物质检测的方法中激光头转角示意图。图6是根据另一示例性实施例示出的一种用于物质检测的方法的流程图。图7是根据一示例性实施例示出的一种用于物质检测的方法中芯片测量结果展示示意图。图8是根据一示例性实施例示出的一种用于物质检测的装置的框图。图9是根据一示例性实施例示出的一种电子设备的框图。图10示意性示出本公开示例性实施例中一种计算机可读存储介质示意图。具体实施方式现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施例；相反，提供这些实施例使得本专利技术将全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本专利技术的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本专利技术的技术方案而没有特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知方法、装置、实现或者操作以避免模糊本专利技术的各方面。附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。附图中所示的流程图仅是示例性说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解，而有的操作/步骤可以合并或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。本领域技术人员可以理解，附图只是示例实施例的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本专利技术所必须的，因此不能用于限制本专利技术的保护范围。图1是现有技术中拉曼增强的芯片的意图。现有技术中，拉曼增强芯片上没有分区，一个拉曼增强检测芯片仅能进行一次物质检测。图2是根据一示例性实施例示出的一种用于物质检测的芯片的分区示意图其中，用于物质检测的芯片可为拉曼增强芯片，该芯片包括：下层基片、中层基片和上层基片；所述上层基片用于承载待检测物质，所述上层基片通过凸起的分隔线分成了多个分区。在一个实施例中，本申请的用于物质检测的芯片可以采用任意形式的分区，优选的，采用等分方式。在一个实施例中，当芯片外尺寸完全相同时，内部的拉曼增强分区分割可以不同。分区间的分割可例如采用凸起的分隔线，以防止某分区内液体过量而越到其他分区，造成检测结果错误。根据本专利技术的一方面，提出一种用于物质检测的检测设备，该检测设备包括：芯片放置平台；激光源；所述激光源与所述芯片放置平台能够进行相对移动，通过相对移动使得所述激光源对芯片上的任意分区进行检测。可例如，拉曼增强芯片插入到检测设备内部的，并且插入后检测设备的激光焦距处于拉曼增强芯片所处的平面。而通过机械结构的平移运动或激光束角度的变化，使激光焦点位置能够依次处于每一个分区上。在一个实施例中，激光源与所述芯片放置平台进行相对移动的方式，包括：所述激光源固定位置，所述芯片平移的方式；或所述芯片固定位置，所述激光源平移的方式；或所述本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于物质检测的方法，包括：确定芯片中的待检测分区，其中，所述芯片包括多个分区；将检测设备中的激光源对准所述待检测分区；以及通过所述检测设备对所述待检测分区内的物质进行检测。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于物质检测的方法，包括：确定芯片中的待检测分区，其中，所述芯片包括多个分区；将检测设备中的激光源对准所述待检测分区；以及通过所述检测设备对所述待检测分区内的物质进行检测。2.如权利要求1所述的方法，所述芯片，包括：拉曼增强芯片。3.如权利要求1所述的方法，所述检测设备，包括：拉曼检测设备。4.如权利要求1所述的方法，在确定所述芯片中的待检测分区前，还包括：通过所述芯片承接至少一种待检测物质，所述芯片中包括多个用来承载所述待检测物质的分区。5.如权利要求1所述的方法，在确定所述芯片中的待检测分区前，还包括：根据所述芯片的标识获取所述芯片中的分区的分布信息。6.如权利要求5所述的方法，所述分区的分布信息，包括：所述芯片中每一个分区的排布方式，以及所述芯片中每一个分区的中心点坐标。7.如权利要求5所述的方法，所述根据所述芯片的标识获取所述芯片中的分区的分布信息，包括：根据所述芯片的标识，通过芯片中的储存区获取所述芯片中的分区的分布信息；或根据所述芯片的标识，通过所述检测设备中的储存区获取所述芯片中的分区的分布信息；或根据所述芯片的标识，在云端获取所述芯片中的分区的分布信息。8.如权利要求1所述的方法，所述确定芯片中的待检测分区，包括：根据用户指令，确定所述芯片中的所述待检测分区；或根据所述检测设备对所述芯片的识别结果，确定所述芯片中的所述待检测分区。9.如权利要求8所述的方法，所述根据用户指令，确定所述芯片中的所述待检测分区，包括：通过所述分区的分布信息生成分区展示信息；将所述分区展示信息在显示端进行展示；以及用户根据所述分区展示信息的提示，确定所述待检测分区。10.如权利要求1所述的方法，所述将检测设备中的激光源对准所述待检测分区，包括：通过所述激光源固定位置，所述芯片平移的方式，使得激光源对准所述待检测分区；或通过所述芯片固定位置，所述激光源平移的方式，使得激光源对准所述待检测分区；或通过所述芯片固定位置，所述激光源的光束变动角度的方式，使得激光源对准所述待检测分区。11....
【专利技术属性】
技术研发人员：骆磊，牟涛涛，黄晓庆，
申请(专利权)人：深圳达闼科技控股有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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