显示基板、显示面板和显示装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种显示基板、显示面板和显示装置。显示基板上设置显示区和位于显示区之外的至少一个走线区；显示基板包括衬底基板和位于衬底基板之上的多个连接结构，每个连接结构与对应的边缘信号端之间通过控制模块连接，连接结构、边缘信号端和控制模块均位于走线区，边缘信号端位于走线区的切割线处；控制模块用于在测试阶段导通，以使边缘信号端输出的测试信号输出至连接结构；以及在显示阶段断开，以使连接结构和对应的边缘信号端之间处于断开状态。本实用新型专利技术中，边缘信号端出现短路现象时，不同的连接结构上加载的显示信号之间不会相互干扰，从而避免了显示装置在显示时出现显示不良现象。

【技术实现步骤摘要】
显示基板、显示面板和显示装置
本技术涉及显示
，特别涉及一种显示基板、显示面板和显示装置。
技术介绍
在显示面板的生产过程中，显示母板制造完成后，会通过测试设备对显示母板进行测试(arraytest)。测试完成后，会沿切割线对显示母板进行切割以形成多个显示面板。由于切割线所在边缘位置的断面处存在导电残留物，容易造成切割线所在边缘位置出现短路，从而导致显示装置在显示时出现显示不良现象，例如非正常显示或者线不良。
技术实现思路
本技术提供一种显示基板、显示面板和显示装置，用于避免显示装置在显示时出现显示不良现象。为实现上述目的，本技术提供了一种显示基板，所述显示基板上设置显示区和位于显示区之外的至少一个走线区；所述显示基板包括衬底基板和位于所述衬底基板之上的多个连接结构，每个所述连接结构与对应的边缘信号端之间通过控制模块连接，所述连接结构、所述边缘信号端和所述控制模块均位于所述走线区，所述边缘信号端位于所述走线区的切割线处；所述控制模块用于在测试阶段导通，以使所述边缘信号端输出的测试信号输出至所述连接结构；以及在显示阶段断开，以使所述连接结构和对应的边缘信号端之间处于断开状态。可选地，所述控制模块包括第一开关管和第二开关管，所述第一开关管和所述第二开关管不同；所述第一开关管的控制极连接至所述边缘信号端，所述第一开关管的第一极连接至所述边缘信号端，所述第一开关管的第二极连接至所述连接结构；所述第二开关管的控制极连接至所述边缘信号端，所述第二开关管的第一极连接至所述边缘信号端，所述第二开关管的第二极连接至所述连接结构。可选地，所述第一开关管为N型MOS管，所述第二开关管为P型MOS管。可选地，所述控制模块包括第一开关管；所述第一开关管的控制极连接至所述边缘信号端，所述第一开关管的第一极连接至所述边缘信号端，所述第一开关管的第二极连接至对应的所述连接结构。可选地，所述第一开关管为N型MOS管。可选地，所述连接结构还连接至驱动电路；所述连接结构用于在所述显示阶段接收所述驱动电路输出的显示信号。可选地，所述连接结构为信号管脚。可选地，所述走线区的数量为一个或两个。为实现上述目的，本技术提供了一种显示面板，包括相对设置的对置基板和上述显示基板。可选地，所述显示面板包括液晶显示面板或者AMOLED显示面板。为实现上述目的，本技术提供了一种显示装置，包括上述显示面板。本技术具有以下有益效果：本技术提供的显示基板、显示面板和显示装置的技术方案中，每个连接结构与对应的边缘信号端之间通过控制模块连接，边缘信号端位于走线区的切割线处，控制模块用于在测试阶段导通以使边缘信号端输出的测试信号输出至连接结构，以及控制模块在显示阶段断开以使连接结构和对应的边缘信号端之间处于断开状态，边缘信号端出现短路现象时，不同的对连接结构上加载的显示信号之间不会相互干扰，从而避免了显示装置在显示时出现显示不良现象。附图说明图1为本技术实施例一提供的一种显示基板的结构示意图；图2a为实施例一中测试阶段的示意图；图2b为实施例一中显示阶段的示意图；图3为本技术实施例二提供的一种显示基板的结构示意图；图4a为实施例二中测试阶段的示意图；图4b为实施例二中显示阶段的示意图。具体实施方式为使本领域的技术人员更好地理解本技术的技术方案，下面结合附图对本技术提供的显示基板、显示面板和显示装置进行详细描述。图1为本技术实施例一提供的一种显示基板的结构示意图，如图1所示，显示基板上设置显示区和位于显示区之外的至少一个走线区。显示基板包括衬底基板1和位于衬底基板1之上的多个连接结构2，每个连接结构2与对应的边缘信号端3之间通过控制模块连接，连接结构2、边缘信号端3和控制模块均位于走线区，边缘信号端3位于走线区的切割线处。控制模块用于在测试阶段导通，以使边缘信号端3输出的测试信号输出至连接结构2；以及在显示阶段断开，以使连接结构2和对应的边缘信号端3之间处于断开状态。本实施例中，显示母板包括多个显示面板，每个显示面板包括相对设置的显示基板和对置基板。图1中仅示出了一个显示面板中的显示基板。显示母板制作完成后，可沿切割线对显示母板进行切割形成多个显示面板。