电极帽的校验工具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种电极帽的校验工具，校验工具包括：板体和设置在板体边缘处的至少一卡槽；卡槽用于容置电极帽，该卡槽由板体的边缘向内凹陷形成；卡槽的内壁包括：面向槽口的底壁以及位于底壁两侧的侧壁；底壁向卡槽槽口方向突出形成校验凸台，校验凸台位于卡槽内，且该校验凸台面向槽口的至少一个面构成校验电极帽的工作面，工作面垂直于卡槽的侧壁。本实用新型专利技术的校验工具既可以校验电极帽端面的尺寸，又可以校验电极帽端面的平整度，其结构简单、易于操作，可以准确地校验修磨后的电极帽是否合格，从而避免因电极帽端面过大或过小导致的虚焊、弱焊、压痕过深等质量缺陷，或是因上下电极帽端面不平整导致的焊点扭曲的不良结果。

Checking tool for electrode cap

The utility model provides a calibration tool for an electrode cap, which comprises: a plate body and at least one chute disposed at the edge of the plate body; a chute for holding an electrode cap, the chute is formed from the edge of the plate body to an inward depression; the inner wall of the chute comprises a bottom wall facing the slot mouth and a side wall on both sides of the bottom wall; A checking convex platform is formed by protruding toward the slot opening of the card slot. The checking convex platform is located in the card slot, and the checking convex platform faces at least one face of the slot opening to form the working face of the checking electrode cap, and the working face is perpendicular to the side wall of the card slot. The calibration tool of the utility model can not only check the size of the end face of the electrode cap, but also check the flatness of the end face of the electrode cap. The structure of the calibration tool is simple and easy to operate. The calibration tool can accurately check whether the electrode cap after grinding is qualified, so as to avoid the virtual welding, weak welding and excessive indentation caused by the end face of the electrode cap being too large or too small. The defect of the solder joint is caused by the distortion of the solder joint due to the uneven face of the upper and lower electrode cap.

【技术实现步骤摘要】
电极帽的校验工具
本技术涉及测量工具的领域，特别涉及一种电极帽的校验工具。
技术介绍
