一种测量纳米光纤中光偏振的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术一种测量纳米光纤中光偏振的装置及方法，属于纳米光纤偏振测量控制技术领域；所要解决的技术问题是提供了一种成本低廉、测量和控制精度高的测量纳米光纤中光偏振的装置及方法；解决该技术问题采用的技术方案为：测量纳米光纤中光偏振的装置包括测试激光器、半波片、偏振控制器、光纤探针和光电探测器，测试激光器输出的激光依次经过半波片、普通光纤、光纤偏振控制器和第一锥形光纤进入纳米光纤，光纤探针通过普通光纤与光电探测器相连，光纤探针的尖端与纳米光纤的表面接触；本发明专利技术还提供了采用上述装置测量纳米光纤中光偏振的方法；本发明专利技术可广泛应用于纳米光纤中光偏振测量领域。

【技术实现步骤摘要】
一种测量纳米光纤中光偏振的装置及方法
本专利技术一种测量纳米光纤中光偏振的装置及方法，属于纳米光纤偏振测量控制

技术介绍
光纤波导不仅在网络通信、医学治疗、光纤传感和众多关乎国计民生重要领域诸如半导体工业、航天、国防都有着广阔的应用，而且在半导体研究、表面科学、量子物理，光与物质相互作用等基础学科也有着重要的作用。阶跃型光纤波导一般情况是由高折射率的纤芯和低折射率的包层构成。激光被束缚在纤芯中传输，光纤包层对激光传输起到了很好的保护作用，激光无法受到外界影响。而相反当将光纤波导的直径通过微加工过程制做成光纤直径在微米以下的光纤，原有的光纤包层成为光传输通道，外部自由空间成为包层，这种光纤被称为纳米光纤。由于纳米光纤直径接近或者小于光波长，其内部传输光在光纤表面形成倏逝场的能量不可忽略甚至所占比重更大，与此同时倏逝场在光纤外部空间传输，与外界接触，因此此类结构可以作为与外部物质相互作用的基本器件，其在光学传感、光学开关、光学滤波器、非线性光学、量子光学、精密测量等领域均发挥着巨大作用。纳米光纤由于其直径接近或者小于波长，其基模模式不再是圆周对称，而是轴对称，因此纳米光纤中光的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量纳米光纤中光偏振的装置，其特征在于：包括测试激光器（1）、半波片（2）、偏振控制器（5）、光纤探针（8）和光电探测器（9），测试激光器（1）输出的激光（3）依次经过半波片（2）、第一普通光纤（4）、光纤偏振控制器（5）和第一锥形光纤（6）后进入纳米光纤（7），所述光纤探针（8）通过第二普通光纤（13）与光电探测器（9）相连，光纤探针（8）的尖端（10）与纳米光纤（7）的表面接触，纳米光纤（7）表面传输的倏逝场激光耦合进入光纤探针（8），第一普通光纤（4）、第一锥形光纤（6）和纳米光纤（7）为一体成型。

【技术特征摘要】
1.一种测量纳米光纤中光偏振的装置，其特征在于：包括测试激光器（1）、半波片（2）、偏振控制器（5）、光纤探针（8）和光电探测器（9），测试激光器（1）输出的激光（3）依次经过半波片（2）、第一普通光纤（4）、光纤偏振控制器（5）和第一锥形光纤（6）后进入纳米光纤（7），所述光纤探针（8）通过第二普通光纤（13）与光电探测器（9）相连，光纤探针（8）的尖端（10）与纳米光纤（7）的表面接触，纳米光纤（7）表面传输的倏逝场激光耦合进入光纤探针（8），第一普通光纤（4）、第一锥形光纤（6）和纳米光纤（7）为一体成型。2.根据权利要求1所述的一种测量纳米光纤中光偏振的装置,其特征在于:所述光纤探针（8）的尖端（10）为半球形，尖端（10）的后端连接有一段圆柱形光纤（11），圆柱形光纤（11）的后端连接有第二锥形光纤（12），第二锥形光纤（12）的直径逐步变粗为第二普通光纤（13）的直径。3.根据权利要求1或2所述的一种测量纳米光纤中光偏振的装置,其特征在于：所述光纤探针（8）的尖端（10）的半球直径为52微米。4.根据权利要求1-3任一所述的一种测量纳米光纤中光偏振的装置,其特征在于：所述光纤探针（8）的制作方法包括以下步骤：将裸光纤的两端分别固定在两个平移台（16）上，裸光纤的中心位置放置在CO2激光光束聚焦的焦点处；开启CO2...

【专利技术属性】
技术研发人员：张鹏飞，李刚，张天才，
申请(专利权)人：山西大学，
类型：发明
国别省市：山西,14