柔性基板的抗弯折性能评估方法技术

本发明专利技术涉及一种柔性基板的抗弯折性能评估方法。包括：取若干具有特征膜层的柔性基板作为待测试试样，得到若干待测试试样。将所述试样弯折一定次数。测试所述试样上的所述特征膜层的实际特征值。将实际特征值与预先得到的预设特征值进行比较，根据比较的结果评估试样的抗弯折性能。本发明专利技术的柔性基板抗弯折性能评估方法，能够直观准确的评估出柔性基板的抗弯折性能。

Evaluation method for flexural resistance of flexible substrates

The invention relates to an evaluation method for flexural resistance of flexible substrates. It includes: taking a number of flexible substrates with characteristic film as test samples, and getting a number of test samples. The specimen is bent for a certain number of times. The actual characteristic value of the characteristic film on the sample is tested. The actual eigenvalues are compared with the preset eigenvalues, and the bending properties of the specimens are evaluated according to the comparison results. The flexural performance evaluation method of the flexible substrate can directly and accurately evaluate the flexural performance of the flexible substrate.

【技术实现步骤摘要】
柔性基板的抗弯折性能评估方法
本专利技术涉及材料的力学性能的检测方法，特别是涉及柔性基板的抗弯折性能评估方法。
技术介绍
柔性材料在显示技术中的应用已成为显示行业中的重要发展方向。柔性基板可随意弯折的特性，使得柔性显示器件有着极为广阔的应用。因此，柔性基板需要能够承受反复弯折的考验。柔性材料在反复弯曲的作用下，材料会因疲劳而导致力学性能下降。所以柔性基板的弯折疲劳性能直接影响着显示器件的使用寿命。行业内需要公认的测试方法来便于行业内部能够对柔性基板的抗弯折性能进行评定，同时便于用户进行比较和选择。但是，目前并没有标准的测试柔性基板的抗弯折性能的方法。
技术实现思路
基于此，本专利技术提供一种柔性基板抗弯折性能评估方法，能够直观准确的评估出柔性基板的抗弯折性能。一种柔性基板的抗弯折性能评估方法，包括：取若干具有特征膜层的柔性基板作为待测试试样；将所述试样弯折一定次数；测试所述试样上的所述特征膜层的实际特征值；将所述实际特征值与预先得到的预设特征值进行比较，根据比较的结果评估所述试样的抗弯折性能。上述柔性基板的抗弯折性能评估方法，通过测试特征膜层的光谱特征变化来评估柔性基板的抗弯折性能。方法简单直观，准确率高，方便产品生产过程中的质量监控，可保证柔性基板具有良好的可靠性和稳定性。在其中一个实施例中，取至少一个所述待测试试样作为标准样本，将所述标准样本反复弯折，直至所述柔性基板已无法正常显示而失效；测试失效的所述标准样本的所述特征膜层的特征值，得到第一预设特征值。在其中一个实施例中，取至少一个所述待测试试样作为标准样本，将所述标准样本反复弯折，直至所述柔性基板上开始出现微裂纹；测试出现微裂纹的所述标准样本的所述特征膜层的特征值，得到第二预设特征值。在其中一个实施例中，将所述实际特征值和所述第二预设特征值进行比较；当所述实际特征值大于所述第二预设特征值时，所述柔性基板的抗弯折性能良好。在其中一个实施例中，所述实际特征值和所述第一预设特征值进行比较；当所述实际特征值小于所述第一预设特征值时，所述柔性基板的抗弯折性能不合格。在其中一个实施例中，当所述实际特征值大于所述第一预设特征值小于所述第二预设特征值时，所述柔性基板的抗弯折性能合格。在其中一个实施例中，所述特征值为所述特征膜层的吸光度、荧光强度、微观粒子数量中的一种或多种。在其中一个实施例中，所述特征膜层为量子点膜层，所述量子点膜层含有CdS、CdTe和CdSe粒子中的一种或多种。在其中一个实施例中，所述试样采用三点弯曲方式进行弯折测试；取所述试样的一个待测点作为受力点，在所述试样上取所述受力点两侧的任意两点为支撑点，两所述支撑点能够围绕所述受力点进行一定角度的弯曲，以形成两相等的弯矩，对所述试样施加弯曲应力。在其中一个实施例中，所述试样采用四点弯曲方式进行弯折测试；取所述试样的两个待测点作为受力点，分别在两个所述受力点两侧取任意两点为支撑点，两所述支撑点能够分别围绕最接近的所述受力点进行一定角度的弯曲，以形成两相等的弯矩，对所述试样施加弯曲应力。附图说明图1为本专利技术的一个实施例的柔性基板抗弯折性能评估方法的流程图；图2为本专利技术的一个实施例的待测试试样的截面结构示意图；图3为本专利技术的一个实施例的弯折测试示意图；图4为本专利技术的另一个实施例的柔性基板抗弯折性能评估方法的流程图。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本专利技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似改进，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。图1为本专利技术的一个实施例的柔性基板抗弯折性能评估方法的流程图。如图1所示，本专利技术的柔性基板抗弯折性能评估方法至少包括以下步骤：S100，取若干具有特征膜层的柔性基板作为待测试试样；特征膜层由具有光谱特征的材料制备得到，能够通过光谱分析得到柔性基板受到外力时，柔性基板本身性能的变化状况。本专利技术利用特征膜层的光谱特征来直观表征出柔性基板的抗弯折性能。图2是为本专利技术的一个实施例的待测试试样的截面结构示意图。参见图2，本专利技术的试样100至少包括柔性基板200和特征膜层210。在一个实施例中，特征膜层210可由量子点材料与有机材料混合制得。量子点材料可以是II-VI族或III-V族元素组成。量子点具有许多独特的光、电特性，特别是具有优良的光化学稳定性和光谱特征。所述量子点材料可以是CdS、CdTe和CdSe中的一种或多种。将上述量子点材料溶于有机试剂或树脂材料，制成可成膜材料，再将得到的量子点可成膜材料涂布在所述柔性基板的下表面处，固化后得到待测试的试样。在一个实施例中，树脂材料可以是环氧树脂。在一个实施例中，试样100还包括封装层220。在所述柔性基板200涂覆所述特征膜层后，可以在所述特征膜层的外层制备封装层220，用于隔绝环境中的水气和氧气，避免量子点层受到外部环境的侵蚀，对测试结果造成影响。所述封装层220可以采用四氟乙烯TFE或聚对苯二甲酸乙二醇酯PET，或是两种封装材料的组合。在一个实施例中，特征膜层210涂覆在所述柔性基板的弯折区的下表面处。在一个实施例中，柔性基板200可以为聚酰亚胺材料。在一个实施例中，柔性基板200上还可以附着有显示功能层230。所述显示功能层230是显示装置中能够实现显示功能的部分，所述显示功能层230可以包括但不限于薄膜发晶体管TFT阵列、有机发光二极管OLED，或是液晶层、发光二极管LED阵列等。S200，将所述试样弯折一定次数；将制备好的具有特征膜层210的试样100进行一定次数的重复弯折。图3为本专利技术的一个实施例的弯折测试的示意图；其中3(a)为三点弯曲测试的示意图；3(b)为四点弯曲测试的示意图。如图3所示，弯折测试可以采用三点弯曲或四点弯曲的方式进行。参见图3(a)，在一个实施例中，所述试样100采用三点弯曲的方式进行测试。取所述试样100的一个待测点作为受力点，在所述试样100上取所述受力点两侧的任意两点为支撑点，两所述支撑点能够围绕所述受力点进行一定角度的弯曲，以形成两相等的弯矩，对所述试样100施加弯曲应力。具体地，测试装置至少包括位于中心处的第一活动轴320，位于所述第一活动轴320两侧的第二活动轴310。可将试样100的中心处于测试装置的第一活动轴320的下方，将所述试样100的两端跨过两侧的第二活动轴310。在测试时，第一活动轴320为驱动轴，按照一定行程做上下往复运动，两侧的所述第二活动轴310固定不动。在一个实施例中，第一活动轴320向下移动至所述试样100呈夹角θ1处，停止向下运动，开始向上移动至初始位置处。第一活动轴320向下运动后向上回到初始位置的运动视为所述试样100完成一次弯折。在一个实施例中，所述试样100的弯折次数可根据实际测试要求决定。优选地，可以将所述试样100弯折10-100次。在一个实施例中，三点弯曲测试也可将所述第一活动轴320固定，移动两侧的所述第二活动轴310。测试时，两侧的第二活动轴320在水平方向上由两端匀速向靠近所述第一活动轴310的方向运动。当所述试样100的夹角达到θ1时，两侧的所述第二活本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种柔性基板的抗弯折性能评估方法，包括：取若干具有特征膜层的柔性基板作为待测试试样；将所述试样弯折一定次数；测试所述试样上的所述特征膜层的实际特征值；将所述实际特征值与预先得到的预设特征值进行比较，根据比较的结果评估所述试样的抗弯折性能。

