一种多辐射单元天线测试箱及测试方法技术

本发明专利技术涉及一种多辐射单元天线测试箱及测试方法，包括测试箱主体和多个天线放置架，测试箱主体包括箱体和箱盖，箱盖用于打开或关闭测试箱主体，箱盖关闭后测试箱主体形成密封结构，天线放置架用于放置多辐射单元天线，天线放置架包括放置板和调节杆，调节杆与放置板垂直且下端固定在放置板上，调节杆与箱体活动连接，调节杆用于调节放置板的高度，测试箱主体上还设置有高度对比装置，高度对比装置用于显示天线放置架与箱体之间的相对高度的变化。本发明专利技术可以测试多辐射单元天线在竖直方向上的高度对天线性能的影响，天线的高度调节方便，相对高度读取直观，通过高度对比装置可以判断两个天线放置架是否处于同一水平位置，使用方便。

【技术实现步骤摘要】
一种多辐射单元天线测试箱及测试方法
本专利技术属于天线性能测试领域，具体涉及一种多辐射单元天线测试箱及测试方法。
技术介绍
现有的天线性能测试装置一般只能检测天线在水平方向上的位置对天线性能的影响，而不能测试天线在竖直方向上的高度对天线性能的影响，而且目前的天线测试装置一般都针对单环状天线，没有针对多辐射单元天线的测试设备。
技术实现思路
本专利技术的所要解决的技术问题是提供一种多辐射单元天线测试箱及测试方法。本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种多辐射单元天线测试箱，包括测试箱主体和多个天线放置架，所述天线放置架个数与天线的辐射单元数量相同，所述测试箱主体包括箱体和箱盖，所述箱盖用于打开或关闭测试箱主体，箱盖关闭后所述测试箱主体形成密封结构，所述天线放置架用于放置多辐射单元天线，所述天线放置架包括放置板和调节杆，所述调节杆与放置板垂直且下端固定在放置板上，所述调节杆与箱体活动连接，所述调节杆用于调节放置板的高度，所述测试箱主体上还设置有高度对比装置，所述高度对比装置用于显示天线放置架与箱体之间的相对高度的变化。进一步的，所述调节杆下半部分与箱体顶板螺纹连接，所述调节杆上半部分伸出箱体外且外表面竖直方向标有刻度线，所述刻度线用于显示放置板距离箱体的距离。进一步的，所述高度对比装置包括水平板和两块支撑板，所述水平板和两块支撑板组成π形，所述水平板与箱体上表面平行，所述支撑板用于将水平板固定在箱体上表面，所述水平板上开有多个通孔，所述调节杆上端穿过水平板上的通孔。进一步的，所述测试箱主体为亚克力材料制成。一种利用上述的多辐射单元天线测试箱进行测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1、将多个RFID标签放入测试箱主体底部，并将多辐射单元天线的多个辐射单元分别放在多个天线放置架上，将RFID阅读器放置在测试箱主体外部；步骤S2、调节天线放置架的高度为第一高度并记录第一高度的数值，利用RFID阅读器进行RFID标签读取，并记下读取到的标签数量为第一数量；步骤S2、调节天线放置架的高度为第二高度并记录第二高度的数值，利用RFID阅读器进行RFID标签读取，并记下读取到的标签数量为第二数量；步骤S3、重复进行步骤S2，得到多个天线放置架高度值和对应的RFID标签的读取数量，计算天线放置架的高度值和RFID标签的读取数量对应关系。本专利技术的有益效果为：本专利技术可以针对具有多个辐射单元的天线，测试天线在竖直方向上的高度对天线性能的影响，天线的高度调节方便，相对高度读取直观，通过高度对比装置可以判断两个天线放置架是否处于同一水平位置，使用方便。附图说明图1为本专利技术的立体结构示意图；图2为对称环状天线的结构示意图；附图中，各标号所代表的部件列表如下：1、箱体；2、箱盖；3、放置板；4、调节杆；5、水平板；6、支撑板；7、RFID阅读器具体实施方式以下结合附图对本专利技术的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本专利技术，并非用于限定本专利技术的范围。如图1所示，一种多辐射单元天线测试箱，包括测试箱主体和多个天线放置架，所述天线放置架个数与天线的辐射单元数量相同，所述测试箱主体包括箱体1和箱盖2，所述箱盖2用于打开或关闭测试箱主体，箱盖2关闭后所述测试箱主体形成密封结构，所述天线放置架用于放置多辐射单元天线，所述天线放置架包括放置板3和调节杆4，所述调节杆4与放置板3垂直且下端固定在放置板3上，所述调节杆4与箱体1活动连接，所述调节杆4用于调节放置板3的高度，所述测试箱主体上还设置有高度对比装置，所述高度对比装置用于显示天线放置架与箱体1之间的相对高度的变化。本实施例中，多辐射单元天线为具有两个辐射单元的对称环状天线，如图2所示，对称环状天线包括2个环形天线单元，辐射性能较普通单环形天线更好。所述调节杆4下半部分与箱体1顶板螺纹连接，所述调节杆4上半部分伸出箱体外且外表面竖直方向标有刻度线，所述刻度线用于显示放置板3距离箱体1的距离。所述高度对比装置包括水平板5和两块支撑板6，所述水平板5和两块支撑板6组成π形，所述水平板5与箱体1上表面平行，所述支撑板6用于将水平板5固定在箱体1上表面，所述水平板5上开有多个通孔，所述调节杆4上端穿过水平板5上的通孔。进一步的，所述测试箱主体为亚克力材料制成。一种利用上述的多辐射单元天线测试箱进行测试的方法，包括以下步骤：步骤S1、将箱盖打开，多个RFID标签放入测试箱主体底部，并将多辐射单元天线的多个辐射单元分别放在多个天线放置架上，再将箱盖关闭，将RFID阅读器放置在测试箱主体外部，同时将RFID阅读器与PC机相连；本实施例中，多辐射单元天线为具有两个辐射单元的对称环状天线，天线放置架个数与天线的辐射单元数量均为2个，使用时将对称环状天线的两端分别放在两个天线放置架上即可。步骤S2、调节天线放置架的高度为第一高度并记录第一高度的数值，利用RFID阅读器进行RFID标签读取，并利用PC机记下读取到的标签数量维第一数量；步骤S2、调节天线放置架的高度为第二高度并记录第二高度的数值，利用RFID阅读器进行RFID标签读取，并利用PC机记下读取到的标签数量为第二数量；步骤S3、重复进行步骤S2，得到多个天线放置架高度值和对应的RFID标签的读取数量，可以计算天线放置架的高度值和RFID标签的读取数量对应关系。本专利技术的测试对象为具有多个辐射单元的天线，可以调整多辐射单元天线距离测试箱顶板的距离，测试天线在竖直方向上的高度对天线性能的影响，通过转动调节杆即可进行天线放置架的高度调节，进而调节多辐射单元天线的高度，调节杆上半部分标有刻度且穿过水平板，相对高度读取直观，通过水平板即可判断两个天线放置架是否处于同一水平位置，使用方便。以上所述仅为本专利技术的较佳实施例，并不用以限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多辐射单元天线测试箱，其特征在于，包括测试箱主体和多个天线放置架，所述天线放置架个数与天线的辐射单元数量相同，所述测试箱主体包括箱体(1)和箱盖(2)，所述箱盖(2)用于打开或关闭测试箱主体，箱盖(2)关闭后所述测试箱主体形成密封结构，所述天线放置架用于放置多辐射单元天线，且所述天线放置架的高度可调节，所述测试箱主体上还设置有高度对比装置，所述高度对比装置用于显示天线放置架的相对高度的变化。

