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本发明一种测量纳米光纤中光偏振的装置及方法，属于纳米光纤偏振测量控制技术领域；所要解决的技术问题是提供了一种成本低廉、测量和控制精度高的测量纳米光纤中光偏振的装置及方法；解决该技术问题采用的技术方案为：测量纳米光纤中光偏振的装置包括测试激光...
该专利属于山西大学所有，仅供学习研究参考，未经过山西大学授权不得商用。

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