一种测试探头及测试设备制造技术

本实用新型专利技术提供了一种测试探头及测试设备，所述测试探头包括：探头主体，所述探头主体包括相对设置的第一端和第二端，所述探头主体的第一端端面上设有用于容置所述待测元件的至少一个凹槽，所述凹槽内设有相互绝缘的至少两个导电部，所述至少两个导电部用于与所述待测元件的不同测试点位接触；以及，设置于所述探头主体上的相互绝缘的至少两根引线，每一所述引线的一端对应连接一所述导电部，另一端从所述探头主体引出。本实用新型专利技术所提供的测试探头及测试设备，能够解决现有技术中由于待测元件尺寸过小，探针测试时不易对准测试点位的问题，便于对小尺寸待测元件进行测试。

A test probe and test equipment

The utility model provides a test probe and a testing device. The test probe includes the main body of the probe, which comprises a relative end and a second end, and at least one of the grooves are arranged on the end face of the main body of the probe, and the grooves are insulated with each other. At least two conductive parts of at least two conductive parts are used for contact with the different test points of the measured element; and at least two wires are insulated from each other on the body of the probe, one end of each of the leads is connected to one of the conductive parts, and the other end is elicited from the probe body. The test probe and test equipment provided by the utility model can solve the problem that the size of the components to be measured is too small and the probe is not easy to aim at the test point when the probe is tested, so it is easy to test the small size components to be measured.

