测量平台装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种测量平台装置，其包含：一下基座、一滑动座，该下基座与滑动座间的第一、二滑块皆以相叠立式相接触，当结构受力下压时，能通过第一、二滑块间立式相叠而增加结构安装接触面，同时避免分力力矩产生，确实达到滑动测量的效果，且受力时还通过第一、二滑块的刚性保有其滑移的稳定性，大幅提升结构的准确度及耐用性。

Measuring platform device

The invention discloses a measuring platform device which comprises a base seat and a sliding seat. The first, second sliders between the lower base and the sliding seat are all in contact with each other. When the structure is subjected to pressure, the structure installation contact surface can be increased by vertical overlapping between the first, second sliders, and the force torque is avoided. It does achieve the effect of sliding measurement, and the stability of the slip is preserved by the rigidity of the first, second slider, and the accuracy and durability of the structure are greatly improved.

【技术实现步骤摘要】
测量平台装置
本专利技术涉及测量平台
，尤指一种微调偏移测量平台装置。
技术介绍
习知的微调平台装置被广泛地运用于各种自动化精密加工的定位、加工与测试场合上，并能搭配各种光学元件或检测仪器，以能够进行高精密度的测量或检验作业。目前常见微调平台装置，请同时参阅图13、图14所示，其主要具有一基座40与一偏移座50，该基座40两侧皆具有一长条型的凹陷区41，二长条型的凹陷区41内侧皆具有一阶梯状的凸面42，并皆提供一第一滑块43固接于该凸面42上，又该基座40中央处形成一具有容置区的凸肋44，该偏移座50概呈一矩形板体，其中央处形成一滑槽51，再由滑槽51两侧皆设有一阶级状的凸起面52，并皆提供一第二滑块53固接于该阶级状的凸起面52上，借此将该偏移座50的滑槽51对应组设于基座40的凸肋44，使偏移座50得以平移于基座40，且该第二滑块53与该第一滑块43水平并接设置，更于该第一滑块43与该第二滑块53间于相面对侧各设有一滑动件60，借以构成一种测量平台装置。详观上述习知结构不难发觉其尚存有不足之处，主要原因是归于如下：习知测量平台的基座40及偏移座50间的第一、二滑块43、53以平行并列方式配置，且该第一滑块43仅以底侧及一旁侧与基座40形成Ｌ面的安装接触，而该第二滑块53则仅以顶侧及一旁侧与偏移座50形成Ｌ的安装接触，当偏移座50受力下压时，该一、二滑块43、53容易产生向外分力的力矩，导致第一、二滑块43、53间的滑移效果不佳，进而影响偏移座50滑动于基座40上的稳定性及顺畅度，同时降低测量准确性。有鉴于此，本专利技术人于多年从事相关产品的制造开发与设计经验，针对上述的目标，详加设计与审慎评估后，终得一确具实用性的本专利技术。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种能确实达到滑动测量的效果及大幅提升结构的准确度及耐用性的测量平台装置。