自动测量仪及其方法技术

本发明专利技术涉及光学影像测量技术领域，具体是涉及一种自动测量仪及其方法。本发明专利技术的自动测量仪，包括：测量框架、光源、取像元件、存储单元、图像处理单元及显示单元。所述测量方法，包括步骤：在存储单元中存储标准产品的图像；将待测产品放置于光源上方；取像元件采集待测产品的图像；图像处理单元比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；显示单元显示测试结果。本发明专利技术的自动测量仪及其方法，无需再对待测产品捕捉点进行重新测量，即使产品位置有偏差，依然能方便、快速地测量，测量效率高。

【技术实现步骤摘要】
自动测量仪及其方法
本专利技术涉及光学影像测量
，具体是涉及一种自动测量仪及其方法。
技术介绍
光学影像测量仪是一种非接触式的测量设备，具有快速高效的优点。目前市场上最常见的为二次元光学影像测量仪，测量产品的长、宽等基本尺寸以及其包含的孔或凹槽等其他几何尺寸。目前市场上常见的光学影像测量仪，需要在测量框架上固定定位治具，在定位治具上找基准，然后再在定位治具上放置产品，根据基准沿着产品捕捉点进行测量。然而，该种光学影像测量仪，再次测量相同的产品时，产品放置位置需要同前次相同，不能有偏差，若有偏差，则不能捕捉点进行测量，对测量工作带来了不便，影响了测量效率。有鉴于此，实有必要开发一种自动测量仪，以解决上述再次测量时不能有位置偏差，测量效率低的问题。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种自动测量仪，该自动测量仪在再次测量相同的产品时，即使产品位置有偏差，依然能方便、快速地测量，测量效率高。为了达到上述目的，本专利技术的自动测量仪，包括：测量框架，其具有测量平台放置待测产品；光源，其设于测量平台上，待测产品位于光源上方；取像元件，位于待测产品的上方，采集待测产品的图像；存储单元，存储标准产品的图像；图像处理单元，与取像元件及存储单元连接，比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；显示单元，与图像处理单元连接，显示测试结果。可选的，所述测量平台的测量范围为500×700mm。可选的，所述光源为偏振光源。可选的，所述取像元件为千兆以太网工业相机。可选的，所述显示单元为液晶显示屏。可选的，所述测量框架上方设有活动的支撑架，所述支撑架具有两竖轴及连接在两竖轴之间的横轴，所述取像元件活动设于横轴上。可选的，所述横轴上设有可上下活动的连接轴，所述取像元件设于该连接轴上，且连接轴上设有镭射测量仪测量产品的高度。另外，本专利技术还提供一种自动测量方法，包括步骤：在存储单元中存储标准产品的图像；将待测产品放置于光源上方；取像元件采集待测产品的图像；图像处理单元比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；显示单元显示测试结果。可选的，在存储单元中存储标准产品的图像的具体步骤为：将标准产品放置于光源上方；取像元件采集标准产品的图像；取像元件将标准产品的图像传送至存储单元中存储；取像元件将标准产品的图像传送至图像处理单元，进行计算尺寸。相较于现有技术，本专利技术的自动测量仪及测量方法，通过将标准产品的图像存储于存储单元中，再次测量相同的待测产品时，只需将取像元件采集到的待测产品的图像与存储单元中的标准图像做对比，即可得出待测产品是否符合标准，而无需再对待测产品捕捉点进行重新测量，即使产品位置有偏差，依然能方便、快速地测量，测量效率高。【附图说明】图1绘示本专利技术的自动测量仪的方框图。图2绘示本专利技术的自动测量仪的结构示意图。图3绘示本专利技术的自动测量仪的一工作状态的结构示意图。图4绘示本专利技术的自动测量仪的另一工作状态的结构示意图。图5绘示本专利技术的自动测量方法的步骤流程图。【具体实施方式】请参阅图1至图4所示，其中图1绘示了本专利技术的自动测量仪的方框图，图2绘示了本专利技术的自动测量仪的结构示意图，图3绘示了本专利技术的自动测量仪的一工作状态的结构示意图，图4绘示了本专利技术的自动测量仪的另一工作状态的结构示意图。