图2a为实施例一中测试阶段的示意图，如图2a所示，在对显示母板进行切割之前的测试阶段，测试设备5用于对显示母板进行测试，测试完成后即可对显示母板进行切割以形成显示面板。如图2a所示，在测试阶段，每个显示面板的显示基板中的边缘信号端3均连接至测试设备5，此时控制模块导通，测试设备5通过边缘信号端3和导通的控制模块向连接结构2输出测试信号，以实现对显示母板中的显示面板进行测试。本实施例中，每个连接结构2均对应于一个控制模块，因此控制模块的数量可以为多个。而控制模块的具体结构可以为多种。本实施例中的图1、图2a和图2b中示出了两种控制模块，即控制模块41和控制模块42。其中，控制模块41包括第一开关管T1和第二开关管T2，第一开关管T1和第二开关管T2不同。第一开关管T1的控制极连接至边缘信号端3，第一开关管T1的第一极连接至边缘信号端3，第一开关管T1的第二极连接至连接结构2。第二开关管T2的控制极连接至边缘信号端3，第二开关管T2的第一极连接至边缘信号端3，第二开关管T2的第二极连接至连接结构2。具体地，第一开关管T1导通或者第二开关管T2导通，以使控制模块41导通。优选地，第一开关管T1为N型MOS管，第二开关管T2为P型MOS管。在测试阶段，若测试信号为高电平信号时，第一开关管T1导通，第二开关管T2断开，此时由于第一开关管T1导通，因此控制模块41导通；若测试信号为低电平信号时，第一开关管T1断开，第二开关管T2导通，此时由于第二开关管T2导通，因此控制模块41导通。其中，控制模块42包括第一开关管T1。第一开关管T1的控制极连接至边缘信号端3，第一开关管T1的第一极连接至边缘信号端3，第一开关管T1的第二极连接至连接结构2。具体地，第一开关管T1导通，以使控制模块42导通。优选地，第一开关管T1为N型MOS管。在测试阶段，若测试信号为高电平信号时，第一开关管T1导通，此时由于第一开关管T1导通，因此控制模块42导通。图2b为实施例一中显示阶段的示意图，如图2b所示，在对显示母板进行切割形成显示面板之后，将驱动电路6与连接结构2连接，此时连接结构2还连接至驱动电路6，连接结构2用于在显示阶段接收驱动电路6输出的显示信号。本实施例中，优选地，连接结构2为信号管脚(bump)。在对显示母板进行切割形成显示面板之后，即在显示阶段，连接结构2接收驱动电路6输出的显示信号以使显示面板根据显示信号显示画面。显示信号可包括时序控制信号或者数据电压信号。图1、图2a和图2b以四个连接结构2为例进行描述，例如，从左至右，第一个连接结构2接收到的显示信号为时序控制信号为时钟(CK)信号，第二个连接结构2接收到的显示信号为控制总线(CB)信号，第三个和第四个连接结构2接收到的显示信号均为数据电压信号。接收数据电压信号的连接结构2的数量为多个，图中仅示出了两个。走线区的数量可以为一个或两个。本实施例中，优选地，走线区的数量为一个。在显示阶段，由于边缘信号端3均不再输出任何信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示基板，所述显示基板上设置显示区和位于显示区之外的至少一个走线区；其特征在于，所述显示基板包括衬底基板和位于所述衬底基板之上的多个连接结构，每个所述连接结构与对应的边缘信号端之间通过控制模块连接，所述连接结构、所述边缘信号端和所述控制模块均位于所述走线区，所述边缘信号端位于所述走线区的切割线处；所述控制模块用于在测试阶段导通，以使所述边缘信号端输出的测试信号输出至所述连接结构；以及在显示阶段断开，以使所述连接结构和对应的边缘信号端之间处于断开状态。

【技术特征摘要】
1.一种显示基板，所述显示基板上设置显示区和位于显示区之外的至少一个走线区；其特征在于，所述显示基板包括衬底基板和位于所述衬底基板之上的多个连接结构，每个所述连接结构与对应的边缘信号端之间通过控制模块连接，所述连接结构、所述边缘信号端和所述控制模块均位于所述走线区，所述边缘信号端位于所述走线区的切割线处；所述控制模块用于在测试阶段导通，以使所述边缘信号端输出的测试信号输出至所述连接结构；以及在显示阶段断开，以使所述连接结构和对应的边缘信号端之间处于断开状态。2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述控制模块包括第一开关管和第二开关管，所述第一开关管和所述第二开关管不同；所述第一开关管的控制极连接至所述边缘信号端，所述第一开关管的第一极连接至所述边缘信号端，所述第一开关管的第二极连接至所述连接结构；所述第二开关管的控制极连接至所述边缘信号端，所述第二开关管的第一极连接至所述边缘信号端，所述第二开关管的第二极连接至所述连接结构。3.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋学，王静，贺伟，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11