用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种快速检测具有导电面的待测物件的表面凹陷或翘曲程度的接触式检测装置，其包括导电底板、绝缘垫块、导电接触顶针、电源及发光二极管。所述电源根据所述多个导电接触顶针是否接触所述待测物件的所述导电面而构成导电回路，用于决定是否供电至所述发光二极管，进而指示用户所述待测物件的表面凹陷或翘曲是否超过预设程度。

Contact type test device for detecting surface sag or warpage of objects

The utility model provides a contact detection device for detecting the surface sag or warpage of an object with a conducting surface, which includes a conductive floor, an insulating pad, a conductive contact pin, a power supply and a light emitting diode. The power source constitutes a conductive circuit according to whether the plurality of conductive contact thimble pins are exposed to the conductive surface of the measured object, which is used to determine whether power supply is supplied to the light emitting diode, and then indicates whether the surface depression or warping of the object to be measured is more than the degree of presupposition.

【技术实现步骤摘要】
用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置
本技术提供了一种用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置。
技术介绍
为使产品质量能够被管控，特别需要检测装置以控管生产流程中所生产的产品质量。而于现今技术中，检测物件表面凹陷或翘曲的测试装置经常被应用于评估产品表面受力程度。已知的物件表面凹陷或翘曲的测试装置通过三次元测量装置以测量待测物品，然而已知的物件表面凹陷或翘曲的测试装置需通过专业人员操作且费时，无法满足生产在线检测物件表面的凹陷或翘曲的快速检测。本技术的专利技术人经多年潜心研究，设计了一种检测物件表面的凹陷或翘曲的装置，以针对现有技术的缺失加以改善，进而增进产业上的实施利用。
技术实现思路
基于上述已知技术的难点，本技术的目的在于提供一种快速检测表面凹陷或翘曲的新装置，以改善上述现有检测技术的难点。根据本技术的目的在于，提供一种接触式测试装置，包括：导电底板、绝缘垫块、导电接触顶针、电源及发光二极管。绝缘垫块设置于导电底板上的第一区域，并用于承载待测物件；导电接触顶针设置于导电底板的未设置绝缘垫块的第二区域，其中导电接触顶针与导电底板构成电性连接；电源，具有第一电极及第二电极，第一电极与导电底板电性连接，第二电极与待测物件的导电面电性连接；发光二极管，串接于第一电极与待测物件的导电面之间，或串接于第二电极与导电底板之间；其中，电源根据导电接触顶针是否接触待测物件的导电面而构成，用于决定是否供电至发光二极管，进而指示用户待测物件的表面凹陷或翘曲是否超过预设程度。优选地，当待测物件未放置于绝缘垫块，或待测物件放置于绝缘垫块且其表面凹陷或翘曲未超过预设程度时，发光二极管不发光；当待测物件放置于绝缘垫块且其表面凹陷或翘曲超过预设程度时，导电底板、导电接触顶针、发光二极管、待测物件的导电面及电源形成导通电路，使电流流经发光二极管而令发光二极管发光。优选地，当待测物件未放置于绝缘垫块，或待测物件放置于绝缘垫块且其表面凹陷或翘曲未超过预设程度时，发光二极管发光；当待测物件放置于绝缘垫块且其表面凹陷或翘曲超过预设程度时，导电底板、导电接触顶针、待测物件的导电面及电源形成短路电路，使电流不流经发光二极管而令发光二极管不发光。优选地，本技术的接触式测试装置进一步包括具有第一端、第二端及第三端的第一开关，且选择性将第一端与第二端导通，或将第一端与第三端导通，其中第一端电性连接待测物件，第二端电性连接电源的第一电极，第三端电性连接至发光二极管进而间接连接至电源的第一电极；以及具有第四端、第五端及第六端的第二开关，第二开关选择性将第四端与第五端导通，或将第四端与第六端导通，其中第四端电性连接至多个导电接触顶针且电性连接至电源的第二电极，第五端电性连接至发光二极管进而间接连接至电源的第一电极，第六端为浮接；其中，当第一端与第二端导通且第四端与第五端导通，发光二极管正常亮，当第一端与第三端导通且第四端与第六端导通，发光二极管正常灭。优选地，本技术的接触式检测装置的第一端与第三端导通且第四端与第六端导通，且当待测物件的凹陷超过默认程度时，待测物件的导电面将与至少一个导电接触顶针接触，此时电路导通，发光二极管发光；当待测物件的凹陷未超过默认程度时，待测物件不与任何导电接触顶针接触，此时电路未导通，发光二极管维持正常灭而不发光。优选地，本技术的接触式检测装置的第一端与第二端导通且第四端与第五端导通，且当待测物件的翘曲未超过预设程度时，待测物件的导电面将与至少一个导电接触顶针接触，此时电源的第一电极与第二电极被短路，发光二极管不发光，当待测物件的翘曲在超过预设程度时，待测物件与导电接触顶针不接触而不短路电源的第一电极与第二电极，使发光二极管维持正常亮而发光。优选地，本技术的接触式检测装置的导电接触顶针根据待测物件表面凹陷或翘曲的预设程度，而调整导电接触顶针与待测物件的导电面的接触距离。优选地，本技术的接触式检测装置的各导电接触顶针包括设置于导电接触顶针的顶端的顶针头、抵顶于顶针头底部的弹簧、用于容置弹簧及顶针头的顶针底杆，且顶针底杆的另一端设置有与导电底板固定的固定结构。本技术的接触式测试装置，其可具有下述优点：(1)本技术的接触式测试装置，通过将导电接触顶针、电源、发光二极管、导电底板设置为回路，仅需将待测物件放置于预定位置，即可测量待测物件的表面凹陷或翘曲，进一步简化测量待测物的表面凹陷或翘曲的复杂性；更进一步地，可依需要更换不同规格的绝缘垫块、限位块、固定滚棒，而测量不同尺寸重量的待测物件。(2)本技术的接触式测试装置，通过将导电接触顶针可拆卸地锁固于导电底板之上，仅需调整导电接触顶针的导电距离，即可依测试标准的变化而局部或全部调整本技术的接触式测试装置的测量标准。附图说明图1为本技术的接触式测试装置的第一状态立体示意图。图2为本技术的接触式测试装置的第一状态爆炸示意图。图3为本技术的导电接触顶针的爆炸示意图。图4为本技术的导电接触顶针的组合示意图。图5为本技术的接触式测试装置的电路示意图。图6为本技术的接触式测试装置的电路示意图。图7为本技术的接触式测试装置的第二状态组合示意图。图8为本技术的接触式测试装置的第二状态爆炸示意图。具体实施方式为了使本技术的技术特征、内容与优点及其技术效果更佳清楚，将配合附图，并以实施例的表达形式对本技术的技术方案详细说明如下，其中所使用的附图仅用于示意及辅助性的说明本技术，不应解释为本技术实施后的真实比例与精准配置，故不应就所附图的比例与配置关系解读、限制本技术的保护范围。需要说明的是，当组件被称为「设置于」另一个组件，它可以为固定于另一个组件，或为可拆卸地固定于另一组件。当组件被称为「固定于」或「设置于」另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。当一个组件被称为是「连接于」另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。以下将参照附图，说明本技术的接触式测试装置的实施例，为使便于理解，下述实施例以相同组件符号所标示。请一并参阅图1和图2，其分别为本技术的接触式测试装置实施例的第一状态立体示意图、第一状态爆炸示意图。如图所示，本技术的接触式测试装置的第一状态主要包含：导电底板10、绝缘垫块20、导电接触顶针30、电源40、发光二极管50、待测物件60、导线110、第一开关111、第二开关112、电阻113。进一步来说，导电底板10的上设置有绝缘垫块20、导电接触顶针30、电源40、发光二极管50以及放置于绝缘垫块20之上的待测物件60，其中，导电底板10具有用于设置绝缘垫块20的第一区域，以承载待测物件60于绝缘垫块20之上；又，导电底板10于未设置绝缘垫块20的第二区域设置导电接触顶针30，且导电接触顶针30与导电底板10构成电性连接。其中，当待测物件60放置于绝缘垫块20时，若其凹陷或翘曲程度超过预设范围，导电接触顶针30的顶针头31将与待测物件60的导电面61电性接触。其中，电源40具有第一电极41及第二电极42，其中第一电极41与导电底板10构成电性连接，第二电极42与待测物件60的导电面61构成电性连接。再者，发光二极管5本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置，其特征是，用于快速检测具有导电面的待测物件的表面凹陷或翘曲程度，所述接触式测试装置包括：导电底板；至少一个绝缘垫块，设置于所述导电底板上的第一区域，且承载所述待测物件；多个导电接触顶针，设置于所述导电底板的未设置所述绝缘垫块的第二区域，所述多个导电接触顶针与所述导电底板构成电性连接；电源，具有第一电极及第二电极，所述第一电极与所述导电底板电性连接，所述第二电极与所述待测物件的所述导电面电性连接，所述电源根据所述多个导电接触顶针是否接触所述待测物件的所述导电面而构成导电回路；以及发光二极管，串接于所述第一电极与所述待测物件的所述导电面之间，或串接于所述第二电极与所述导电底板之间，且所述电源是否供电至所述发光二极管取决于所述导电回路的构成，进而指示用户所述待测对象的表面凹陷或翘曲是否超过预设程度。

