点灯测试电路和点灯测试方法技术

本发明专利技术提供一种点灯测试电路和点灯测试方法。所述点灯测试电路应用于显示模组，所述显示模组包括N条公共电极线；N为大于1的整数；所述点灯测试电路包括：公共电极线通断单元，分别与通断控制线和所述N条公共电极线连接，用于在所述通断控制线上的通断控制信号的控制下，控制导通或断开每两条所述公共电极线之间的连接；以及，通断控制单元，与所述通断控制线连接，用于为所述通断控制线提供所述通断控制信号。本发明专利技术解决现有技术中通过将第一公共电极线和第二公共电极线与点灯信号源芯片的同一管脚相连的方法来消除公共电极电压差异，从而在对盒点灯测试时就不能显示棋盘格画面，不能检测触控不良的问题。

Lighting test circuit and lighting test method

The invention provides a lighting test circuit and a lamp test method. The lighting test circuit is applied to the display module, the display module includes N common electrode lines, N is an integer greater than 1, and the lighting test circuit includes: a common electrode line on-off unit, which is respectively connected with the on-off control line and the N common electrode lines for the on-off control signal on the on-off control line. Under control, the connection between each of the two said common electrode wires is controlled to turn on or off; and the on-off control unit is connected with the on-off control line for providing the on-off control signal for the on-off control line. The invention solves the problem that the common electrode voltage difference can be eliminated by connecting the first common electrode wire and the second common electrode wire with the same pin of the lighting signal source chip in the prior art, so that the checkerboard screen can not be displayed and the bad touch can not be detected when the box lighting is tested.

【技术实现步骤摘要】
点灯测试电路和点灯测试方法
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种点灯测试电路和点灯测试方法。
技术介绍
现有的显示模组包括的多行多列相互独立的公共电极块可以复用为触控电极块，显示模组可以包括第一公共电极线和第二公共电极线，以在对盒点灯测试时实现棋盘格画面检测触控不良。在进行对盒点灯测试时，在显示灰阶画面时，如果传送至第一公共电极线的公共电极电压和传送至第二公共电极线的公共电极电压不相等，会在导致灰阶画面有不同程度的棋盘格残影，从而影响灰阶不良的检出。在现有技术中，通过将第一公共电极线和第二公共电极线与点灯信号源芯片的同一管脚相连的方法来消除公共电极电压差异，然而这样的话在对盒点灯测试时就不能显示棋盘格画面，失去了采用两根公共电极线以检测触控不良的意义。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种点灯测试电路和点灯测试方法，解决现有技术中通过将显示模组包括的第一公共电极线和第二公共电极线与点灯信号源芯片的同一管脚的方法来消除公共电极电压差异，从而在对盒点灯测试时就不能显示棋盘格画面，不能检测触控不良的问题。为了达到上述目的，本专利技术提供了一种点灯测试电路，应用于显示模组，所述显示本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种点灯测试电路，应用于显示模组，所述显示模组包括N条公共电极线；N为大于1的整数；其特征在于，所述点灯测试电路包括：公共电极线通断单元，分别与通断控制线和所述N条公共电极线连接，用于在所述通断控制线上的通断控制信号的控制下，控制导通或断开每两条所述公共电极线之间的连接；以及，通断控制单元，与所述通断控制线连接，用于为所述通断控制线提供所述通断控制信号。

【技术特征摘要】
1.一种点灯测试电路，应用于显示模组，所述显示模组包括N条公共电极线；N为大于1的整数；其特征在于，所述点灯测试电路包括：公共电极线通断单元，分别与通断控制线和所述N条公共电极线连接，用于在所述通断控制线上的通断控制信号的控制下，控制导通或断开每两条所述公共电极线之间的连接；以及，通断控制单元，与所述通断控制线连接，用于为所述通断控制线提供所述通断控制信号。2.如权利要求1所述的点灯测试电路，其特征在于，N等于2，所述公共电极线通断单元包括至少一个通断晶体管；所述通断晶体管的控制极与所述通断控制线连接，所述通断晶体管的第一极与所述显示模组包括的第一公共电极线连接，所述通断晶体管的第二极与所述显示模组包括的第二公共电极线连接；所述至少一个通断晶体管为n型晶体管，或者，所述至少一个通断晶体管为p型晶体管。3.如权利要求2所述的点灯测试电路，其特征在于，所述显示模组还包括相互独立的多行多列公共电极块；所述点灯测试电路还包括：公共电极电压提供单元，分别与电压控制线、所述多行多列公共电极块、所述第一公共电极线和所述第二公共电极线连接，用于在所述电压控制线的控制下，控制所述公共电极块与所述第一公共电极线或所述第二公共电极线连接；以及，点灯信号源，分别与所述第一公共电极线和所述第二公共电极线连接，用于为所述第一公共电极线提供第一公共电极电压，为所述第二公共电极线提供第二公共电极电压。4.如权利要求3所述的点灯测试电路，其特征在于，所述公共电极电压提供单元包括第一电压提供模块和第二电压提供模块，其中，所述第一电压提供模块分别与所述电压控制线、所述第一公共电极线、奇数行奇数列公共电极块和偶数行偶数列公共电极块连接，用于在所述电压控制线的控制下控制导通或断开所述第一公共电极线与所述奇数行奇数列公共电极块之间的连接，并在所述电压控制线的控制下控制导通或断开所述第一公共电极线与所述偶数行偶数列公共电极块之间的连接；所述第二电压提供模块分别与所述电压控制线、所述第二公共电极线、奇数行偶数列公共电极块和偶数行奇数列公共电极块连接，用于在所述电压控制线的控制下控制导通或断开所述第二公共电极线与所述奇数行偶数列公共电极块之间的连接，并在所述电压控制线的控制下控制导通或断开所述第二公共电极线与所述偶数行奇数列公共电极块之间的连接。5.如权利要求4所述的点灯测试电路，其特征在于，所述第一电压提供模块包括多个第一电压提供晶体管和多个第二电压提供晶体管；一所述第一电压提供晶体管与一奇数行奇数列公共电极块对应，一所述第二电压提供晶体管与一偶数行偶数列公共电极块对应；所述第一电压提供晶体管的栅极与所述电压控制线连接，该第一电压提供晶体管的第一极与所述第一公共电极线连接，该第一电压提供晶体管的第二极和与该第一电压提供晶体管对应的所述奇数行奇数列公共电极块连接；所述第二电压提供晶体管的栅极与所述电压控制线连接，该第二电压提供晶体管的第一极与所述第一公共电极线连接，该第二电压提供晶体管的第二极和与该第二电压提供晶体管对应的所述偶数行偶数列公共电极块连接；所述多个第一电压提供晶体管都为n型晶体管，所述多个第二电压提供晶体管都为n型晶体管；或者，所述多个第一电压提供晶体管都为p型晶体管，所述多个第二电压提供晶体管都为p型晶体管。6.如权利要求4所述的点灯测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗鹏，孙世成，崔辛超，钟德龙，赵顺，王志强，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京,11