一种光纤光栅温度系数的测量装置及其测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光纤光栅温度系数测量装置及其测量方法，包括光纤激光器、多模泵浦+信号光合束器、红外热像仪、剥离器和N个半导体激光器，将光纤激光器的低反光栅的一端引出与剥离器的一端熔接，剥离器的另一端和N个半导体激光器分别与多模泵浦+信号光合束器的信号输入端熔接，待测光纤光栅一端与多模泵浦+信号光合束器的信号输出端熔接，另一端斜切，红外热像仪扫描待测光纤光栅。通过仅打开半导体激光器、仅打开光纤激光器和同时打开光纤激光器和半导体激光器三种模式，实时测量待测光纤光栅的温度系数，分析待测光纤光栅发热原因并进行相应的处理。

A measuring device for temperature coefficient of fiber Bragg grating and its measuring method

The invention discloses a fiber grating temperature coefficient measuring device and a measuring method thereof, which comprises a fiber laser, a multi-mode pump + signal photosynthetic beam generator, an infrared thermal imager, a stripper and N semiconductor lasers. One end of the low-inversion grating of the fiber laser is pulled out and fused with the other end of the stripper, and the other end of the stripper and the N-semiconductor laser are stripped. One end of the fiber grating to be measured is fused with the signal output end of the multi-mode pump + signal photosynthetic beam generator, and the other end is obliquely cut. The infrared thermal imager scans the fiber grating to be measured. By turning on the semiconductor laser, the fiber laser and the fiber laser and the semiconductor laser simultaneously, the temperature coefficient of the fiber grating to be measured is measured in real time, and the heating reason of the fiber grating to be measured is analyzed and the corresponding treatment is carried out.

【技术实现步骤摘要】
一种光纤光栅温度系数的测量装置及其测量方法
本专利技术属于光纤激光器领域，具体涉及一种光纤光栅温度系数的测量装置及其测量方法。
技术介绍
1978年，加拿大通信研究中心的K.O.Hill及其合作者首次从光纤中观察到了光子诱导光栅。Hill的早期光纤是用488nm可见光波长的亚离子激光器，通过增加或延长注入光纤纤芯中的光辐照时间而在纤芯中形成了光栅。后来G.Meltz等人利用高强度紫外光源所形成的干涉条纹对光纤进行侧面横向曝光在该光纤纤芯中所产生折射率调制或相位光栅。1989年，第一支布拉格波长位于通信波段的光纤光栅研制成功。1993年，Hill等人提出了相位掩模技术，它主要是利用紫外光透过相位掩模板后的±1级衍射光形成的干涉光对具有良好光敏性的光纤进行曝光处理，使得光纤纤芯的折射率产生周期性的变化。随着光纤光栅的制备技术不断发展完善，其在光纤激光器等领域中被广泛应用。目前，单模激光器的输出功率已经达到千瓦量级，多模的输出功率也达到了万瓦量级。在工业生产、激光医疗及国防领域方面，光纤激光器的应用也越来越广泛。光纤光栅作为光纤激光器的谐振腔的前后腔镜，是光纤激光器中的核心器件之一。光纤光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光纤光栅温度系数测量装置，其特征在于：包括中心波长为λ1的光纤激光器、多模泵浦+信号光合束器、红外热像仪、剥离器和N个半导体激光器，其中N≥2，将光纤激光器的低反光栅的一端引出与剥离器的一端熔接，剥离器的另一端和N个半导体激光器分别与多模泵浦+信号光合束器的信号输入端熔接，待测光纤光栅一端与多模泵浦+信号光合束器的信号输出端熔接，另一端斜切，红外热像仪扫描待测光纤光栅，测量待测光纤光栅的温度。

【技术特征摘要】
1.一种光纤光栅温度系数测量装置，其特征在于：包括中心波长为λ1的光纤激光器、多模泵浦+信号光合束器、红外热像仪、剥离器和N个半导体激光器，其中N≥2，将光纤激光器的低反光栅的一端引出与剥离器的一端熔接，剥离器的另一端和N个半导体激光器分别与多模泵浦+信号光合束器的信号输入端熔接，待测光纤光栅一端与多模泵浦+信号光合束器的信号输出端熔接，另一端斜切，红外热像仪扫描待测光纤光栅，测量待测光纤光栅的温度。2.根据权利要求1所述的光纤光栅温度系数测量装置，其特征在于：所述待测光纤光栅的中心波长为λ1，λ1和λ2应满足如下关系：|λ1-λ2|>ΔλΔλ为待测光纤光栅的带宽。3.一种基于权利要求1或2中任意一项所述的光纤光栅温度系数测量装置的测量方法，其特征在于，方法步骤如下：第一步：搭建光纤光栅温度系数测量装置：所述光纤光栅温度系数测量装置包括中心波长为λ1的光纤激光器、多模泵浦+信号光合束器、红外热像仪、剥离器和N个半导体激光器，其中N≥2，依次熔接的中心波长为λ1的光纤激光器、剥离器和多模泵浦+信号光合束器，N个半导体激光器与多模泵浦+信号光合束器的信号输入端熔接，红外热像...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈华，关智文，汤亚洲，朱日宏，韩志刚，矫岢蓉，舒剑，卓烜，葛诗雨，
申请(专利权)人：南京理工大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32