电极帽在高强度的焊接作业中极易磨损，磨损后的电极帽直径会发生改变，而电极帽的直径会直接影响到相应的焊接参数。电极帽的直径发生偏差时，就需要进行修正。在点焊焊接工艺中，要求点焊机焊钳电极帽的修磨直径为6mm～8mm和8mm～10mm等范围。现有技术中电极帽的修磨基本依靠人工，操作者在修磨过程中无法用肉眼判断修磨的精度以及电极帽端面的平整度，容易造成电极帽直径不符合标准或电极帽端面不平整的情况，从而导致焊点尺寸的偏差，影响焊接质量，严重时甚至会导致虚焊、弱焊及焊点压痕过深的质量缺陷。
技术实现思路
本技术的目的在于解决现有技术中无法准确校验电极帽直径大小及端面的平整情况，导致焊接偏差，影响焊接质量的问题。为解决上述技术问题，本技术提供一种电极帽的校验工具，所述校验工具包括：板体和设置在所述板体边缘处的至少一卡槽；所述卡槽用于容置电极帽，该卡槽由所述板体的边缘向内凹陷形成；所述卡槽的内壁包括：面向槽口的底壁以及位于所述底壁两侧的侧壁；所述底壁向所述卡槽槽口方向突出形成校验凸台，所述校验凸台位于所述卡槽内，且该校验凸台面向槽口的至少一个面构成校验电极帽的工作面，所述工作面垂直于所述卡槽的侧壁。较优地，所述卡槽的数量为多个，相邻的两所述卡槽之间设有间隔。较优地，各所述卡槽槽口的宽度不完全相同。较优地，各所述卡槽用于校验的工作面的宽度不完全相同。较优地，所述工作面的宽度为5mm～12mm。较优地，所述校验凸台的工作面的一端至与其相邻的卡槽侧壁间的间距为第一间距，所述校验凸台的工作面的另一端至与其相邻的卡槽侧壁间的间距为第二间距，所述第一间距等于所述第二间距。较优地，所述校验凸台呈矩形。较优地，所述板体的外轮廓为矩形，所述卡槽设于所述板体的任意一边且该边与该卡槽内的校验凸台的工作面平行。较优地，所述校验工具还包括多个开设在所述板体上的圆孔，所述多个圆孔沿所述板体的长度方向间隔布置。较优地，所述多个圆孔的直径不同，且为6mm～12mm。由上述技术方案可知，本技术的有益效果为：本技术的校验工具既可以校验电极帽端面的尺寸，又可以校验电极帽端面的平整度，其结构简单、易于操作，可以准确地校验修磨后的电极帽是否合格，能够避免因电极帽端面过大或过小导致的虚焊、弱焊、压痕过深等质量缺陷，或是因上下电极帽端面不平整导致的焊点扭曲的不良结果，从而保证良好的焊接质量。附图说明图1是本技术电极帽的校验工具实施例的结构示意图。图2是图1中A处的局部放大图。附图标记说明如下：1、校验工具；11、板体；111、第一边；112、第二边；12、卡槽；121、底壁；122、侧壁；123、校验凸台；124、工作面；13、圆孔。具体实施方式体现本技术特征与优点的典型实施方式将在以下的说明中详细叙述。应理解的是本技术能够在不同的实施方式上具有各种的变化，其皆不脱离本技术的范围，且其中的说明及图示在本质上是当作说明之用，而非用以限制本技术。为了进一步说明本技术的原理和结构，现结合附图对本技术的优选实施例进行详细说明。本技术提供一种电极帽的校验工具，用于辅助校验修磨后的电极帽端面的尺寸及平整度。该校验工具包括板体和设置在板体边缘的至少一卡槽，卡槽由板体的边缘向内凹陷形成，可用于容置待校验的电极帽。参阅图1，本实施例板体11的外轮廓呈矩形，其包括一对相互平行的长边和一对相对相互平行的短边，且两个长边分别为第一边111和第二边112。需要说明的是，在其他一些较优的实施例中，板体11的外轮廓还可以是其他形状，如三角形、正方形或其他多边形等，在此不做过多的限定。板体11可以是具有一定厚度的板材直接裁剪而成，也可以由两块相同的薄板通过连筋连接而成，本实施例的板体11是由厚度为2mm的不锈钢板制成。不锈钢的材质较硬，不易发生变形和氧化腐蚀，可以确保校验工具1校验的精准度。本实施例的板体11上共设有七个卡槽12，以满足不同规格的电极帽的校验需要。其中板体11的第一边111上布置有四个卡槽12，第二边112上布置有三个卡槽12，且相邻的卡槽12之间设有间隔。七个卡槽12的槽口宽度不完全相同，具体地，第一边111上的四个卡槽12的槽口宽度一致，以配合校验外径为16mm的电极帽；第二边112上的三个卡槽12的槽口宽度一致，以配合校验外径为13mm的电极帽，且第二边112上的三个卡槽12的槽口宽度小于第一边111上四个卡槽12槽口宽度。进一步地，参阅图2，每个卡槽12的内壁均包括面向槽口的底壁121和位于底壁121两侧的侧壁122。