【技术特征摘要】
2017.07.31 TW 1062112511.一种用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置，其特征是，用于快速检测具有导电面的待测物件的表面凹陷或翘曲程度，所述接触式测试装置包括：导电底板；至少一个绝缘垫块，设置于所述导电底板上的第一区域，且承载所述待测物件；多个导电接触顶针，设置于所述导电底板的未设置所述绝缘垫块的第二区域，所述多个导电接触顶针与所述导电底板构成电性连接；电源，具有第一电极及第二电极，所述第一电极与所述导电底板电性连接，所述第二电极与所述待测物件的所述导电面电性连接，所述电源根据所述多个导电接触顶针是否接触所述待测物件的所述导电面而构成导电回路；以及发光二极管，串接于所述第一电极与所述待测物件的所述导电面之间，或串接于所述第二电极与所述导电底板之间，且所述电源是否供电至所述发光二极管取决于所述导电回路的构成，进而指示用户所述待测对象的表面凹陷或翘曲是否超过预设程度。2.根据权利要求1所述的用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置，其特征是，进一步包括：第一开关，所述第一开关具有第一端、第二端及第三端，且选择性地将所述第一端与所述第二端导通，或将所述第一端与所述第三端导通，所述第一端电性连接所述待测物件，所述第二端电性连接所述电源的所述第一电极，所述第三端电性连接至所述发光二极管进而间接连接至所述电源的所述第一电极；以及第二开关，所述第二开关具有第四端、第五端及第六端，且选择性将所述第四端与所述第五端导通，或将所述第四端与所述第六端导通，所述第四端电性连接至...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟富全，季荦，沈杭标，
申请(专利权)人：晟铭电子宁波有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江,33