基于此，本专利技术主要采用下列技术手段，来实现上述目的。一种测量平台装置，包含：一下基座，上表面具有二相平行的第一容槽，以及一介于二第一容槽间且相互平行的结合槽，二第一容槽内皆固设有一第一滑块，该下基座的结合槽的前、后端皆设有一X轴止挡块，于下基座的结合槽固设一导引轨杆，还配置一第一限位滑座滑动限制于下基座的导引轨杆上；一滑动座，下表面具有二相平行的第二容槽，以及一介于二第二容槽间且相互平行的下导槽，二第二容槽与下基座的二第一容槽同方向且相面对，于二第二容槽内分别固设一第二滑块，并相对叠置于二第一滑块上方，且二第二滑块与二第一滑块间分别设有至少一滑动件，该滑动座的下导槽往下嵌覆于一第一限位滑座及二X轴止挡块外，通过多个锁合件由上表面贯穿滑动座与该第一限位滑座锁接连接。进一步，所述第一、二滑块的表面端皆设有锥槽，通过锥槽相夹合滑设所述第一、二滑块间的滑动件。进一步，该下基座的导引轨杆两侧对称设有轨槽，该第一限位滑座底部皆对应下基座的导引轨杆设有一轨道，第一限位滑座滑动组设于对应的下基座的导引轨杆上。进一步，该滑动座的上表面还具有二相平行的第三容槽，以及一介于二第三容槽间且相互平行的结合槽，二第三容槽方向与二第二容槽方向互呈交错状，并皆固设有一第三滑块，该滑动座的结合槽的前、后端皆设有一Y轴止挡块，于滑动座的结合槽固设一导引轨杆，还配置一第二限位滑座滑动限制于滑动座的导引轨杆上。进一步，所述的测量平台装置还包括一上基座，该上基座的下表面具有二相平行的第四容槽，以及一介二第四容槽间且相互平行的下导槽，二第四容槽与该滑动座的二第三容槽同方向且相面对，于二第四容槽内皆固设一第四滑块，并分别相对叠置于二第三滑块上方，且二第四滑块与二第三滑块间分别设有至少一滑动件，该上基座的下导槽往下嵌覆于该第二限位滑座及二Y轴止挡块外，通过多个锁合件由上表面贯穿上基座与该第二限位滑座锁接连接。进一步，所述第三、四滑块的表面端皆设有锥槽，并通过锥槽相夹合滑设有所述第三、四滑块间的滑动件。进一步，该滑动座的导引轨杆两侧对称设有轨槽，该第二限位滑座底部皆对应滑动座的导引轨杆设有一轨道，第二限位滑座滑动组设于对应的滑动座的导引轨杆上。采用上述技术手段后，本专利技术测量平台装置通过下基座及滑动座的结构设计，该下基座的上表面具有二相平行的第一容槽、以及一介于二第一容槽间且相互平行的结合槽，二第一容槽内皆固设有一第一滑块，该结合槽的前、后端皆设有一X轴止挡块，再于结合槽固设一导引轨杆，还配置一第一限位滑座滑动限制于导引轨杆上，该滑动座的下表面具有二相平行的第二容槽，以及一介于二第二容槽间且相互平行的下导槽，二第二容槽与下基座的二第一容槽同方向且相面对，还于二第二容槽内分别固设一第二滑块，并相对叠置于二第一滑块上方，且二第二滑块与该二第一滑块间分别设有至少一滑动件，同时将该下导槽往下嵌覆于一第限位滑座及二X轴止挡块外，另通过多个锁合件由上表面贯穿滑动座与该第一限位滑座锁接连接，借由上述结构，以构成一种测量平装置，且对照先前技术具有下述功效：（一）、该下基座与滑动座间的第一、二滑块皆以相叠立式相接触，当结构受力下压时，能通过第一、二滑块间立式相叠而增加结构安装接触面，同时避免分力力矩产生，确实达到滑动测量的效果，且受力时还通过第一、二滑块的刚性保有其滑移的稳定性，大幅提升结构的准确度及耐用性。（二）、该下基座的上表面皆以结合槽固设一导引轨杆，并分别卡掣滑设一第一限位滑座，再将该滑动座与第一限位滑座锁接连接，令滑动座滑动于下基座时，皆分别以第一限位滑座沿着导引轨杆滑动移，不仅可提升测量滑动的准确性，更防止滑动座有往上脱离下基座的使用疑虑，兼具结构用的稳定性。附图说明图1为本专利技术的立体图。图2为本专利技术的分解图。图3为本专利技术的俯视图。图4为本专利技术的对应图3A—A剖线的剖视图。图5为本专利技术的对应图3A—A剖线的上基座滑移示意图。