一种阵列基板、显示装置及测试方法制造方法及图纸

一种阵列基板、显示装置及测试方法，该阵列基板包括：第一信号线和第二信号线，所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开，且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。本实施例提供的阵列基板，为同一栅线提供独立两个独立的信号线，实现对栅线虚接的检测。

Array substrate, display device and test method

An array substrate, display device and test method comprising a first signal line and a second signal line, the first signal line and the second signal line are disconnected from each other, and the first signal line and the second signal line are coupled to different positions of the same grid line. The array substrate provided in the present embodiment provides two independent signal lines for the same grid line to realize the detection of the virtual connection of the grid line.

【技术实现步骤摘要】
一种阵列基板、显示装置及测试方法
本专利技术涉及电子技术，尤指一种阵列基板、显示装置及测试方法。
技术介绍
LCD(LiquidCrystalDisplay，液晶显示器)为平面超薄的显示设备，它由一定数量的彩色或黑白像素组成。目前液晶显示器是以薄膜晶体管(ThinFilmTransistor，TFT)液晶显示器为主，其制作过程可大致分为三部分：薄膜晶体管阵列(TFTArray)制备以及彩色滤光板制备、液晶显示单元组装(LCCellAssembly)制备、液晶显示模块(LiquidCrystalModule，LCM)制备。液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶盒进行测试(CellTest)，以确认液晶盒是否存在缺陷。CellTest简称ET，为液晶面板未贴附驱动芯片以及输入显示信号用的柔性电路板之前进行。该测试过程先是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-onTest)。随着显示领域发展，对产品的特性以及耐用性要求越来越高，更不能出现功能性不良，如X-line(亮线)，Open(断线)等问题。目前，LCD产品在ET点灯过程中很难有效拦截此类不良，导致后端模组资材浪费。更甚，不良产品流入客户端造成严重的损失。
技术实现思路
本专利技术至少一实施例提供了一种阵列基板面板和显示装置、测试方法，实现对不良的检测。为了达到本专利技术目的，本专利技术至少一实施例提供了一种阵列基板，包括：第一信号线和第二信号线，所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开，且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。本专利技术至少一实施例提供一种显示装置，包括任一实施例所述的阵列基板。本专利技术至少一实施例提供一种上述阵列基板的测试方法，包括：向所述第一信号线提供第一电压信号，向所述第二信号线提供与所述第一电压信号极性相反的第二电压信号。与相关技术相比，本专利技术一实施例提供的阵列基板包括第一信号线和第二信号线，所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开，且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。本实施例提供的阵列基板，为同一栅线提供独立两个独立的信号线，实现对栅线虚接的检测。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图用来提供对本专利技术技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本专利技术的技术方案，并不构成对本专利技术技术方案的限制。图1为Gate(栅)正常与虚接的示意图；图2为相关技术中ETpad(测试焊盘)走线示意图；图3为相关技术中一种GOA电路的结构图；图4为本专利技术一实施例提供的阵列基板示意图；图5为本专利技术另一实施例提供的阵列基板示意图；图6a为本专利技术另一实施例提供的阵列基板示意图；图6b为本专利技术另一实施例提供的阵列基板示意图；图7a为本专利技术另一实施例提供的阵列基板示意图；图7b为本专利技术另一实施例提供的阵列基板示意图；图7c为本专利技术另一实施例提供的阵列基板示意图；图8为本专利技术一实施例提供的GOA电路示意图；图9为本专利技术一实施例提供的GOA电路示意图；图10为本专利技术一实施例提供的测试方法流程图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本专利技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。