一种用于应变测量的散斑覆膜制造技术

本发明专利技术属于光学测量领域，涉及一种用于应变测量的散斑覆膜，该覆膜主要用于制作光学测量结构应变时所用的散斑。该覆膜由浅色或白色有机材料薄膜、深色散斑组成，覆膜的正面可采用喷涂、印刷或其他方法制作散斑。使用时，覆膜背面可直接依靠静电吸附、真空吸附或使用黏合剂等方法将覆膜的背面与被测结构表面贴合。本发明专利技术提出的用于应变测量的散斑覆膜，具有较小的张力和良好的延展性，可使得覆膜上的散斑完全随被测结构的变形而变形，保障了应变的准确测量，该方法简化了散斑制作流程，避免了传统散斑制作方法的复杂性和技巧性，可实现散斑的快速制作和商业化印刷。

Speckle coating for strain measurement

The invention belongs to the field of optical measurement and relates to a speckle coating used for strain measurement. The coating is mainly used for making speckles used for optical measurement of structural strain. The coating consists of light or white organic material film and dark speckles. The front surface of the coating can be made of speckles by spraying, printing or other methods. When in use, the back surface of the film can be directly adhered to the surface of the structure under test by means of electrostatic adsorption, vacuum adsorption or adhesive. The speckle coating for strain measurement proposed by the invention has small tension and good ductility, can make the speckles on the coating deform completely with the deformation of the structure under test, and ensures the accurate strain measurement. The method simplifies the speckle manufacturing process and avoids the complexity and skill of the traditional speckle manufacturing method. The rapid production and commercial printing of speckle can be realized.

【技术实现步骤摘要】
一种用于应变测量的散斑覆膜
本专利技术属于光学测量领域，具体涉及一种用于应变测量的散斑覆膜。
技术介绍
结构应变的光学测量技术已非常成熟并被广泛应用，但测量之前需要在被测结构表面制作散斑标记，且散斑的质量直接影响测量结果的准确度。传统的散斑制作多采用在被测结构表面直接喷漆、使用散斑印章等方法。这些方法通常需要复杂的制作流程和制作技巧，因此很难一次就制作出高质量的散斑，而且这些方法均是在将散斑直接涂在被测结构表面上，会造成样品表面的污染。此外，有些被测结构表面不是规则的平面，如弧面，凹凸面等，那么使用传统方法制作散斑的难度更大。本专利技术提出了一种用于应变测量的散斑覆膜，该覆膜具有较小的张力和良好的延展性，不仅能够贴合在各种被测结构表面，而且覆膜上的散斑也能够完全随被测结构的变形而变形，保障了应变的准确测量。本专利技术所描述的方法简化了散斑制作流程，避免了传统的散斑制作方法的复杂性和技巧性，可实现散斑的快速制作和商业化印刷。
技术实现思路
本专利技术的目的是：设计一种用于光学测量结构应变时的快速制作的散斑覆膜。为解决此技术问题，本专利技术的技术方案是：设计一种用于应变测量的散斑覆膜，用于光学测量结构应变时的散斑的快速制作。包含有机材料薄膜1和散斑2，有机材料薄膜1具有延展性防止被测表面形变时破裂，散斑2附着在有机材料薄膜1的正面。所述的有机材料薄膜1的颜色为白色或浅色。所述的散斑2颜色为黑色或深色，区别于有机材料薄膜1的颜色。所述的散斑2采用打印、印刷或喷涂方式制作。所述的有机材料薄膜1背面依靠静电或真空吸附与被测表面贴合。所述的有机材料薄膜1背面还含有黏合剂3，依靠黏合剂3与被测表面贴合。本专利技术的技术效果是：本专利技术的用于光学测量结构应变时的快速制作的散斑覆膜，不仅能够贴合在各种被测结构表面，而且覆膜上的散斑也能够完全随被测结构的变形而变形，保障了应变的准确测量。本专利技术的散斑覆膜简化了散斑制作流程，避免了传统的散斑制作方法的复杂性和技巧性，可实现散斑的快速制作和商业化印刷。附图说明图1为用于应变测量的散斑覆膜主视图；图2为用于应变测量的散斑覆膜左视图；其中，1-有机材料薄膜、2-深色散斑、3-黏合剂。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术做进一步说明：本专利技术的一种用于应变测量的散斑覆膜，其示意图如图1。覆膜是浅色或白色的有机材料薄膜，薄膜厚度在0.1毫米至0.2毫米之间，正面有深色散斑，深色散斑颜色为黑色或深色，目的是与薄膜的浅色或白色区分。薄膜的浅色可选用浅白、浅黄、浅绿等颜色，散斑的深色可选用深红、深蓝、深绿等颜色。散斑可通过打印、印刷、喷涂或其他方法制作在薄膜上。测量过程如下：1、测量之前，将制作好的散斑覆膜直接依靠静电吸附或者真空吸附在被测结构表面，并与被测结构表面贴合。2、测量时，当被测结构在受载条件下变形时，因为覆膜具有延展性，其上的散斑也能够完全随之变形而不破裂。随后，使用应变测量系统对被测结构受载时散斑的微小变化进行分析，从而得出被测结构的应变分布。3、测量结束后，只需撕下散斑覆膜即可，不会在被测结构表面留下痕迹。本专利技术的覆膜背面还可选用不干胶等粘合剂，利用粘合剂将散斑覆膜与被测结构表面贴合。由于覆膜具有较小的张力和良好的延展性，可以被制作成片材、卷材或折叠的纸张状材料。本专利技术提出的用于应变测量的散斑覆膜，不仅能够贴合在各种被测结构表面，而且覆膜上的散斑也能够完全随被测结构的变形而变形，保障了应变的准确测量。本专利技术所描述的方法简化了散斑制作流程，避免了传统的散斑制作方法的复杂性和技巧性，可实现散斑的快速制作和商业化印刷。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于应变测量的散斑覆膜，其特征在于：所述的用于应变测量的散斑覆膜包含有机材料薄膜(1)和散斑(2)；有机材料薄膜(1)具有延展性防止被测表面形变时破裂；散斑(2)附着在有机材料薄膜(1)的正面。

【技术特征摘要】
1.一种用于应变测量的散斑覆膜，其特征在于：所述的用于应变测量的散斑覆膜包含有机材料薄膜(1)和散斑(2)；有机材料薄膜(1)具有延展性防止被测表面形变时破裂；散斑(2)附着在有机材料薄膜(1)的正面。2.根据权利要求1所述的用于应变测量的散斑覆膜，其特征在于：所述的有机材料薄膜(1)的颜色为白色或浅色。3.根据权利要求1所述的用于应变测量的散斑覆膜，其特征在于：所述的散斑(2)颜色为黑色或深色，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王向进，周志卫，刘芳，刘越，余漫，王栋军，
申请(专利权)人：郑州飞机装备有限责任公司，
类型：发明
国别省市：河南,41