基于多类型测试获得真实产量数据的方法技术

本发明专利技术公开了一种基于多类型测试获得真实产量数据的方法，采用冷热测试抽样率的数据结合冷热测的测试速率再转换成时间度量，以得到可用于生产指导的真实的实时测试数量数据；本发明专利技术可以有效结合多类型测试，根据采集到的多批次的测试数据进行转换折合，得到实际真实产量数据，用于生产指导，以便于快速锁定问题并积极响应。

Method of obtaining true yield data based on multi type test

The invention discloses a method for obtaining real output data based on multi-type test, which adopts the data of sampling rate of cold and hot test combined with the test rate of cold and hot test and then converts it into time measurement to obtain the real real real-time test quantity data which can be used for production guidance; the invention can effectively combine multi-type test and adopt the data of sampling rate of cold and hot test combined with the test rate of cold and hot test. The collected test data of multiple batches are converted and converted to the actual production data for production guidance, so as to quickly lock in the problem and respond positively.

【技术实现步骤摘要】
基于多类型测试获得真实产量数据的方法
本专利技术涉及工厂生产情况的监测
，特别是基于多类型测试获得真实产量数据的方法。
技术介绍
目前，芯片性能模块主要用于对芯片电性能测试设备的生产情况进行监测。对半导体芯片进行测试时，将半导体芯片产品加载到测试设备上，运行测试程序，对产品的质量、性能进行测试。在测试过程中，通常采用设备的实际产出批次的数据来对比额定产能，用以得到实际生产效能的数据。目前能采用的设备产出数据主要包括两个方面：1.数据库的批次完成数据，数据库可以是本领域所用的Mars数据库，或其他常用数据库；2.AOT(actualoutput)unitlevel的实时测试数量数据，其中unitlevel指单个芯片级别的产出数据，相对应的是批次级别的产出数据。但是针对热、冷混合测试的产品，即芯片电性能测试设备在高温情况下对某批次的产品进行性能测试，随后抽取该批次内一定比例的产品在低温下进行性能抽样测试，最终该批次产品性能测试结束。例如对部分处理器产品进行测试，采用以上两个方面的数据时，在数据准确性上，都不能满足要求，原因如下：1.如果使用Mars数据库批次完成数据来衡量各班次生产本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于多类型测试获得真实的实时测试数量数据的方法，其特征在于：首先，获得设备的某批次的冷热测试抽样率的数据，然后结合冷热测的测试速率，再将该批次的整个冷热测试过程转换为时间度量，进而根据各批次的测试进度折算出可用于生产指导的真实的实时测试数量数据。

【技术特征摘要】
1.基于多类型测试获得真实的实时测试数量数据的方法，其特征在于：首先，获得设备的某批次的冷热测试抽样率的数据，然后结合冷热测的测试速率，再将该批次的整个冷热测试过程转换为时间度量，进而根据各批次的测试进度折算出可用于生产指导的真实的实时测试数量数据。2.根据权利要求1所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述冷热测试抽样率的数据至少包括该批次测试的：实际测试数量、生产速率、数量比例、批次产品数量。3.根据权利要求2所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述实际测试数量是通过设备控制器实时上传到数据库，直接从数据库读取实际测试数量。4.根据权利要求2所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：针对待测试的不同的半导体芯片产品，首先对所述生产速率、数量比例、批次产品数量进行预先设定数据，然后录入生产系统数据库，然后直接从生产系统数据库读取相应的数据。5.根据权利要求4所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述生产速率是根据具体情况设定的一定时间周期内产能的生产速率。6.根据权利要求4或5所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述生产速率限定为每小时产能的生产速率。7.根据权利要求1所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述时间度量是指用时间进度替换测试数量进度，用来衡量该批次的整体测试进度。8.根据权利要求1所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述实时测试数量数据是批次在单个产品级别的测试计数，该测试计数以产品的个数为单位。9.根据权利要求8所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述实时测试数量数据允许是整个批次的产品测试中的部分测试计数，该部分测试计数表示是整个批次产品总个数中的一部分。10.根据权利要求8所述的基于多类型测试获得真实产量数据的方法，其特征在于：所述实时测试数量数据允许是整个批次的产品测试的总测试计数，该总...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑巍，张思诗，
申请(专利权)人：英特尔产品成都有限公司，英特尔公司，
类型：发明
国别省市：四川,51