图1为Gate(栅)正常与虚接的示意图。如图1所示，正常产品如图1中(a)图所示。异常产品在制程过程中出现如图1中(b)图圈出的连接异常，似连似断，虚接状态，此类产品往往不能在制程阶段有效拦截，到客户端产生不好的影响。针对上述不良，可以通过在同一栅线输入极性相反的信号，使得在线路虚接的位置出现发热情况并烧毁，之后再进行点灯测试，由于虚接位置已断开，对应的像素单元无法点亮，从而实现检测线路虚接情况，检出不良。图2为相关技术中panel(面板)ETpad(测试焊盘)走线示意图。相关技术中，使用GOA(GateDriverOnArray，阵列基板栅极驱动)技术，将栅极驱动电路制作在阵列基板上。图2中AA为显示区，显示区AA两侧设置有GOA电路(未示出)。GOA电路为TFT提供栅极驱动信号。GOA驱动包括两种，双边GOA驱动和单边GOA驱动。其中，双边驱动是指对应一行栅线，左右两侧具有一个GOA单元对其进行驱动，单边驱动是指只有一个GOA单元对一行栅线进行驱动，比如，一侧的GOA单元驱动奇数行栅线，另一侧的GOA单元驱动偶数行栅线。如图2所示，通过VGH走线和VGL走线为GOA单元施加VGH电压和VGL电压，其中VGH(高电平)和VGL(低电平)分别为TFT的开启电压和关断电压。相关技术中，为了达到点灯以及GOA驱动效果，在ET点灯时，VGH，VGL一边给信号。图3为相关技术中一种GOA电路的结构图。图3所示电路中，可以通过Reset信号拉高，将整体GOA输出信号(比如OUTPUT_N)变为VGL信号，但由于左侧和右侧输入的VGH或VGL信号一致，因此无法实现ET点灯时，左侧GOA单元和右侧GOA单元输出相反的栅极驱动信号至同一栅线，因此，相关技术中无法检出栅线虚接不良。实施例一如图4所示，本实施例提供一种阵列基板40，包括：第一信号线401和第二信号线402，所述第一信号线401和所述第二信号线402彼此断开，且所述第一信号线401和所述第二信号线402耦接至同一栅线403的不同位置。例如，所述第一信号线401和所述第二信号线402耦接至同一栅线403的不同位置包括：所述第一信号线401和所述第二信号线402耦接至同一栅线403的两端。需要说明的是，图中仅示出一条栅线，阵列基板40上有多条栅线，其余栅线类似，此处不再说明。本实施例中，通过两条彼此断开的信号线耦接至同一栅线，可以通过这两条信号线实现为同一栅线分别输入极性相反的不同信号，如果该栅线存在虚接，则虚接的位置出现发热情况并烧毁，暴露出该不良，之后再进行点灯测试，由于虚接位置已断开，对应的像素单元无法点亮，从而实现检测线路虚接情况，检出不良。在一实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种阵列基板，包括：第一信号线和第二信号线，所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开，且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，包括：第一信号线和第二信号线，所述第一信号线和所述第二信号线彼此断开，且所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置。2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的不同位置包括：所述第一信号线和所述第二信号线耦接至同一栅线的两端。3.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第一信号线和所述栅线之间包括第一阵列基板栅极驱动电路，所述第一信号线耦接至所述第一阵列基板栅极驱动电路的驱动信号输入端，所述第一阵列基板栅极驱动电路的驱动信号输出端耦接至所述栅线的一端，所述第二信号线和所述栅线之间包括第二阵列基板栅极驱动电路，所述第二信号线耦接至所述第二阵列基板栅极驱动电路的驱动信号输入端，所述第二阵列基板栅极驱动电路的驱动信号输出端耦接至所述栅线的另一端。4.如权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述第一信号线包括第一高电平驱动信号线和第一低电平驱动信号线至少之一，所述第一高电平驱动信号线和所述第一低电平驱动信号线耦接至所述第一阵列基板栅极驱动电路的驱动信号输入端，所述第一高电平驱动信号线用于输入高电平信号至所述第一阵列基板栅极驱动电路，所述第一低电平驱动信号线用于输入低电平信号至所述第一阵列基板栅极驱动电路，所述第二信号线包括第二高电平驱动信号线和第二低电平驱动信号线至少之一，所述第二高电平驱动信号线和所述第二低电平驱动信号线耦接至所述第二阵列基板栅极驱动电路的驱动信号输入端，所述第二高电平驱动...

【专利技术属性】
技术研发人员：张伟，王晓康，张寒，张文龙，辛利文，赵欣，韩帅，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11