【技术实现步骤摘要】
用于探测器阵列法测量激光光斑的图像插值算法
本专利技术涉及图像处理
，特别是一种用于探测器阵列法测量激光光斑的图像插值方法。
技术介绍
对于远场环境下测量激光光斑时，通常的CCD镜头无法将完整的激光光斑区域完全覆盖，导致采集到的信息不完整。采用探测器点阵法，便可将探测靶面面积足够大，将较大面积的光斑信号完整的采集下来，同时该方法也是对光斑进行直接接触式测量，相较于间接测量法，其优势主要体现在测量的中间环节少，信噪比高，同时探测器的灵敏度高，响应性好，可以响应高速窄脉冲，做到精确测量激光脉冲的时序等信息。对于探测后的一系列探测器散点信号，需要用一定的方法将已有的信息转换为直观的图像进行观察分析，因此需要对原信号进行插值。图像插值算法，原本是用在计算机图像处理和计算机图形学中对已知的一幅图像进行缩放、旋转、剪切时，对已有的像素矩阵进行分析，依据一定的转换关系，从已知像素点的灰度值产生未知像素点的灰度值的过程。传统的插值方法侧重于图像的平滑，虽然取得了较好的视觉效果，但常常导致边缘模糊，于是近年来又出现了一些基于边缘的图像插值算法。在传统图像插值算法中，最近邻插值...
【技术保护点】
1.一种用于探测器阵列法测量激光光斑的图像插值方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，根据探测器探知的已有光斑的能量分布，初步确定光斑中心的位置以及水平垂直方向的尺寸；步骤2，通过光斑中心的水平和垂直方向取采样点，拟合得到高斯方程，生成理想高斯分布图像；步骤3，根据从原图像中获得的尺寸信息，对高斯分布图像以原图像的光斑中心为基准点，进行缩放变换，得到粗插值结果；所述原图像为已有光斑的能量分布图；步骤4，对原图像靠近中心的部分采用Lanczos算法进行插值，对离光斑中心较远的区域采用双线性插值法进行插值，得到精插值结果图像；步骤5，对步骤3及步骤4中得到的粗插值与精插值两幅图...
【技术特征摘要】
1.一种用于探测器阵列法测量激光光斑的图像插值方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，根据探测器探知的已有光斑的能量分布，初步确定光斑中心的位置以及水平垂直方向的尺寸；步骤2，通过光斑中心的水平和垂直方向取采样点，拟合得到高斯方程，生成理想高斯分布图像；步骤3，根据从原图像中获得的尺寸信息，对高斯分布图像以原图像的光斑中心为基准点，进行缩放变换，得到粗插值结果；所述原图像为已有光斑的能量分布图；步骤4，对原图像靠近中心的部分采用Lanczos算法进行插值，对离光斑中心较远的区域采用双线性插值法进行插值，得到精插值结果图像；步骤5，对步骤3及步骤4中得到的粗插值与精插值两幅图像结果进行简单加权融合，最终得到插值图像。2.根据权利要求1所述的确定光斑中心位置，其特征在于，步骤1中使用灰度重心法对原图像像素进行处理，得到激光光斑的中心位置。3.根据权利要求1所述的确...
【专利技术属性】
技术研发人员：富容国，杨子昊，李培源，杨恒睿，钱芸生，刘磊，邱亚峰，张俊举，张益军，常本康，
申请(专利权)人：南京理工大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32
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