【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】利用红外分光法的含氟聚合物的分析
本专利技术涉及利用红外全反射衰减法(IR-ATR法)求出以含氟聚合物为有效成分的含氟表面处理剂所具有的氟代烷基的碳原子数的分析法。
技术介绍
提出了测定含氟有机化合物中的含氟烃链的表面偏析性的方法。公开了通过利用XPS或使用轨道同步辐射的X射线吸收的方法而对试样进行局部分析的技术(例如,KHonda,MMorita,HOtsuka,ATakahara.Macromolecules38(13),5699-5705(2005)和K.Honda,M.Morita,O.Sakata,S.SasakiandA.Takahara,Macromolecules,43(1),454-460(2010).)但是,存在装置大型且操作时间也很严格的制约,对于分析手头上的坯料试样而言存在很大的技术障碍。在WO2015/020100中公开了一种方法,该方法收集拨水拨油加工加工后的纤维、衣服、纸等的加工品的小片,将对其进行加热得到的挥发成分用气相色谱进行分析,测定含氟有机化合物的碳原子数。但是,由于该方法对试样进行加热,所以有时使试样破损。TakeshiHa ...
【技术保护点】
1.一种对含有含氟表面处理剂的物品进行分析的方法,所述分析方法的特征在于:通过使用傅里叶变换红外分光计(FT‑IR)的红外全反射衰减法(IR‑ATR法)求出含氟表面处理剂所具有的氟代烷基的碳原子数,含氟表面处理剂含有含氟聚合物作为有效成分,含氟聚合物具有源自下式所示的含氟单体的重复单元,式:CH2=C(-X)-C(=O)-Y-Z-Rf式中,X为氢原子、一价的有机基团或卤素原子,Y为-O-或-NH-,Z为直接键合或二价的有机基团,Rf为碳原子数1~20的氟代烷基。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.08.21 JP 2015-1638541.一种对含有含氟表面处理剂的物品进行分析的方法,所述分析方法的特征在于:通过使用傅里叶变换红外分光计(FT-IR)的红外全反射衰减法(IR-ATR法)求出含氟表面处理剂所具有的氟代烷基的碳原子数,含氟表面处理剂含有含氟聚合物作为有效成分,含氟聚合物具有源自下式所示的含氟单体的重复单元,式:CH2=C(-X)-C(=O)-Y-Z-Rf式中,X为氢原子、一价的有机基团或卤素原子,Y为-O-或-NH-,Z为直接键合或二价的有机基团,Rf为碳原子数1~20的氟代烷基。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:物品为含氟表面处理剂的膜,或者在选自纤维制品、石材、过滤器、防尘面罩、燃料电池的部件、玻璃、纸、木、皮革、毛皮、石棉、砖、水泥、金属和金属氧化物、陶瓷制品、塑料、涂布面和灰泥的基材之上具有含氟表面处理剂的层。3.如权利要求1或2所述的方...
【专利技术属性】
技术研发人员:高桥可奈子,山本育男,长谷川健,下赤卓史,
申请(专利权)人:大金工业株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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