微粒测量装置及其数据处理方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及微粒测量装置及其数据处理方法。一种用于微粒测量装置的数据处理方法，包括：通过将光发射到流过流道的微粒上来检测从所述微粒产生的光的强度信息，其中，所述光通过检测装置来检测，所述检测装置的光接收表面被以格状方式分成区域A、区域B、区域C和区域D的四个区域，以及基于所述区域A和与所述区域A不相邻的所述区域C中的检测值的差分Δ1(A‑C)来处理所述强度信息。

【技术实现步骤摘要】
微粒测量装置及其数据处理方法本申请是申请号为2013800285014，申请日为2013年4月3日，专利技术创造名称为“微粒测量装置中的数据校正方法和微粒测量装置”的分案申请。
本技术涉及用于微粒测量装置的数据校正方法和微粒测量装置。更具体地，本技术涉及，例如用于微粒测量装置的数据校正方法，该方法用于校正由微粒在形成在流动池、微芯片等中的流道中的流动位置的变化所引起的测量误差。
技术介绍
已知的微粒测量装置形成包括形成在流动池、微芯片等中的流道中的微粒的层流(也称为鞘流)，将光发射在层流中的微粒上，并且检测从微粒产生的荧光和散射光。例如，流式细胞仪可以基于检测的荧光或者散射光的强度或者光谱测量和分析微粒的光学性能，诸如细胞和珠子。在微粒测量装置中，形成层流使得微粒基本上在流道的中心流动，但是每个微粒在流道中的流动位置改变，并且因此，由这个变化所引起的测量误差成问题。为了减小进行测量花费的时间，在包括层流中的微粒的样品液体层流的流动速率被配置为大于鞘液层流的流动速率时，微粒在流道中的流动位置的变化和由这个变化所引起的测量误差尤其大。在流道中的流动位置在微粒中改变时，微粒与用于微粒的光发射系统和从微粒产生的荧光和散射光的检测系统之间的光学而言的位置的关系在微粒中不同。因此，由光学位置的偏差所引起的测量误差出现在在每个微粒中检测的荧光和散射光的强度和光谱中。专利文献1和专利文献2公开了用于抑制由微粒的流动位置的变化所引起的测量误差的技术。在专利文献1中描述的流动微粒分析装置中，通过四分部光电二极管、区域CCD等检测经由光学分隔器从前向散射光、侧向散射光或者反向散射光重新得到(retrieved)的检测光(散射光)。然后，从检测位置检测到激发光的中心和鞘流的中心之间的位置的偏差，并调节流动池的位置使得位置的这个偏差停在预定的范围内。专利文献2描述通过使用在从微粒产生的散射光中出现的偏振角变化和调节激发光的焦点位置或者流动池的位置检测关于微粒的位置信息的技术。现有技术文献专利文献专利文献1：JP9-166541A专利文献2：JP2011-149822A
技术实现思路
本专利技术要解决的问题在从微粒产生的荧光作为光谱进行测量时，由于微粒的流动位置的变化导致的测量误差成问题。从微粒产生的荧光被使用分光器件，诸如棱镜和光栅镜分为光谱。然后，荧光的光谱通过具有以一维方式布置的PMT、光电二极管等的光接收器件阵列和诸如CCD和CMOS的二维光接收器件检测。在这时候，在微粒的流动位置改变时，入射到布置在光接收器件阵列或者二维光接收器件中的多个独立的检测流道之一上的荧光的波长范围可能在微粒中不同。更具体地，从微粒k投影在检测流道n上的荧光的波长范围是λk至λk+1时，从流道中的流动位置不同于微粒k的流动位置的从微粒l投影的荧光的波长范围是λl至λl+1，并且(λk，λk+1)和(λl，λl+1)的值可能是不同的。因此，检测每个微粒的荧光光谱可能涉及由入射到检测流道n上的荧光的波长范围的偏差所引起的测量误差。本技术的主要目的是提供能够通过有效地校正由于微粒在流道中的流动位置的变化而出现的测量误差来高度准确地测量荧光和散射光的强度和光谱的技术。问题的解决方案为了解决以上问题，本技术提供用于微粒测量装置的数据校正方法，包括：强度检测过程，能够通过将光发射(emit，照射)在流过流道的微粒上来检测从微粒产生的光，并获得关于光的强度信息；位置检测过程，能够获得关于微粒的位置信息；以及校正过程，用于基于位置信息校正强度信息。在数据校正方法中，在位置检测过程中，可以获得关于微粒在X轴方向上的位置信息和/或关于微粒在垂直于X轴方向和Y轴方向的Z轴方向上的位置信息作为位置信息，X轴方向是在微粒上的光的发射方向，Y轴方向是微粒的流动方向。在数据校正方法中，在位置检测过程中，检测装置接收从由所述微粒产生的散射光中分离并被赋予了像散(astigmatism)的S偏振分量的光，并且获得所述S偏振分量在所述检测装置上的光接收位置作为所述位置信息。在数据校正方法中，在位置检测过程中，光接收表面被分为多个区域的检测装置可以用作检测装置。更具体地，光接收表面被以格状方式分为四个区域的检测装置用作检测装置，四个区域是区域A、区域B、区域C、和区域D。关于微粒在Z轴方向上的位置信息可以从区域A和与区域A不邻近的区域C中的检测值的差分Δ1(A-C)获得。此外，关于微粒在X轴方向上的位置信息可以从区域A和区域C中的检测值的和(A+C)与区域B和区域D中的检测值的和(B+D)之间的差分Δ2((A+C)-(B+D))获得。在数据校正方法中，在校正过程中，可以基于差分Δ1和/或差分Δ2校正强度信息。替代地，在校正过程中，可以仅提取关于差分Δ1和/或差分Δ2在预定的范围内的微粒的强度信息。在通过多个不同的波长区域检测从微粒产生的光和获得强度信息作为数据校正方法的强度检测过程中的关于光的光谱信息时，这个光谱信息可以基于校正过程中的位置信息校正。此外，本技术提供微粒测量装置包括：光照明单元，被配置为将光发射到流过流道的微粒上；光检测单元，被配置为检测从微粒产生的光；位置检测单元，被配置为获得关于微粒的位置信息；以及算术计算单元，被配置为基于位置信息校正通过光检测单元获得的关于从微粒产生的光的强度信息。在微粒测量装置中，位置检测单元可以包括：第一分光器件，被配置为将从微粒产生的散射光分离成S偏振分量和P偏振分量；S偏振检测装置，被配置为接收S偏振分量的光；以及像散器件，设置在第一分光器件和S偏振检测装置之间以便提供像散到S偏振分量，以及获得S偏振分量在S偏振检测装置上的光接收位置作为位置信息。在微粒测量装置中，S偏振检测装置、光接收表面可以被分为多个区域，和可以被以格状方式分为四个区域，四个区域是区域A、区域B、区域C、和区域D。在微粒测量装置中，算术计算单元可以基于以下校正强度信息：区域A和与区域A不相邻的区域C中的检测值的差分Δ1(A-C)，和/或区域A和区域C中的检测值的总和(A+C)与区域B和区域D中的检测值的总和(B+D)之间的差分Δ2((A+C)-(B+D))。替代地，算术计算单元可以仅提取关于区域A和与区域A不相邻的区域C中的检测值的差分Δ1(A-C)和/或区域A和区域C中的检测值的和(A+C)与区域B和区域D中的检测值的总和(B+D)之间的差分Δ2((A+C)-(B+D))在预定的范围内的微粒的强度信息。微粒测量装置可以进一步包括第二分光器件，被配置为使从微粒产生的光分离成散射光和荧光，以及光检测单元可以包括被配置为检测P偏振分量的P偏振检测装置和被配置为检测荧光的荧光检测装置。此外，微粒测量装置可以在光检测单元中包括被配置为使荧光分离的第三分光器件，和荧光检测装置可以布置有多个独立的光接收器件，光接收器件被配置为检测通过第三分光器件分离的荧光。在本技术中，“强度信息”包括关于通过任何给定的微粒检测的荧光的波长区域和波长区域中的荧光的强度的信息。更具体地，在从任何给定的微粒产生的荧光被引导至光接收器件和通过光接收器件检测的情形中，“强度信息”包括入射到光接收器件上的荧光的波长区域和波长区域中的荧光的强度的信息。因此，更具体地，“强度信息的校正”意指对于任何给定的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于微粒测量装置的数据处理方法，包括：通过将光发射到流过流道的微粒上来检测从所述微粒产生的光的强度信息，其中，所述光通过检测装置来检测，所述检测装置的光接收表面被以格状方式分成区域A、区域B、区域C和区域D的四个区域，以及基于所述区域A和与所述区域A不相邻的所述区域C中的检测值的差分Δ1(A‑C)来处理所述强度信息。

