一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统技术方案

技术编号:19050382 阅读:31 留言:0更新日期:2018-09-29 11:06
本发明专利技术公开了一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统,包括:平铺展开模块,用于将待检测金属化薄膜平铺在检测平台;吹风模块,用于对待检测金属化薄膜进行吹风;激光发射模块,用于对待检测金属化薄膜发射激光;激光检测模块,用于检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光;警报模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,发出进行警示信息;标记模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,对待检测金属化薄膜进行标记。

【技术实现步骤摘要】
一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统
本专利技术涉及电容器
,尤其涉及一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统。
技术介绍
目前电容器在电力电子、通讯设施及轨道运输等领域应用广泛,随着科技水平的发展,电容器凭借其良好的电力性能和高可靠性,成为推动上述行业领域更新换代不可或缺的电子元件,其中薄膜电容器由于体积小、安全性高,极大的推动了电容器
的发展。现有技术中薄膜电容器的通用制法是将金属薄膜与聚乙酯、聚丙烯、聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜从两端重叠后,卷绕成圆筒状的金属化薄膜电极,然后放置到电容器外壳中,注入绝缘油和环氧树脂,再经过组装后得到薄膜电容器。金属化薄膜在蒸镀过程中会出现镀层厚薄不均、飞溅点、蛇纹、氧化层等缺陷,该类缺陷薄膜在卷绕成薄膜电极后容易出现损耗过大,产品质量难以控制,严重时甚至引发电容器爆炸。
技术实现思路
基于
技术介绍
存在的技术问题,本专利技术提出了一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统;本专利技术提出的一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统,包括:平铺展开模块,用于将待检测金属化薄膜平铺在检测平台;吹风模块,用于对待检测金属化薄膜进行吹风;激光发射模块,用于对待检测金属化薄膜发射激光;激光检测模块,用于检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光;警报模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,发出进行警示信息;标记模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,对待检测金属化薄膜进行标记。优选的,所述吹风模块,具体用于:通过垂直于检测平台且与待检测金属化薄膜同侧的风源对待检测金属化薄膜进行出风。优选的,所述激光发射模块和激光检测模块位于待检测金属化薄膜两侧且以待检测金属化薄膜形成对称。优选的,所述激光发射模块包括多个激光发射子模块,任意两个激光发射子模块的位置不相同。优选的,所述激光检测模块包括多个激光检测子模块,任意两个激光发射子模块的位置不相同。优选的,所述激光检测模块,具体用于:通过激光采集装置检测激光采集位置是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光。本专利技术中,平铺展开模块,用于将待检测金属化薄膜平铺在检测平台;吹风模块,用于对待检测金属化薄膜进行吹风;激光发射模块,用于对待检测金属化薄膜发射激光;激光检测模块,用于检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光;警报模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,发出进行警示信息;标记模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,对待检测金属化薄膜进行标记,如此,通过光的反射检测金属化薄膜是否存在厚度误差,当在检测到激光采集位置检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度质量较好,当在检测到激光采集位置未检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度异常,此时发出警示信息,并对发生异常的待检测金属化薄膜进行标记,具有有益的技术效果和显著的实用价值。附图说明图1为本专利技术提出的一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统的模块示意图。具体实施方式参照图1,本专利技术提出的一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统,包括:平铺展开模块,用于将待检测金属化薄膜平铺在检测平台。在具体方案中,通过机械或人工的方式将待检测金属化薄膜平整的铺在预设的光滑且洁净的检测平台上。吹风模块,用于对待检测金属化薄膜进行吹风,具体用于:通过垂直于检测平台且与待检测金属化薄膜同侧的风源对待检测金属化薄膜进行出风。在具体方案中,通过垂直于检测平台且与待检测金属化薄膜同侧的风源对待检测金属化薄膜进行吹风,一方面可以吹掉待检测金属化薄膜上的灰尘和杂质,避免灰尘和杂质影响光的反射,从而反射光的落点有影响;另一方面,通过吹风使待检测金属化薄膜与检测平台更加贴合,使待检测金属化薄表面更加平整,从而避免待检测金属化薄因为褶皱的存在导致反射光的落点出现误差。激光发射模块,用于对待检测金属化薄膜发射激光,所述激光发射模块包括多个激光发射子模块,任意两个激光发射子模块的位置不相同。在具体方案中,在多个激光发射位置预设激光发射器,同时发出激光对待检测金属化薄膜发射激光。激光检测模块,用于检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光所述激光发射模块和激光检测模块位于待检测金属化薄膜两侧且以待检测金属化薄膜形成对称,所述激光检测模块包括多个激光检测子模块,任意两个激光发射子模块的位置不相同,具体的,通过激光采集装置检测激光采集位置是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光。警报模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,发出进行警示信息。标记模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,对待检测金属化薄膜进行标记。在具体方案中,与多个激光发射位置预设的激光发射器一一对应设置激光收集器,激光收集器与激光发射器的位置经过待检测金属化薄膜的中心线呈轴对称,用以检测被待检测金属化薄膜反射的激光,当检测到对应的激光发射发射的激光时,说明金属化薄膜厚度质量较好。当在检测到激光采集位置未检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度异常,此时,发出警示信息提醒用户,并对发生异常的待检测金属化薄膜进行标记。本实施方式中,平铺展开模块,用于将待检测金属化薄膜平铺在检测平台;吹风模块,用于对待检测金属化薄膜进行吹风;激光发射模块,用于对待检测金属化薄膜发射激光;激光检测模块,用于检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光;警报模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,发出进行警示信息;标记模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,对待检测金属化薄膜进行标记,如此,通过光的反射检测金属化薄膜是否存在厚度误差,当在检测到激光采集位置检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度质量较好,当在检测到激光采集位置未检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度异常,此时发出警示信息,并对发生异常的待检测金属化薄膜进行标记,具有有益的技术效果和显著的实用价值。以上所述,仅为本专利技术较佳的具体实施方式,但本专利技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内,根据本专利技术的技术方案及其专利技术构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统,其特征在于,包括:平铺展开模块,用于将待检测金属化薄膜平铺在检测平台;吹风模块,用于对待检测金属化薄膜进行吹风;激光发射模块,用于对待检测金属化薄膜发射激光;激光检测模块,用于检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光;警报模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,发出进行警示信息;标记模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,对待检测金属化薄膜进行标记。

【技术特征摘要】
1.一种基于激光反射的薄膜厚度检测系统,其特征在于,包括:平铺展开模块,用于将待检测金属化薄膜平铺在检测平台;吹风模块,用于对待检测金属化薄膜进行吹风;激光发射模块,用于对待检测金属化薄膜发射激光;激光检测模块,用于检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光;警报模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,发出进行警示信息;标记模块,用于在激光检测模块未检测到激光时,对待检测金属化薄膜进行标记。2.根据权利要求1所述的基于激光反射的薄膜厚度检测系统,其特征在于,所述吹风模块,具体用于:通过垂直于检测平台且与待检测金属化薄膜同侧的风源对待检测金属化薄膜进行出风。3.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈忠友卫中科杜运朝方霞张锐
申请(专利权)人:宁国市裕华电器有限公司
类型:发明
国别省市:安徽,34

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