The utility model provides a semiconductor lead bonding fixture and a pressing plate structure thereof, the pressing plate comprises a window region located in the middle section and an operation region located at the opposite ends of the window region, wherein the pressing plate has a relative top surface and a bottom surface, and the window region is formed through the top surface and the bottom surface. A number of pressing windows arranged in a matrix arrangement form a top opening on the top surface and a bottom opening on the bottom surface. The pressing window contracts from the top surface of the pressing plate toward the bottom surface so that the area of the bottom opening is smaller than the top opening. In order to fix the lead frame effectively in the process of wire bonding, each of the press windows is pressed on a chip lead welding area and pressed on the chip lead pin by forming a number of press windows arranged in a matrix on the press plate to fix the lead frame on the heating block. Bonding quality and yield.
【技术实现步骤摘要】
半导体引线键合工装夹具及其压板结构
本技术涉及半导体引线键合
,具体来说涉及用于引线键合的工装夹具及其压板结构。
技术介绍
DFN(双边扁平无铅封装)是一种小型电子元器件的封装形式的名称。其中,如图1所示,型号Tiny(Q)DFN的引线框架以高密度设计为主,其包括了引线框架20以及呈矩阵排列布置于所述引线框架20上的多列微小芯片30。所述Tiny(Q)DFN引线框架的引线键合制程主要通过如图1所示的工装夹具10进行压合步骤,所述工装夹具10包括压板11及加热块12,所述压板11设置能够概括多列芯片30的大面积开窗13,所述加热块12顶部成形为平面14,借此,通过将引线框架20及芯片30夹置于压板11及加热块12之中,实现一次压合多列半导体产品完成引线键合,且所述引线框架20通过预埋在加热块12中的真空孔15吸引固定在加热块12的平面14上,避免在引线键合过程中发生晃动,有利于提升引线键合制程的键合质量与良率。值得注意的是,所述引线框架20上对应每个芯片30设有一个芯片引线焊接区21;如图1所示,由于所述芯片引线焊接区21及其上的芯片30所占面积与体积皆相当微小,通过真空吸固引线框架20时,真空孔15的开孔面积不能大至包括整个芯片引线焊接区21,以避免吸力反而造成芯片引线焊接区21在键合时颤动或变形影响产品良率,从而现有的真空孔15主要对应芯片引线焊接区21的中央区域开设;然而,现有真空孔15设置方式也造成了靠近芯片引线焊接区21周围的芯片引脚31无法通过真空孔15实现有效的吸固作用,进而导致在引线键合过程中容易固定不牢靠发光二焊点不粘的问题,有待进一 ...
【技术保护点】
1.一种半导体引线键合压板结构,所述压板包括位于中段的窗口区域以及位于所述窗口区域相对两端的操作区域;其特征在于:所述压板具有相对的顶面及底面,所述窗口区域成形有贯穿所述顶面及所述底面且呈矩阵排列布置的若干压固窗口,各所述压固窗口于所述顶面上形成顶部开口并于所述底面上形成底部压口,所述压固窗口自所述压板的顶面朝向底面收缩,令所述底部压口的面积小于所述顶部开口。
【技术特征摘要】
1.一种半导体引线键合压板结构,所述压板包括位于中段的窗口区域以及位于所述窗口区域相对两端的操作区域;其特征在于:所述压板具有相对的顶面及底面,所述窗口区域成形有贯穿所述顶面及所述底面且呈矩阵排列布置的若干压固窗口,各所述压固窗口于所述顶面上形成顶部开口并于所述底面上形成底部压口,所述压固窗口自所述压板的顶面朝向底面收缩,令所述底部压口的面积小于所述顶部开口。2.根据权利要求1所述的半导体引线键合压板结构,其特征在于:所述压板于所述窗口区域的厚度大于所述操作区域的厚度,且所述压板的顶面成形为平坦表面。3.根据权利要求2所述的半导体引线键合压板结构,其特征在于:所述压板的底面于所述窗口区域成形为压合平面,所述压板的底面于所述操作区域成形为操作平面,所述压合平面与所述操作平面之间具有连接面连接。4.根据权利要求1所述的半导体引线键合压板结构,其特征在于:所述压板的底面沿长度方向的相对两侧分别成形有下压凸肋;所述压板形成所述下压凸肋处的厚度与所述压固窗口的深度相等。5.根据权利要求4所述的半导体引线键合压板结构,其特征在于:所述压板的底面于所述窗口区域成形为压合平面,所述压板的底面于所述操作区域成形为操作平面;所述下压凸肋的中段底侧成形为平直压合部,所述平直压合部成形为平面结构并与所述压合平面齐平连接,所述平直压合部的两端分别成形为斜向连接部并与所述操作平...
【专利技术属性】
技术研发人员:王均华,刘肖松,秦超奎,马康平,
申请(专利权)人:上海泰睿思微电子有限公司,
类型:新型
国别省市:上海,31
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