一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，其包括探头主体和热电偶，在探头主体的下部开设有第一通孔，在探头主体的底端中部开设有与第一通孔连通设置的第二通孔，在探头主体的顶端中部开设有与第一通孔连通设置的中心孔；热电偶穿置在中心孔内，且热电偶的底端置于第一通孔内。优点：高温熔体可经第一通孔和第二通孔进入探头主体内部与热电偶接触，可有效缩短测温时间，探头主体可耐高温熔体腐蚀，进而延长使用寿命；沿中心孔圆周均匀分布的调节盲孔可以有效阻碍熔体热量通过探头主体向其内部传导，从而减慢探头主体中心区域和第一通孔内结晶体的升温熔化速度，使测量值更准确、稳定可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头
：本技术涉及冶金领域，具体地说涉及一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头。
技术介绍
：在电解槽实际运行过程中，由于间歇加料以及原料粒度不均匀等原因，电解槽电流和熔融电解质成分会发生波动，导致熔融电解质温度和初晶温度发生变化，过热度会增大或者减小，造成电耗增加以及降低电解效率，甚至降低电解槽寿命。因此，通过实时在线测量电解质温度和初晶温度，并将其反馈于槽控机的自动控制系统，可实时调节电解温度或者熔融电解质化学成分，以保持电解过程维持在一个理想的工况环境。温度检测探头是测量电解质温度和初晶温度的必要元件，但是，现有的温度探头存在探头材料易被高温熔体腐蚀、凝固在热电偶附近的固态电解质不易清理、测量温度不稳定、重复使用性差和使用寿命短等问题。
技术实现思路
：本技术的目的在于提供一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，以延长探头的使用寿命。本技术由如下技术方案实施：一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，其包括探头主体和热电偶，在所述探头主体的下部开设有水平设置的第一通孔，在所述探头主体的底端中部开设有与所述第一通孔连通设置的第二通孔，在所述探头主体的顶端中部开设有与所述第一通孔连通设置的中心孔；所述热电偶穿置在所述中心孔内，且所述热电偶的底端置于所述第一通孔内。进一步的，在所述探头主体内部开设有底端与所述第一通孔连通设置的锥形腔，所述热电偶的底端置于所述锥形腔内。进一步的，在所述探头主体顶部沿所述中心孔圆周方向开设有若干调节盲孔。进一步的，所述调节盲孔的孔底与所述锥形腔顶部之间的距离为h1，所述调节盲孔的孔底与所述锥形腔底部之间的距离为h2，h1：h2＝3:1。进一步的，所述第一通孔的中心线与所述探头主体的中心线垂直且相交，所述第二通孔的中心线与所述探头主体的中心线在一条直线上。进一步的，在所述探头主体的顶端边沿处开设卡槽。进一步的，所述探头主体采用石墨、碳化硅或氮化硅陶瓷任意一种材料制成。本技术的优点：高温熔体可经第一通孔和第二通孔进入探头主体内部与热电偶接触，可有效缩短测温时间，探头主体可耐高温熔体腐蚀，进而延长使用寿命；沿中心孔圆周均匀分布的调节盲孔可以有效阻碍熔体热量通过探头主体向其内部传导，从而减慢探头主体中心区域和第一通孔内结晶体的升温熔化速度，使测量值更准确、稳定可靠；探头主体由石墨、碳化硅或氮化硅陶瓷等润湿性差的材料制成，不易粘电解质，易于清理。附图说明：图1为本技术的整体结构示意图。图2为图1的俯视图。探头主体1、热电偶2、第一通孔3、第二通孔4、中心孔5、调节盲孔6、锥形腔7、卡槽8。