一种表面微粒分析仪制造技术

一种表面微粒分析仪，包括过滤器、气泵、激光传感器、电控单元以及可调节密封的取样装置，其中取样装置与气泵组成闭合的气路循环；取样装置的进气端管路上连通有过滤器，取样装置的出气端管路上连通有激光传感器；电控单元分别与激光传感器、电源及气泵连接，可实现对待检测样品的表面微粒进行固定式的密封隔离采样，有效排除了人为操作误差及环境干扰，且结构简单，易于操作，并且检测数据可进行初步均值分析、存储、打印及导出，便于后期处理。

A surface microparticle analyzer

The utility model relates to a surface particle analyzer, which comprises a filter, an air pump, a laser sensor, an electronic control unit and an adjustable sealing sampling device, wherein the sampling device and the air pump constitute a closed air circulation, and the inlet pipe of the sampling device is connected with a filter, and the outlet pipe of the sampling device is connected with a laser sensor. The electronic control unit is connected with the laser sensor, the power supply and the air pump separately, which can realize the fixed sealed and isolated sampling of the surface particles of the test sample, effectively eliminate the artificial operation error and environmental interference, and has the advantages of simple structure and easy operation, and the test data can be preliminarily analyzed, stored, printed and guided. It is convenient for later processing.

【技术实现步骤摘要】
一种表面微粒分析仪
本技术属于测试
，具体涉及一种表面微粒分析仪。
技术介绍
随着高科技工业的快速发展，污染物检测和量化要求现已变得很重要。例如，食品药品包装材料，医用无菌袋加工，精密微电子制造等均需对样品表面进行微粒检测，控制污染物含量及产品标准。同时为了控制生产过程中重要阶段的污染程度并将其最小化，经常采用“净室”。净室中规定并控制了其中的空气过滤、空气分布、公用设施、建筑材料、设备和操作过程，用以控制空气中粒子的浓度，使其满足适当空气中粒子清洁度等级。现有技术中通常采用如下方法及设备进行样品的表面微粒检测：1、紫外线或倾斜的白光用于目测检查技术。采用紫外光利用了特定有机粒子发出荧光的现象。有选择的，将白光以某个角度照射到测试表面上，以产生可见的反射。虽然白光技术比紫外光技术稍微敏感一些，但是它们都受到相同的限制。这些目测检查技术只能粗测表面状况。它们不能提供量化数据。并且，目测检查技术最多也只能检测大于20微米的粒子。因此，需要一种可以检测小于一微米的粒子的技术。2、通过将胶带片施加到测试表面上而将粒子由测试表面上移走。然后，通过将该胶带放置在显微镜下目测粒子数量而对胶带上的粒子人工计数。该技术可以检测大约5微米或更大的粒子。该技术的主要缺点在于十分费时，并且其灵敏度随操作者的不同而改变。3、第三种测量技术披露于如下相关公开专利文献：一种表面粒子检测器(CN01818705.6)包括：可在表面上滑动的扫描器探头，用于对通过的粒子计数的粒子计数器，和包括连接在扫描器探头和粒子计数器之间的一对管的导管。粒子计数器包括泵，该泵用于产生将来自表面的粒子通过扫描器和导管吸引到计数器然后再回到扫描器的气流。传感器测量气流流率，控制器基于感测的气流流率控制泵的速度。导管通过第一连接器与粒子计数器相连，该第一连接器包含电子标记，以识别连接到导管另一端的扫描器的类型。控制器响应检测的电子标记控制粒子计数器。粒子计数器还包括可拆卸的滤芯，其具有捕捉用于实验室分析的计数的粒子的过滤元件。通过技术特征的对比，申请人认为现有检测设备及检测方法在检测高进度检测需求的样品时均存在一定的缺陷，其中第三种测量技术中的公开专利采用扫描探头配合测量仪器，手持扫描探头并使其在待检测样品表面轻轻移动，对样品表面微粒进行抽取并在测量仪器内计数，该方案的缺陷在于手持扫密探头精确性及密封性较差，移动速度、探头贴合角度及密封性能均无法保证，同一样品的不同部位多次扫描测试后结果相差较大，无法满足高精密性要求，故申请人认为上述公开专利文献及现有测试方法及设备的技术方案与本专利申请方案的结构、方法与目的均不相同。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足之处，提供一种表面微粒分析仪，可实现对待检测样品的表面微粒进行固定式的密封隔离采样，有效排除了人为操作误差及环境干扰，且结构简单，易于操作，并且检测数据可进行初步均值分析、存储、打印及导出，便于后期处理。