The invention discloses a spectral line bending correction system of a VPH transmission spectrometer, which comprises an incident slit, a collimating lens group, a VPH grating, a focusing lens group and a CCD. The incident light enters the VPH transmission spectrometer through the incident slit, is collimated by the collimating lens group, and then is diffracted by the VPH grating, and the diffraction light focusing lens is focused to the CCD imaging unit. According to a particular optical system, a bending slit is designed by calculation, and the bending incident slit is used to compensate the spectral line bending caused by the whole system, thereby realizing the correction of spectral line bending of the spectrometer. This method is simple and effective, will not affect the performance of the instrument, will not add additional data processing burden to the user, from the source of the system design to solve the spectral line bending problem, can be used for practical detection requirements.
【技术实现步骤摘要】
一种VPH透射式光谱仪的谱线弯曲校正系统
本专利技术涉及光谱
，尤其涉及一种VPH透射式光谱仪的谱线弯曲校正方法。
技术介绍
成像光谱仪是一种用来获取目标二维空间信息和光谱信息的仪器，在各个领域都得到了广泛的应用。体全息光栅(VPH)相对于常规的反射式衍射光栅，具有最大的衍射效率极低的杂散光，利用VPH光栅结合透镜系统研制的成像光谱仪，相对于其它成像光谱仪而言，具有更高的成像质量和探测效率，其应用也越来越广泛，比如检测ITER中的Dα等离子体谱、拉曼光谱检测等等。然而对于成像光谱仪，由于其本身的光学特性，导致从入射狭缝出来的光成像到CCD上后不在是一条垂直线，在偏离中心位置处的光斑和偏离原来的主光路，导致谱线呈现出弯曲。这种谱线弯曲不仅会影响系统的光谱分辨率和空间分辨率，而且会对用户的数据处理造成很大的麻烦。针对这种谱线弯曲，传统的方法是对面阵CCD的每一列进行波长标定，从而得到整个面阵区域各个像素的波长信息，或者是通过标定相连间隔几列的标定公式，通过差值得到整个面阵区域的波长信息，但是这种方法都不能从根本上校正谱线弯曲，也有通过增加棱镜光栅的方式来校正谱线...
【技术保护点】
1.一种VPH透射式光谱仪的谱线弯曲校正系统，其特征在于：系统包括系统包括入射狭缝(20)、准直透镜组(30)、VPH光栅(10)、聚焦透镜组(40)以及CCD(50)，入射光经入射狭缝进入到VPH透射式光谱仪，经过准直透镜组准直，然后经VPH光栅衍射分光，衍射光聚焦镜聚焦至CCD成像单元，入射光经过光栅衍射聚焦满足以下公式：Νmλ＝cos(γ)(sin(α+φ1)+sinβ)，其中α为光栅入射角，β为光栅衍射角，φ1为入射狭缝水平方向偏离主光轴角度，γ为入射狭缝垂直方向与主光轴夹角，N为光栅线密度，λ为入射光波长，m为光栅衍射级次。
【技术特征摘要】
1.一种VPH透射式光谱仪的谱线弯曲校正系统，其特征在于：系统包括系统包括入射狭缝(20)、准直透镜组(30)、VPH光栅(10)、聚焦透镜组(40)以及CCD(50)，入射光经入射狭缝进入到VPH透射式光谱仪，经过准直透镜组准直，然后经VPH光栅衍射分光，衍射光聚焦镜...
【专利技术属性】
技术研发人员：李朝阳，吴华峰，安宁，徐勇，
申请(专利权)人：安徽创谱仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽,34
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。