【技术实现步骤摘要】
一种测试探头及测试设备
本技术涉及测试
，尤其涉及一种测试探头及测试设备。
技术介绍
在现有技术中，通常采用测试探针来对电器元件进行测试。在测试小尺寸电容电阻元件的电压电流时，由于元件尺寸过小，现有的测试探针不易扎在元件的测试点位上，操作比较困难；并且由于测试探针的表面裸露，容易碰到别的元件而造成短路，从而影响测试结果。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种测试探头及测试设备，能够解决现有技术中由于待测元件尺寸过小，探针测试时不易对准测试点位的问题，便于对小尺寸待测元件进行测试。本技术所提供的技术方案如下：一种测试探头，用于对待测元件进行测试；所述测试探头包括：探头主体，所述探头主体包括相对的第一端和第二端，所述探头主体的第一端端面上设有用于容置所述待测元件的至少一个凹槽，所述凹槽内设有相互绝缘的至少两个导电部，所述至少两个导电部用于与所述待测元件的不同测试点位接触；以及，设置于所述探头主体上的相互绝缘的至少两根引线，每一所述引线的一端对应连接一所述导电部，另一端从所述探头主体引出。进一步的，每一所述导电部至少部分位于所述凹槽的槽底，至少部分位于所述凹槽的侧壁上。进一步的，所述测试探头还包括一罩设于所述探头主体外的绝缘外壳。进一步的，所述探头主体至少包括：绝缘部件；及，设置在所述绝缘部件的相对两侧的两个金属片；其中，所述两个金属片的第一端均超出所述绝缘部件的第一端之外，以与所述绝缘部件的第一端端面配合形成所述凹槽，所述两个金属片的第一端超出所述绝缘部件之外的部分分别形成两个所述导电部。进一步的，所述金属片的第一端端面上具有向该金属片的第二端凹陷所形成的台阶结构，且所述台阶结构位于所述金属片在与另一所述金属片相对的一侧，所述台阶结构包括面向另一所述金属片的第一台阶面和与所述金属片的第一端端面平行的第二台阶面，所述第一台阶面和所述第二台阶面形成所述导电部。进一步的，所述第一台阶面与所述绝缘部件的第一端端面齐平。进一步的，所述引线设置于所述绝缘部件内部，并从所述绝缘部件引出。进一步的，所述绝缘部件的第二端至少部分超出所述两个金属片的第二端，所述引线自所述绝缘部件的第二端伸出。进一步的，所述引线的从所述探头主体引出的一端还连接有用于与测试设备的设备本体进行连接的接插结构。一种测试设备，包括设备本体及如上所述的测试探头，其中所述测试探头的引线与所述设备本体电连接。本技术所带来的有益效果如下：本技术所提供的测试探头及测试设备，通过设置一探头主体，将该探头主体的一端端面上设置凹槽，在对待测元件进行测试时，将凹槽对准待测元件，罩在待测元件上，凹槽内壁上的至少两个导电部即会与待测元件上的不同测试点位接触连接，并通过引线与外部测试设备进行电连接，从而实现对待测元件的测试，与现有技术中采用测试探针扎在待测元件的测试点位上相比，将凹槽对准待测元件更容易操作，解决了测试探针不易对准待测元件的测试点位的问题。附图说明图1表示本技术实施例中所提供的测试探头的结构示意图；图2表示本技术实施例中所提供的测试探头在测试待测元件时的结构示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。针对现有技术中测试探针不易对准待测元件的测试点位的问题，本技术提供了一种测试探头及测试设备，能够解决上述问题，便于对待测元件进行测试。如图1和图2所示，本技术实施例所提供的测试探头，用于对待测元件进行测试；所述测试探头包括：探头主体100，所述探头主体100包括相对设置的第一端和第二端，所述探头主体100的第一端端面上设有用于容置所述待测元件10的至少一个凹槽110，所述凹槽110内设有相互绝缘的至少两个导电部120，所述至少两个导电部120用于与所述待测元件10的不同测试点位11接触；以及，设置于所述探头主体100上的相互绝缘的至少两根引线200，每一所述引线200的一端对应连接一所述导电部120，另一端从所述探头主体100引出。本技术所提供的测试探头及测试设备，通过设置一探头主体100，将该探头主体100的一端端面上设置凹槽110，在对待测元件10进行测试时，将探头主体100上的凹槽110对准待测元件10，而罩在待测元件10上，凹槽110内壁上的至少两个导电部120即会与待测元件10上的不同测试点位11接触连接，并通过引线200与外部测试设备进行电连接，从而实现对待测元件10的测试，与现有技术中采用测试探针扎在待测元件的测试点位上相比，将凹槽110对准待测元件10更容易操作，解决了测试探针不易对准待测元件的测试点位的问题。需要说明的是，上述方案中所提供的测试探头可以应用于各种待测元件10的电测试，可以根据待测元件10的尺寸和型号等，来设计凹槽110的尺寸及凹槽110内壁上的导电部120的分布位置。尤其是，可以针对小尺寸的待测元件10进行测试，例如，可以用于测试0201贴片电容电阻、0402贴片电容电阻、0603贴片电容电阻或者更大尺寸贴片电容电阻等元件。在本技术所提供的优选实施例中，如图1和图2所示，每一所述导电部120至少部分位于所述凹槽110的槽底，至少部分位于所述凹槽110的侧壁上。采用上述方案，每一所述导电部120至少一部分设置在凹槽110的槽底，至少一部分设置在凹槽110的侧壁，这样，可以更便于与待测元件10上的导电结构接触，即，与待测元件10上的测试点位接触。当然可以理解的是，所述导电部120也可以仅设置于所述凹槽110的槽底或者仅设置在所述凹槽110的侧壁上。此外，在本技术所提供的优选实施例中，如图1和图2所示，所述测试探头还包括一罩设于所述探头主体100外的绝缘外壳300。采用上述方案，通过将探头主体100外罩设一绝缘外壳300，可以使得该探头主体100不会与其他元件接触时造成短路。如图1和图2所示，所述引线200引出所述绝缘外壳300外，以与外部测试设备进行连接。此外，在本技术所提供的优选实施例中，如图1和图2所示，所述探头主体100至少包括：绝缘部件101；及，设置在所述绝缘部件101的相对两侧的两个金属片102；其中，所述两个金属片102的第一端均超出所述绝缘部件101的第一端之外，以与所述绝缘部件101的第一端端面配合形成所述凹槽110，所述两个金属片102的第一端超出所述绝缘部件101之外的部分分别形成两个所述导电部120。采用上述方案，所述探头主体100是利用两个金属片102与一绝缘部件101组成，通过在绝缘部件101的相对两侧设置两个金属片102，利用两个金属片102作为两个导电部120，来与待测元件10上的不同测试点位(如，与待测元件10的正负极)连接，这种结构简单，组装方便。需要说明的是，在实际应用中，所述探头主体100上对于特殊待测元件10，当其测试点位有至少三个，也就是说，需要有至少三个导电部120时，所述金属片102的数量可以为与测试点位数量相同，并分布于绝缘部件101的外周侧，相邻金属片102之间间本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试探头，用于对待测元件进行测试；其特征在于，所述测试探头包括：探头主体，所述探头主体包括相对设置的第一端和第二端，所述探头主体的第一端端面上设有用于容置所述待测元件的至少一个凹槽，所述凹槽内壁设有相互绝缘的至少两个导电部，所述至少两个导电部用于与所述待测元件的不同测试点位接触；以及，设置于所述探头主体上的相互绝缘的至少两根引线，每一所述引线的一端对应连接一所述导电部，另一端从所述探头主体引出。

【技术特征摘要】
1.一种测试探头，用于对待测元件进行测试；其特征在于，所述测试探头包括：探头主体，所述探头主体包括相对设置的第一端和第二端，所述探头主体的第一端端面上设有用于容置所述待测元件的至少一个凹槽，所述凹槽内壁设有相互绝缘的至少两个导电部，所述至少两个导电部用于与所述待测元件的不同测试点位接触；以及，设置于所述探头主体上的相互绝缘的至少两根引线，每一所述引线的一端对应连接一所述导电部，另一端从所述探头主体引出。2.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，每一所述导电部至少部分位于所述凹槽的槽底，至少部分位于所述凹槽的侧壁上。3.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述测试探头还包括一罩设于所述探头主体外的绝缘外壳。4.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述探头主体至少包括：绝缘部件；及，设置在所述绝缘部件的相对两侧的两个金属片；其中，所述两个金属片的第一端均超出所述绝缘部件的第一端之外，以与所述绝缘部件的第一端端面配合形成所述凹槽，所述两个金属片的第一端超出所述绝缘部件之外的部分分别形成两...

【专利技术属性】
技术研发人员：常小幻，叶帅，兰传艳，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，成都京东方光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11