本技术的目的是通过以下技术方案实现的：一种表面微粒分析仪，包括分析仪壳体，还包括过滤器、气泵、激光传感器、电控单元以及可调节密封的取样装置，其中取样装置的进气端管路上连通有过滤器，取样装置的出气端管路上连通有激光传感器，且过滤器及激光传感器均与气泵连通，由气泵、过滤器、取样装置及激光传感器组成闭合的气路循环；电控单元分别与激光传感器、电源及气泵连接。在上述方案中，优选的技术方案为：取样装置包括样品台及取样块，其中样品台固定安装在分析仪壳体的顶部，该样品台上铰装取样块；取样块的末端制有定位凹槽，取样块底部制有通气凹槽，该通气凹槽内制有垂直穿透取样块的进气孔及出气孔；样品台的中部活动安装有与通气凹槽配合密封的弹簧板，样品台末端活动安装有顶块。在上述方案中，优选的技术方案为：样品台上制有限位凹槽，该限位凹槽内滑动穿装有多个导柱；导柱顶部与弹簧板固定连接，导柱中部套装有调整弹簧，导柱底部穿透样品台并螺纹连接有调节螺母。在上述方案中，优选的技术方案为：样品台底部固装有定位套筒，该定位套筒内部滑动穿装顶块；顶块上部穿透样品台并在定位凹槽内滑动支撑，顶块中部套装有支撑弹簧，顶块底部固装有定位螺栓。在上述方案中，优选的技术方案为：电控单元包括PLC控制器、电路板、电源及打印机，其中电源为PLC控制器、电路板及打印机供电；PLC控制器通过电路板与激光传感器、气泵及打印机连接。本技术的优点和有益效果是：本技术的表面微粒分析仪，可实现对待检测样品进行密闭的固定检测，防止人为操作误差以及环境中颗粒污染物的干扰，提高了检测精度及检测结果的可靠性，另外，本技术的取样装置，可通过顶块弹性支撑的取样块压盖在活动安装的弹簧板上部，进而实现在通气凹槽内形成密闭的取样空间，可防止外部环境中的颗粒污染物侵入，同时还可通过弹簧板与取样块压合力及压合角度的自动调整配合，实现对不同厚度及形状的样品进行密闭采样。另外，本技术的PLC控制器可实现对气泵、电源、打印机及激光传感器的实时控制，可对激光传感器采集的数据进行储存，可将采集的数据导出到外部PC或存储器上，便于后期测试数据的处理及分析。附图说明图1为本技术的立体图；图2为本技术的内部结构示意图(俯视)；图3为本技术的后视图；图4为本技术的取样装置立体图；图5为图4的侧视图(局部剖视)；图6为本技术的系统连接示意图。图中：1-分析仪壳体；2-取样装置；3-PLC控制器；4-打印机；5-控制电路板；6-气泵电路板；7-气泵；8-电源；9-过滤器；10-激光传感器；11-外接接口组件；12-取样块；13-样品池接头；14-手把；15-通气凹槽；16-样品台；17-弹簧板；18-定位套筒；19-顶块；20-限位凹槽；21-调节螺母；22-调整弹簧；23-导柱；24-支撑弹簧；25-定位螺栓；26-USB接口；27-数据接口；28-电源开关；29-进气孔；30-定位凹槽；31-出气孔。具体实施方式为能进一步了解本技术的内容、特点及功效，兹列举以下实施例，并配合附图详细说明如下。需要说明的是，本实施例是描述性的，不是限定性的，不能由此限定本技术的保护范围。一种表面微粒分析仪，包括分析仪壳体1，还包括过滤器9、气泵7、激光传感器10、电控单元以及可调节密封的取样装置2，其中取样装置的进气端管路上连通有过滤器，取样装置的出气端管路上连通有激光传感器，且过滤器及激光传感器均与气泵连通，由气泵、过滤器、取样装置及激光传感器组成闭合的气路循环；电控单元分别与激光传感器、电源8及气泵连接。在上述方案中，优选的技术方案为：取样装置包括样品台16及取样块12，其中样品台固定安装在表面微粒分析仪分析以壳体的顶部，该样品台上铰装取样块；取样块的末端制有定位凹槽30，取样块底部制有通气凹槽15，该通气凹槽内制有垂直穿透取样块的进气孔29及出气孔31；样品台的中部活动安装有与通气凹槽配合密封的弹簧板17，样品台末端活动安装有顶块19。在上述方案中，优选的技术方案为：样品台上制有限位凹槽20，该限位凹槽内滑动穿装有多个导柱23；导柱顶部与弹簧板固定连接，导柱中部套装有调整弹簧22，导柱底部穿透样品台并螺纹连接有调节螺母21。在上述方案中，优选的技术方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种表面微粒分析仪，包括分析仪壳体，其特征在于：还包括过滤器、气泵、激光传感器、电控单元以及可调节密封的取样装置，其中取样装置的进气端管路上连通有过滤器，取样装置的出气端管路上连通有激光传感器，且过滤器及激光传感器均与气泵连通，由气泵、过滤器、取样装置及激光传感器组成闭合的气路循环；所述电控单元分别与激光传感器、电源及气泵连接。

【技术特征摘要】
1.一种表面微粒分析仪，包括分析仪壳体，其特征在于：还包括过滤器、气泵、激光传感器、电控单元以及可调节密封的取样装置，其中取样装置的进气端管路上连通有过滤器，取样装置的出气端管路上连通有激光传感器，且过滤器及激光传感器均与气泵连通，由气泵、过滤器、取样装置及激光传感器组成闭合的气路循环；所述电控单元分别与激光传感器、电源及气泵连接。2.根据权利要求1所述的一种表面微粒分析仪，其特征在于：所述取样装置包括样品台及取样块，其中样品台固定安装在分析仪壳体的顶部，该样品台上铰装取样块；所述取样块的末端制有定位凹槽，取样块底部制有通气凹槽，该通气凹槽内制有垂直穿透取样块的进气孔及出气孔；所述样品台的中部活动安装有与通气凹槽配合密封的弹簧板，样品台...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡子平，高俊涛，吕寅，王晓庆，
申请(专利权)人：天津天河分析仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：天津,12