图6为本专利技术滑动座的立体图。图7为本专利技术滑动座的分解图。图8为本专利技术的对应图3B—B剖线的剖视图。图9为本专利技术的对应图3B—B剖线的上基座滑移示意图。图10为本专利技术的对应图3C—C剖线的剖视图。图11为本专利技术的对应图3C—C剖线的滑动座滑移示意图。图12为本专利技术的实际应用状态示意图。图13为习知的立体图。图14为习知的组合剖视图。【符号说明】［本专利技术］10下基座11第一容槽12结合槽13第一滑块131锥槽14X轴止挡块15导引轨杆16第一限位滑座161轨道162锁合件17滑动件20滑动座201下底座202上承座21第二容槽22下导槽23第二滑块231锥槽24第三容槽25结合槽26第三滑块261锥槽27Y轴止挡块28导引轨杆281轨槽29第二限位滑座291轨道292锁合件30上基座31第四容槽32下导槽33第四滑块331锥槽34滑动件［习知］40基座41凹陷区42凸面43第一滑块431第一锥槽44凸肋50偏移座51滑槽52凸起面53第二滑块531第二锥槽60滑动件。具体实施方式为能对本专利技术的目的、特征及功效能够有更进一步的了解与认识，以下兹请配合【图式简单说明】详述如后：首先，先请参阅图1、图2配合图3、图4所示，一种测量平台装置，其包含：一下基座10、一滑动座20，该下基座10的上表面具有二相平行的第一容槽11，以及一介于二第一容槽11间且相互平行的结合槽12，二第一容槽11内皆固设有一第一滑块13，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量平台装置，其特征在于，包含：一下基座，上表面具有二相平行的第一容槽，以及一介于二第一容槽间且相互平行的结合槽，二第一容槽内皆固设有一第一滑块，该下基座的结合槽的前、后端皆设有一X轴止挡块，于下基座的结合槽固设一导引轨杆，还配置一第一限位滑座滑动限制于下基座的导引轨杆上；一滑动座，下表面具有二相平行的第二容槽，以及一介于二第二容槽间且相互平行的下导槽，二第二容槽与下基座的二第一容槽同方向且相面对，于二第二容槽内分别固设一第二滑块，并相对叠置于二第一滑块上方，且二第二滑块与二第一滑块间分别设有至少一滑动件，该滑动座的下导槽往下嵌覆于一第一限位滑座及二X轴止挡块外，通过多个锁合件由上表面贯穿滑动座与该第一限位滑座锁接连接。

【技术特征摘要】
2017.01.12 TW 1061010151.一种测量平台装置，其特征在于，包含：一下基座，上表面具有二相平行的第一容槽，以及一介于二第一容槽间且相互平行的结合槽，二第一容槽内皆固设有一第一滑块，该下基座的结合槽的前、后端皆设有一X轴止挡块，于下基座的结合槽固设一导引轨杆，还配置一第一限位滑座滑动限制于下基座的导引轨杆上；一滑动座，下表面具有二相平行的第二容槽，以及一介于二第二容槽间且相互平行的下导槽，二第二容槽与下基座的二第一容槽同方向且相面对，于二第二容槽内分别固设一第二滑块，并相对叠置于二第一滑块上方，且二第二滑块与二第一滑块间分别设有至少一滑动件，该滑动座的下导槽往下嵌覆于一第一限位滑座及二X轴止挡块外，通过多个锁合件由上表面贯穿滑动座与该第一限位滑座锁接连接。2.根据权利要求1所述的测量平台装置，其特征在于：所述第一、二滑块的表面端皆设有锥槽，通过锥槽相夹合滑设所述第一、二滑块间的滑动件。3.根据权利要求1或2所述的测量平台装置，其特征在于：该下基座的导引轨杆两侧对称设有轨槽，该第一限位滑座底部皆对应下基座的导引轨杆设有一轨道，第一限位滑座滑动组设于对应的下基座的导引轨杆上。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱毓英，
申请(专利权)人：全研科技有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71