于本实施例中，本专利技术的自动测量仪，用于测量产品，所述自动测量仪包括：测量框架100，其具有测量平台101放置待测产品102，所述测量平台101的测量范围可为500×700mm；光源200，其设于测量平台101上，所述光源200可为偏振光源，待测产品102位于光源200上方；取像元件201，位于待测产品102的上方，光源200发出的光经待测产品102后反射或透射后进入该取像元件201，取像元件201采集待测产品102的图像，该取像元件201可为千兆以太网工业相机；存储单元202，存储标准产品的图像，该标准产品的图像可经由标准产品放置于光源200上方，取像元件201采集图像后存储于该存储单元202中；图像处理单元203，与取像元件201及存储单元202连接，比对取像元件201采集的图像与存储单元202中存储的标准产品的图像，获得测试结果，若比对结果一致则测试结果为PASS，反之则为FAIL；显示单元204，与图像处理单元203连接，显示测试结果PASS或FAIL，所述显示单元204为液晶显示屏。请再次参阅图2至图4所示，所述测量框架100上方设有活动的支撑架，所述支撑架具有两竖轴103及连接在两竖轴103之间的横轴104，所述取像元件201活动设于横轴104上。由于，测试待测产品102时，放置位置会存有偏差，由此，通过移动支撑架，方便地调节取像元件201的位置，使取像元件201调节到合适的位置，提高测量效率和精度。其中，所述横轴104上设有可上下活动的连接轴105，所述取像元件201设于该连接轴105上，且连接轴105上设有镭射测量仪测量待测产品102的高度，由此，能够测量产品的长、宽及高的基本尺寸，达到了2.5次元测量的效果。请参阅图5所示，图5绘示了本专利技术的自动测量方法的步骤流程图。本专利技术还提供一种自动测量方法，所述测量方法包括以下步骤：步骤S101：在存储单元202中存储标准产品的图像，具体步骤为将标准产品放置于光源200上方；取像元件201采集标准产品的图像；取像元件201将标准产品的图像传送至存储单元202中存储；取像元件201还可将标准产品的图像传送至图像处理单元203，进行计算尺寸；步骤S102：将待测产品102放置于光源200上方，放置该待测产品102时在测量范围内允许存在偏差；步骤S103：光源200发出的光经待测产品102后反射或透射后进入取像元件201，取像元件201采集待测产品102的图像；步骤S104：图像处理单元203比对取像元件201采集的图像与存储单元202中存储的标准产品的图像，获得测试结果，若比对结果一致则测试结果为PASS，反之则为FAIL；步骤S105：显示单元204显示测试结果PASS或FAIL。相较于现有技术，本专利技术的自动测量仪及测量方法，通过将标准产品的图像存储于存储单元202中，再次测量相同的待测产品102时，只需将取像元件201采集到的待测产品102的图像与存储单元202中的标准图像做对比，即可得出待测产品102是否符合标准，而无需再对待测产品102捕捉点进行重新测量，即使产品位置有偏差，依然能方便、快速地测量，测量效率高。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动测量仪，其特征在于，包括：测量框架，其具有测量平台放置待测产品；光源，其设于测量平台上，待测产品位于光源上方；取像元件，位于待测产品的上方，采集待测产品的图像；存储单元，存储标准产品的图像；图像处理单元，与取像元件及存储单元连接，比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；显示单元，与图像处理单元连接，显示测试结果。

【技术特征摘要】
1.一种自动测量仪，其特征在于，包括：测量框架，其具有测量平台放置待测产品；光源，其设于测量平台上，待测产品位于光源上方；取像元件，位于待测产品的上方，采集待测产品的图像；存储单元，存储标准产品的图像；图像处理单元，与取像元件及存储单元连接，比对取像元件采集的图像与存储单元中存储的标准产品的图像，获得测试结果；显示单元，与图像处理单元连接，显示测试结果。2.根据权利要求1所述的自动测量仪，其特征在于，所述测量平台的测量范围为500×700mm。3.根据权利要求1所述的自动测量仪，其特征在于，所述光源为偏振光源。4.根据权利要求1所述的自动测量仪，其特征在于，所述取像元件为千兆以太网工业相机。5.根据权利要求1所述的自动测量仪，其特征在于，所述显示单元为液晶显示屏。6.根据权利要求1所述的自动测量仪，其特征在于，所述测量框架...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢冬，
申请(专利权)人：汉达精密电子昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32