其中，底壁121向卡槽12槽口的方向突出形成校验凸台123。校验凸台123位于卡槽12的内部，且该校验凸台123面向槽口的至少一个面构成校验电极帽的工作面124，工作面124与卡槽12的侧壁122垂直。本实施例中的校验凸台123为矩形，且该校验凸台123距离卡槽12槽口最近的面为工作面124。工作面124的宽度为定值，可用于校验电极帽端面的直径。该工作面124与板体11的第一边111或第二边112平行，因而可用于校验电极帽端面的平整度。具体地，当需要对修磨后的电极帽进行校验时，先将卡槽12的槽口朝向待校验的电极帽，并将校验工具1向电极帽的方向推进，使卡槽12的侧壁122卡在电极帽的两侧从而将电极帽容置在卡槽12的内部。当电极帽的端面与校验凸台123的工作面124抵接时，停止向前推进校验工具1。由于凸台的工作面124的宽度为定值，且设定为合格的电极帽端面直径的大小。因而可以通过观察待校验电极帽端面的两侧是否与校验凸台123工作面124的两端对齐，来确定电极帽端面的直径是否合格。同时由于工作面124的与卡槽12的侧壁122垂直，即工作面124呈水平状态，从而可以通过观察待校验电极帽端面与校验凸台123工作面124是否存在间隙，来判断电极帽端面的平整度。较优地，本实施例中校验凸台123工作面124的一端至与其相邻的卡槽12侧壁122间的间距为第一间距，该校验凸台123工作面124的另一端至与其相邻的卡槽12侧壁122间的间距为第二间距，且第一间距等于第二间距。此种设置可使校验凸台123布置在卡槽12两侧壁122之间的中间位置，以保证电极帽进入卡槽12后与工作面124抵接时不会产生移位和偏差。进一步地，本实施例中七个卡槽12的工作面124的宽度不完全相同，以配合校验端面尺寸不同的电极帽。本实施例卡槽12工作面124的宽度为5mm～12mm，具体地，第一边111上的四个卡槽12工作面124的宽度分别为5mm、8mm、9mm、12mm，这四个卡槽12在第一边111上按照工作面124宽度由大到小的顺序依次布置。第二边112上的三个卡槽12工作面124的宽度分别为6mm、8mm、9mm，这三个卡槽12在第二边112上也按照工作面124宽度由大到小的顺序依次布置。此外，如图1所示，校验工具1还包括多个开设在板体11上的圆孔13。由于电极帽端面为圆形，因而将待校验电极帽的端面与圆孔13进行比对，也可校验电极帽端面的直径是否合格。若待测电极帽的直径与圆孔13直径符合，则说明该电极帽修磨合格；若待测电极帽端面大于或小于圆孔13，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电极帽的校验工具，其特征在于，所述校验工具包括：板体和设置在所述板体边缘处的至少一卡槽；所述卡槽用于容置电极帽，该卡槽由所述板体的边缘向内凹陷形成；所述卡槽的内壁包括：面向槽口的底壁以及位于所述底壁两侧的侧壁；所述底壁向所述卡槽槽口方向突出形成校验凸台，所述校验凸台位于所述卡槽内，且该校验凸台面向槽口的至少一个面构成校验电极帽的工作面，所述工作面垂直于所述卡槽的侧壁。

【技术特征摘要】
1.一种电极帽的校验工具，其特征在于，所述校验工具包括：板体和设置在所述板体边缘处的至少一卡槽；所述卡槽用于容置电极帽，该卡槽由所述板体的边缘向内凹陷形成；所述卡槽的内壁包括：面向槽口的底壁以及位于所述底壁两侧的侧壁；所述底壁向所述卡槽槽口方向突出形成校验凸台，所述校验凸台位于所述卡槽内，且该校验凸台面向槽口的至少一个面构成校验电极帽的工作面，所述工作面垂直于所述卡槽的侧壁。2.根据权利要求1所述的校验工具，其特征在于，所述卡槽的数量为多个，相邻的两所述卡槽之间设有间隔。3.根据权利要求2所述的校验工具，其特征在于，各所述卡槽槽口的宽度不完全相同。4.根据权利要求1所述的校验工具，其特征在于，各所述卡槽用于校验的工作面的宽度不完全相同。5.根据权利要求4所述的校验工具，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄荣方，辛艳琪，许文，
申请(专利权)人：集瑞联合重工有限公司，中国国际海运集装箱集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34