一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪制造技术

本发明专利技术公开了一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪，将Sagnac干涉仪中的一个平面反射镜替换为直角反射镜，光线经过直角反射镜反射后，在垂直纸面方向(Z方向)上产生一个偏移量，使经过干涉仪后出射的光线与入射光线偏离开，从而在干涉仪的分束器两端均可进行干涉信息的采集，具有双通道探测的特点。本发明专利技术的突出优点是完全利用了入射光能量，提高了系统的能量利用率，可以实现双通道同时探测。

A dual channel large aperture static interference imaging spectrometer

The invention discloses a dual-channel Large Aperture Static interferometric imaging spectrometer, in which a plane reflector in Sagnac interferometer is replaced by a right-angle reflector. After the light is reflected by the right-angle reflector, an offset is generated in the vertical paper direction (Z direction), so that the light emitted from the interferometer deviates from the incident light. Thus, interference information can be collected at both ends of the beam splitter of the interferometer, which has the characteristics of dual channel detection. The prominent advantage of the invention is that the incident light energy is fully utilized, the energy utilization ratio of the system is improved, and the dual channel simultaneous detection can be realized.

【技术实现步骤摘要】
一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪
本专利技术涉及光谱成像
，尤其涉及一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪。
技术介绍
干涉光谱成像技术通过获取被测目标的干涉强度信息，利用干涉图与光谱图之间的傅里叶变换关系，经过傅里叶变换等数据处理过程复原出目标的光谱信息，因此又称为傅里叶变换光谱成像技术。根据干涉图获取方式的不同，干涉光谱成像技术可以分为时间调制型、空间调制型以及时空联合调制型三种方式。时间调制型干涉光谱成像技术的干涉图是按时间序列获得的，通过干涉仪系统中动镜的运动，产生随时间变化的光程差，记录不同时刻不同光程差下的干涉强度获取目标的完整干涉图。典型的基于Michelson干涉仪的时间调制型干涉成像光谱仪方案中，通过干涉仪中动镜的移动获取目标的完整光程差干涉信息。由于系统中具有运动部件，干涉光路对运动部件的运动精度要求较高，相比于空间调制型干涉光谱成像技术稳定性较差，但是通过动镜的运动较容易实现大光程差即较高的光谱分辨率。空间调制型干涉光谱成像技术的干涉图是按空间序列获得的，系统中无运动部件，具有很好的稳定性。空间调制型干涉光谱成像技术的典型分光方案是以Sagnac干涉仪为分光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪，其特征在于，包括：准直镜、横向剪切干涉仪、第一与第二成像镜、第一与第二探测器，以及数据处理系统；其中：所述横向剪切干涉仪包括：分束器、平面反射镜和直角反射镜；物面S上的某点发出的光经过准直镜准直后成为平行光进入横向剪切干涉仪中，分束器将该平行光分为透射光和反射光两路，透射光依次经过平面反射镜与直角反射镜，在Z方向产生一个偏移量后返回分束器；反射光依次经过直角反射镜与平面反射镜，在Z方向产生一个偏移量后返回分束器；在分束器汇合后的两路光在Z方向的偏移量相同，在XY平面内产生一个横向剪切量h；两路相干光经过分束器再次分束后，一半能量在分束器下方出射，通过第一...

【技术特征摘要】
1.一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪，其特征在于，包括：准直镜、横向剪切干涉仪、第一与第二成像镜、第一与第二探测器，以及数据处理系统；其中：所述横向剪切干涉仪包括：分束器、平面反射镜和直角反射镜；物面S上的某点发出的光经过准直镜准直后成为平行光进入横向剪切干涉仪中，分束器将该平行光分为透射光和反射光两路，透射光依次经过平面反射镜与直角反射镜，在Z方向产生一个偏移量后返回分束器；反射光依次经过直角反射镜与平面反射镜，在Z方向产生一个偏移量后返回分束器；在分束器汇合后的两路光在Z方向的偏移量相同，在XY平面内产生一个横向剪切量h；两路相干光经过分束器再次分束后，一半能量在分束器下方出射，通过第一成像镜与第一探测器进行干涉光强度的探测；另一半能量在分束器左侧出射，通过第二成像镜与第二探测器进行干涉光强度的探测，从而实现双通道的同时探测；经过成像系统后在每一探测器上得到受干涉强度调制的目标点强度信息，每一探测器的不同位置处得到不同地物目标点的不同光程差信息，通过推扫成像和干涉图提取可以得到目标的完整干涉信息，最后通过数据处理系统进行光谱复原从而复原出原始光谱信息。2.根据权利要求1所述的一种双通道大孔径静态干涉成像光谱仪，其特征在于，直角反射镜由两片成90°夹角的平面反射镜组成，直角反射镜中两个平面镜的交线在纸面内，...

【专利技术属性】
技术研发人员：才啟胜，刘怡轩，黄旻，方煜，路向宁，韩炜，
申请(专利权)人：中国科学院光电研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11