【技术特征摘要】
1.一种多辐射单元天线测试箱，其特征在于，包括测试箱主体和多个天线放置架，所述天线放置架个数与天线的辐射单元数量相同，所述测试箱主体包括箱体(1)和箱盖(2)，所述箱盖(2)用于打开或关闭测试箱主体，箱盖(2)关闭后所述测试箱主体形成密封结构，所述天线放置架用于放置多辐射单元天线，且所述天线放置架的高度可调节，所述测试箱主体上还设置有高度对比装置，所述高度对比装置用于显示天线放置架的相对高度的变化。2.根据权利要求1所述的多辐射单元天线测试箱，其特征在于，所述天线放置架包括放置板(3)和调节杆(4)，所述调节杆(4)与放置板(3)垂直且下端固定在放置板(3)上，所述调节杆(4)与箱体(1)顶板活动连接，所述调节杆(4)用于调节放置板(3)距离箱体(1)顶板的距离。3.根据权利要求2所述的多辐射单元天线测试箱，其特征在于，所述调节杆(4)下半部分与箱体(1)顶板螺纹连接，所述调节杆(4)上半部分伸出箱体外且外表面竖直方向标有刻度线，所述刻度线用于显示放置板(3)距离箱体(1)的距离。4.根据权利要求2所述的多辐射单元天线测试箱，其特征在于，所述高度对比装置包括水平板(5)和...

【专利技术属性】
技术研发人员：燕怒，李达，韩冬桂，沈程砚丹，彭亚文，李柏杨，杨婷，朱鑫，罗娟，
申请(专利权)人：武汉纺织大学，
类型：发明
国别省市：湖北,42