具体实施方式：如图1和图2所示，一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，其包括探头主体1和热电偶2，在探头主体1的下部开设有水平设置的第一通孔3，在探头主体1的底端中部开设有与第一通孔3连通设置的第二通孔4，在探头主体1的顶端中部开设有与第一通孔3连通设置的中心孔5；热电偶2穿置在中心孔5内，且热电偶2的底端置于第一通孔3内；在探头主体1内部开设有底端与第一通孔3连通设置的锥形腔7，热电偶2的底端置于锥形腔7内；第一通孔3的中心线与探头主体1的中心线垂直且相交，第二通孔4的中心线与探头主体1的中心线在一条直线上；在探头主体1顶部沿中心孔5圆周方向开设有若干调节盲孔6，调节盲孔6的孔底与锥形腔7顶部之间的距离为h1，调节盲孔6的孔底与锥形腔7底部之间的距离为h2，h1：h2＝3:1；沿中心孔5圆周均匀分布的调节盲孔6可以有效阻碍熔体热量通过石墨块体向探头主体1内部传导，从而减慢探头主体1中心区域和第一通孔3内结晶体的升温熔化速度，使测量值更稳定可靠；探头主体1采用石墨、碳化硅或氮化硅陶瓷任意一种材料制成，本实施例中的探头主体1采用石墨制成。工作原理：首先，高温熔体从第一通孔3和第二通孔4进入锥形腔7内，热电偶2被加热，这个过程在温度-时间曲线上表现为温度迅速升高阶段；然后，进入锥形腔7顶端的电解质熔体被锥形腔7周围的探头主体1冷却，由于锥形腔7顶端的电解质熔体量少且与探头主体1接触面积大，该处电解质熔体的温度迅速降低并结晶成固体，这个过程在温度-时间曲线上表现为温度快速降低并趋于平稳变化阶段；接着，由于探头主体1被周围高温熔体加热，电解质结晶体开始吸热并逐渐熔化，温度缓慢升高，继而发生包晶反应出现液相以及液—固两相区，当全部固相熔化后温度迅速升高，在温度-时间曲线上形成明显的拐点，该点温度就是初晶温度；当温度继续升高并达到稳定时，对应的温度即为熔融电解质温度。此时结束测量，探头主体1以及热电偶2整体随测温装置升起离开熔融电解质，测温探头降温，等待进行下次测量。本技术所述的探头可与CN201720817394.9一种用于铝电解槽工艺参数检测的辅助装置联合使用，安装在CN201720817394.9中的探头固定管中，探头随探头固定机构进入或者离开高温电解质熔体,为了便于安装，可在探头主体1顶端边沿处开设卡槽8；当然，本技术所述的探头也可以与温度记录仪、温度显示仪表配合使用，使用时，只需将热电偶2通过补偿导线接入显示器即可。以上仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，其特征在于，其包括探头主体和热电偶，在所述探头主体的下部开设有水平设置的第一通孔，在所述探头主体的底端中部开设有与所述第一通孔连通设置的第二通孔，在所述探头主体的顶端中部开设有与所述第一通孔连通设置的中心孔；所述热电偶穿置在所述中心孔内，且所述热电偶的底端置于所述第一通孔内。

【技术特征摘要】
1.一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，其特征在于，其包括探头主体和热电偶，在所述探头主体的下部开设有水平设置的第一通孔，在所述探头主体的底端中部开设有与所述第一通孔连通设置的第二通孔，在所述探头主体的顶端中部开设有与所述第一通孔连通设置的中心孔；所述热电偶穿置在所述中心孔内，且所述热电偶的底端置于所述第一通孔内。2.根据权利要求1所述的一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，其特征在于，在所述探头主体内部开设有底端与所述第一通孔连通设置的锥形腔，所述热电偶的底端置于所述锥形腔内。3.根据权利要求2所述的一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，其特征在于，在所述探头主体顶部沿所述中心孔圆周方向开设有若干调节盲孔。4.根据权利要求3所述的一种用于检测熔盐电解槽熔融电解质温度参数的探头，其特征在于，所述调节盲孔的孔底与所述锥形腔顶部之间的距离为h1，所述调节盲孔的孔底与所述锥形腔底部之间的距离为h2，h1：h2＝3:1。5.根据权利要求1至...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵云驰，王云利，王魁汉，金建华，姜立群，董建，
申请(专利权)人：内蒙古金立科技有限公司，沈阳东大传感技术有限公司，
类型：新型
国别省市：内蒙古,15