一种检测电路及检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种检测电路及检测设备，基于芯片中的ESD保护电路，包括第一二极管和第二二极管，第一二极管的阳极与第二二极管的阴极连接，第一二极管的阴极与芯片的供电端连接，第二二极管的阳极与芯片的接地端连接，检测电路包括：第一电路的一端与芯片的供电端连接，第一电路的另一端与第一电压输入端连接，第二电路的一端与芯片的接地端连接，第二电路的另一端与第二电压输入端连接，第三电路的一端与芯片的接地端连接，第三电路的另一端接地连接，测试模块与第一二极管的阳极和第二二极管的阴极的连接节点连接。该检测电路通过结合待检测芯片内ESD保护电路中的二极管进行连通性检测，检测结果安全可靠，且电路结构简单。

A detection circuit and detection equipment

The utility model discloses a detection circuit and a detection device, which are based on an ESD protection circuit in a chip, comprising a first diode and a second diode, an anode of the first diode and a cathode of the second diode, a cathode of the first diode and a power supply terminal of the chip, and an anode of the second diode and a ground terminal of the chip. The detection circuit includes: one end of the first circuit is connected with the power supply terminal of the chip, the other end of the first circuit is connected with the first voltage input terminal, the one end of the second circuit is connected with the ground terminal of the chip, the other end of the second circuit is connected with the second voltage input terminal, and the one end of the third circuit is connected with the ground terminal of the chip. The other end of the third circuit is grounded, and the test module is connected with the connection node of the anode of the first diode and the cathode of the second diode. The detection circuit detects the connectivity by combining the diodes in the ESD protection circuit on the chip to be detected. The detection result is safe and reliable, and the circuit structure is simple.

【技术实现步骤摘要】
一种检测电路及检测设备
本技术涉及芯片管脚连通性检测
，更具体地说，尤其涉及一种检测电路及检测设备。
技术介绍
随着科学技术的不断发展，芯片技术已广泛应用于人们的日常生活以及工作中，为人们的日常生活和工作带来了极大的便利。基于完善的芯片测试系统而言，如果芯片放至测试系统上之后无法知道芯片的管脚是否正确与测试系统相互连通，那么测试到的结果将不能正确反馈芯片的工作状态，因此芯片管脚的连通性检测是必须的。并且对于芯片，在使用之前需要进行烧录操作，由于芯片的封装并非通用封装，且在烧录过程时不可以将芯片焊接到烧录器上，因此需要对芯片和烧录器之间的连通性进行测试，以确保芯片被正确烧录和测试。但是，现有技术中对芯片连通性进行检测的电路结构复杂。
技术实现思路
为解决上述问题，本技术提供了一种检测电路及检测设备，通过结合待检测芯片内ESD保护电路中的二极管进行连通性检测，检测结果安全可靠，且电路结构简单。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种检测电路，基于芯片中的ESD保护电路，所述ESD保护电路包括第一二极管和第二二极管，所述第一二极管的阳极与所述第二二极管的阴极连接，所述第一二极管的阴极与所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测电路，基于芯片中的ESD保护电路，所述ESD保护电路包括第一二极管和第二二极管，所述第一二极管的阳极与所述第二二极管的阴极连接，所述第一二极管的阴极与所述芯片的供电端连接，所述第二二极管的阳极与所述芯片的接地端连接，其特征在于，所述检测电路包括：第一电路、第二电路、第三电路以及测试模块，所述第一电路的一端与所述芯片的供电端连接，所述第一电路的另一端与第一电压输入端连接，所述第二电路的一端与所述芯片的接地端连接，所述第二电路的另一端与第二电压输入端连接，所述第三电路的一端与所述芯片的接地端连接，所述第三电路的另一端接地连接，所述测试模块与所述第一二极管的阳极和所述第二二极管的阴极的连...

【技术特征摘要】
1.一种检测电路，基于芯片中的ESD保护电路，所述ESD保护电路包括第一二极管和第二二极管，所述第一二极管的阳极与所述第二二极管的阴极连接，所述第一二极管的阴极与所述芯片的供电端连接，所述第二二极管的阳极与所述芯片的接地端连接，其特征在于，所述检测电路包括：第一电路、第二电路、第三电路以及测试模块，所述第一电路的一端与所述芯片的供电端连接，所述第一电路的另一端与第一电压输入端连接，所述第二电路的一端与所述芯片的接地端连接，所述第二电路的另一端与第二电压输入端连接，所述第三电路的一端与所述芯片的接地端连接，所述第三电路的另一端接地连接，所述测试模块与所述第一二极管的阳极和所述第二二极管的阴极的连接节点连接。2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述测试模块包括：电阻以及FPGA单元；其中，所述FPGA单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：任维强，王志刚，
申请(专利权)人：珠海深圳清华大学研究院创新中心，
类型：新型
国别省市：广东,44