一种用于检测验钞图像传感器的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于检测验钞图像传感器的方法及装置，包括如下步骤：被测传感器和治具传感器均曝光，治具传感器采集反射校验纸张的第一面反射图像，被测传感器采集反射校验纸张的第二面反射图像；处理第一面反射图像信息得到第一反射指标，处理第二面反射图像信息得到第二反射指标；被测传感器曝光，治具传感器采集透射校验纸张的第一面透射图像，处理第一面透射图像得到第一透射发光指标；治具传感器曝光，被测传感器采集透射校验纸张的第二面透射图像，处理第二面透射图像得到第二透射发光指标；根据第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标以及预先设置的算法确定被测传感器的检测结果。所述装置用于实现所述方法。

Method and device for detecting image sensor of banknote checking

The invention discloses a method and a device for detecting a banknote image sensor, which comprises the following steps: both the measured sensor and the fixture sensor are exposed; the fixture sensor collects the first reflection image of the reflective checking paper; the measured sensor collects the second reflection image of the reflective checking paper; and the first reflection is processed. The first reflection index is obtained by processing the second reflection image information, and the second reflection index is obtained by processing the second reflection image information. The second transmission image of the paper is checked by shooting, and the second transmission luminescence index is obtained by processing the second transmission image. The detection result of the sensor is determined according to the first reflection index, the second reflection index, the first transmission index and the second transmission index and the preset algorithm. The device is used to implement the method.

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测验钞图像传感器的方法及装置
本专利技术属于传感器检测
，更具体地说，本专利技术涉及一种用于检测验钞图像传感器的方法及装置。
技术介绍
ATM自助设备上设置有验钞器，而验钞器主要是通过图像传感器采集纸币的图像信息来鉴别纸币的真伪。为了检测验钞器传感器的质量，主要有以下两种方案：方案一：通常使用采集人民币的方式，然后通过人工查看图像细节信息，确定人民币的纹理特征是否有缺失来评价验钞器的质量。还有使用不同验钞器，采集同一张纸币，横向对比图像，得出验钞器质量的评价。方案二：作为更进步的检验方式，制作相应治具，将传感器安装在白色光洁表面，利用传感器发光反射，再采集反射光图像，通过阈值判定来判定传感器品质。以上方案存在以下问题：方案一，验钞器图像传感器的质量靠人的主观判定。误差较大。方案一，方案二，依赖人工干预，效率比较低。方案一，依赖人民币的特征区域，检测区域不全。方案一，方案二都没有对透射光源进行合适的检测。只检测了反射光源。因此检测不全面。方案二，由于单面曝光采集，与实际使用情形并不一致，缺少透射光的影响。综上所述，检测验钞器传感器的质量的方法和装置还有待改进。
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对现有检测验钞器传感器的质量方法和装置存在的问题，提出一种用于检测验钞图像传感器的方法及装置，以在ATM机验钞图像传感器来料检验和生产过程中，更准确反映传感器特性以及合格判定，有利于图像传感器量产品质控制。第一方面，本专利技术实施方式提供一种用于检测验钞图像传感器的方法，所述方法包括如下步骤：被测传感器和治具传感器均曝光，治具传感器采集所述反射校验纸张的第一面反射图像，被测传感器采集所述反射校验纸张的第二面反射图像；处理所述第一面反射图像信息得到第一反射指标，处理所述第二面反射图像信息得到第二反射指标；被测传感器曝光，治具传感器采集所述透射校验纸张的第一面透射图像，处理所述第一面透射图像得到第一透射发光指标；治具传感器曝光，被测传感器采集所述透射校验纸张的第二面透射图像，处理所述第二面透射图像得到第二透射发光指标；根据所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标以及预先设置的算法确定被测传感器的检测结果。优选地，所述方法包括：所述反射校验纸张和透射校验纸张在介质更换组件控制下运动至测试位置。优选地，所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标均为线性度，其中线性度的计算依据如下公式：上式中，a、b、c和d表示4个任一的曝光时间百分比，VEp表示亮电压减去暗电压后的数值，VEpx表示曝光百分比为x时对应的VEp数值；所述预先设置的算法为：对比第一反射指标和第二反射指标，以及对比第一透射指标和第二透射指标，根据线性度重合程度确定被测传感器的检测结果。优选地，所述被测传感器和治具传感器均为图像传感器，其分别布置于所述反射校验纸张或所述透射校验纸张的第一面一侧和第二面一侧。优选地，所述被测传感器和治具传感器均上设置有LED灯，所述曝光为启动对应传感器上的LED灯进行亮灯发光。第二方面，本专利技术实施方式提供一种用于检测验钞图像传感器的装置，所述装置，所述装置包括治具传感器、反射校验纸张、透射校验纸张、图像处理单元和分析确定单元；所述治具传感器用于采集所述反射校验纸张的第一面反射图像和所述透射校验纸张的第一面透射图像，所述被测传感器用于采集所述反射校验纸张的第二面反射图像和所述透射校验纸张的第二面透射图像；所述图像处理单元用于处理所述第一面反射图像信息和第二面反射图像信息分别得到第一反射指标和第二反射指标，所述图像处理单元还用于处理所述第一面透射图像信息和第二面透射图像信息得到分别第一透射指标和第二透射指标；所述分析确定单元用于根据所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标以及预先设置的算法确定被测传感器的检测结果。优选地，所述装置包括设置有传动组件的介质更换组件，所述反射校验纸张和透射校验纸张设置于所述介质更换组件上的传动组件上，所述介质更换组件用于控制所述传动组件以将反射校验纸张和透射校验纸张运动至测试位置。优选地，所述传动组件包括气缸、滑轨和滑块，所述滑块设置于所述滑轨上，所述气缸用于驱动所述滑块运动以将反射校验纸张和透射校验纸张运动至测试位置。优选地，所述介质更换组件还设置有用于检测滑块的位置的光电传感器，根据所述光电传感器的检测结果确定介质更换组件运行状态。优选地，所述被测传感器和治具传感器均为图像传感器，其分别布置于所述反射校验纸张或所述透射校验纸张的第一面一侧和第二面一侧。优选地，所述被测传感器和治具传感器均上设置有LED灯，所述曝光为启动对应传感器上的LED灯进行亮灯发光。优选地，所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标均为线性度，其中线性度的计算依据如下公式：上式中，a、b、c和d表示4个任一的曝光时间百分比，VEp表示亮电压减去暗电压后的数值，VEpx表示曝光百分比为x时对应的VEp数值；所述预先设置的算法为：所述分析确定单元对比第一反射指标和第二反射指标，以及对比第一透射指标和第二透射指标，根据线性度重合程度确定被测传感器的检测结果。与现有技术相比，实施本专利技术具有以下有益效果：本专利技术实施方式方法及装置在进行图像传感器检测时充分考虑了纸币反射和透射因素，通过采集纸币的反射图像和透射图像，并利用图像处理软件进行分析采集到的图像，计算出被测传感器和治具传感器的线性度，并根据被测传感器和治具传感器的线性度综合分析判定被测图像传感器的质量，从而在ATM机验钞图像传感器来料检验和生产过程中，能够更准确反映传感器特性以及合格判定，有利于图像传感器量产品质控制。此外，由于验钞器通道宽度比纸币宽，而测试卡宽度大于纸币宽度，所以可以测试整个验钞器通道的宽度，使用图像处理软件直接给出测试结果，不以人的主观判定为依据，不仅能够定性分析，还可以定量分析。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施方式，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施方式，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术实施方式用于检测验钞图像传感器的方法流程图；图2为本专利技术实施方式用于检测验钞图像传感器的装置结构示意图。图中，治具传感器1，介质更换组件2，反射校验纸张21，透射校验纸张22，图像处理单元3，分析确定单元4，被测传感器安装部5。具体实施方式下面将结合本专利技术实施方式中附图，对本专利技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本专利技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施方式的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施方式。基于本专利技术的实施方式，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本专利技术保护的范围。如图1所示，本专利技术实施方式提供一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测验钞图像传感器的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：被测传感器和治具传感器均曝光，治具传感器采集所述反射校验纸张的第一面反射图像，被测传感器采集所述反射校验纸张的第二面反射图像；处理所述第一面反射图像信息得到第一反射指标，处理所述第二面反射图像信息得到第二反射指标；被测传感器曝光，治具传感器采集所述透射校验纸张的第一面透射图像，处理所述第一面透射图像得到第一透射发光指标；治具传感器曝光，被测传感器采集所述透射校验纸张的第二面透射图像，处理所述第二面透射图像得到第二透射发光指标；根据所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标以及预先设置的算法确定被测传感器的检测结果。