【技术特征摘要】
1.一种柔性基板的抗弯折性能评估方法，包括：取若干具有特征膜层的柔性基板作为待测试试样；将所述试样弯折一定次数；测试所述试样上的所述特征膜层的实际特征值；将所述实际特征值与预先得到的预设特征值进行比较，根据比较的结果评估所述试样的抗弯折性能。2.根据权利要求1所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法，其特征在于，取至少一个所述待测试试样作为标准样本，将所述标准样本反复弯折，直至所述柔性基板已无法正常显示而失效；测试失效的所述标准样本的所述特征膜层的特征值，得到第一预设特征值。3.根据权利要求2所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法，其特征在于，取至少一个所述待测试试样作为标准样本，将所述标准样本反复弯折，直至所述柔性基板上开始出现微裂纹；测试出现微裂纹的所述标准样本的所述特征膜层的特征值，得到第二预设特征值。4.根据权利要求3所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法，其特征在于，将所述实际特征值和所述第二预设特征值进行比较；当所述实际特征值大于所述第二预设特征值时，所述柔性基板的抗弯折性能良好。5.根据权利要求3或4中任一项所述的柔性基板的抗弯折性能评估方法，其特征在于，所述实际特征值和所述第一预设特征值进行比较；当所述实际特征值小于所述第一预设特征值时，所述柔性基板的抗弯折性能不合格...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐义影，董勇杰，
申请(专利权)人：霸州市云谷电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：河北,13