【技术特征摘要】
2012.06.06 JP 2012-1290801.一种用于微粒测量装置的数据处理方法，包括：通过将光发射到流过流道的微粒上来检测从所述微粒产生的光的强度信息，其中，所述光通过检测装置来检测，所述检测装置的光接收表面被以格状方式分成区域A、区域B、区域C和区域D的四个区域，以及基于所述区域A和与所述区域A不相邻的所述区域C中的检测值的差分Δ1(A-C)来处理所述强度信息。2.根据权利要求1所述的数据处理方法，进一步包括：基于所述区域A和所述区域C中的检测值的和(A+C)与所述区域B和所述区域D中的检测值的和(B+D)之间的差分Δ2((A+C)-(B+D))来处理所述强度信息。3.根据权利要求2所述的数据处理方法，其中，在所述处理中，仅提取关于所述差分Δ1和/或所述差分Δ2在预定范围内的所述微粒的所述强度信息。4.根据权利要求1至3中任一项所述的数据处理方法，其中，四分部光电二极管被用作所述检测装置。5.一种微粒测量装置，包括：光照明单元，被配置为将光发射到流过流道的微粒上；光检测单元，被配置为检测从所述微粒产生的光的强度信息；检测装置，被配置为检测所述光并且具有的光接收表面被以格状方式分成区域A、区域B、区域C和区域D的四个区域；以及算术计算单元，被配置为基于所述区域A和与所述区域A不相邻的所述区域C中的检测值的差分Δ1(A-C)来处理所述强度信息。6.根据权利要求5所述的微粒测量装置，其中，所述算术计算单元进一步基于以下来处理所述强度信息：所述区域A和所述区域C...

【专利技术属性】
技术研发人员：新田尚，今西慎悟，竹内太一，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：日本,JP