【技术特征摘要】
1.一种用于检测验钞图像传感器的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：被测传感器和治具传感器均曝光，治具传感器采集所述反射校验纸张的第一面反射图像，被测传感器采集所述反射校验纸张的第二面反射图像；处理所述第一面反射图像信息得到第一反射指标，处理所述第二面反射图像信息得到第二反射指标；被测传感器曝光，治具传感器采集所述透射校验纸张的第一面透射图像，处理所述第一面透射图像得到第一透射发光指标；治具传感器曝光，被测传感器采集所述透射校验纸张的第二面透射图像，处理所述第二面透射图像得到第二透射发光指标；根据所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标以及预先设置的算法确定被测传感器的检测结果。2.根据权利要求1所述的一种用于检测验钞图像传感器的方法，其特征在于，所述方法包括：所述反射校验纸张和透射校验纸张在介质更换组件控制下运动至测试位置。3.根据权利要求1所述的一种用于检测验钞图像传感器的方法，其特征在于，所述第一反射指标、第二反射指标、第一透射指标和第二透射指标均为线性度，其中线性度的计算依据如下公式：上式中，a、b、c和d表示4个任一的曝光时间百分比，VEp表示亮电压减去暗电压后的数值，VEpx表示曝光百分比为x时对应的VEp数值；所述预先设置的算法为：对比第一反射指标和第二反射指标，以及对比第一透射指标和第二透射指标，根据线性度重合程度确定被测传感器的检测结果。4.根据权利要求1所述的一种用于检测验钞图像传感器的方法，其特征在于，所述被测传感器和治具传感器均为图像传感器，其分别布置于所述反射校验纸张或所述透射校验纸张的第一面一侧和第二面一侧。5.根据权利要求1所述的一种用于检测验钞图像传感器的方法，其特征在于，所述被测传感器和治具传感器均上设置有LED灯，所述曝光为启动对应传感器上的LED灯进行亮灯发光。6.一种用于检测验钞图像传感器的装置，其特征在于，所述装置包括治具传感器、反射校验纸张、透射校验纸张、图像处理单元和分析确定单元；所述治具传感器用于采集所述反射校验纸张的第一面反射图像和所述透射校验纸张的第一面透射图像，所述被测传感器用于采集所述反射校验纸张的第二面反射图...

【专利技术属性】
技术研发人员：张新宇，
申请(专利权)人：深圳怡化电脑股份有限公司，深圳市怡化时代科技有限公司，深圳市怡化金融智能研究院，
类型：发明
国别省市：广东,44