The invention provides an array substrate and a display panel. The array substrate comprises a substrate, a substrate including a display area and a non-display area disposed outside the display area; at least one first metal line and at least one second metal line repaired by a broken line; the first metal line and the second metal line are laminated on the display area; and the detection device is disposed in a non-display area. In the display area, the detection device is electrically connected with the first metal wire and the second metal wire. The detection device detects the second metal wire by detecting the resistance value of the second metal wire and the resistance value between the first metal wire and the second metal wire. A detection device is set up in this scheme. By detecting the resistance value of the second metal wire and the resistance value between the first metal wire and the second metal wire, the success of repairing the broken wire of the second metal wire is determined, and the effectiveness of repairing the broken wire is improved.
【技术实现步骤摘要】
阵列基板以及显示面板
本专利技术涉及显示
，特别是涉及一种阵列基板以及显示面板。
技术介绍
薄膜晶体管(Thin-filmtransistor,TFT)液晶显示面板(Liquidcrystaldisplay,LCD)由于具有色彩度高、能耗低等优势，而在显示
中占据主流地位。TFT-LCD的制作过程包括阵列基板形成、液晶盒组装、模块组装等三大部分。其中阵列基板采用阵列制造工程制作，具体通过在玻璃基板上制备各层薄膜图形，完成包括薄膜晶体管在内的像素阵列。阵列基板中的薄膜包括金属薄膜，具体的包括扫描线的金属薄膜和数据线的金属薄膜。在阵列基板的制作过程中，由于设备运行、工艺环境、原材料材质等因素的影响，会产生工艺不良，影响产品的良品率，比如扫描线、数据线断线不良。因此，在阵列基板制作完成后，会对上述发生断线不良的扫描线、数据线进行修复。然而，在进行断线修复的过程中，可能会产生断线修复失败的情况，故需要提供一种断线修复检测机制，以确保阵列基板的良品率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种阵列基板以及显示面板，可以提高显示面板断线修复检测的有效性。本专利技术实...
【技术保护点】
1.一种阵列基板，其特征在于，包括：衬底，所述衬底包括显示区域，以及设置在所述显示区域外围的非显示区域；至少一条第一金属线以及至少一条经断线修复的第二金属线，所述第一金属线和所述第二金属线层叠设置在所述显示区域上；检测装置，所述检测装置设置在所述非显示区域上，所述检测装置与所述第一金属线和所述第二金属线电性连接，所述检测装置通过检测所述第二金属线的阻值，以及所述第一金属线和所述第二金属线之间的阻值，对所述第二金属线进行断线修复检测。
【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，其特征在于，包括：衬底，所述衬底包括显示区域，以及设置在所述显示区域外围的非显示区域；至少一条第一金属线以及至少一条经断线修复的第二金属线，所述第一金属线和所述第二金属线层叠设置在所述显示区域上；检测装置，所述检测装置设置在所述非显示区域上，所述检测装置与所述第一金属线和所述第二金属线电性连接，所述检测装置通过检测所述第二金属线的阻值，以及所述第一金属线和所述第二金属线之间的阻值，对所述第二金属线进行断线修复检测。2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述第一金属线和所述第二金属线两端均具有一衬垫，所述检测装置与所述衬垫连接。3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述检测装置包括多个探针、阻值测试单元以及连接所述探针、所述阻值测试单元的连接线；所述探针与对应的衬垫电性连接；所述阻值测试单元，用于通过所述探针对所述第二金属线的阻值进行测量，得到第一阻值，以及通过所述探针对所述第一金属线和所述第二金属线之间的阻值进行测量，得到第二阻值。4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述检测装置还包括；判断单元，用于对所述阻值测试单元测得的所述第一阻值和所述第二阻值进行判断，判断所述第一阻值是否小于预设阻值，所述第二阻值是否为无穷大；第一确定单元，用于在所述判断单元判断所述第一阻值不小于预设阻值，或所述第二阻值不为无穷大时，确定所述第二金属线断线修复失败；第二确定单元，用于在所述判断单元判断所述第一阻值小于预设阻值，且所述第二阻值为无穷大时，确定所述第二金属线断线修复成功。5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述检测装置还包括：显示单元，用于在所述第一确定单元确定所述第二金属线断线修复失败时，显示失败结果，以提示重新对所述第二金属线进行断线修复。6.一种显示面...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44
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