一种ATE测试板快速布局系统和方法技术方案

本发明专利技术属于ATE测试板布局的技术领域，具体涉及一种ATE测试板快速布局系统和方法；解决的技术问题为：提供一种缩短Load board布局设计时间，提高设计效率的ATE测试板快速布局系统和方法；采用的技术方案为：包括：对布局行为和布局单元数目进行初始化设置；选择需要布局的器件；获取器件的相关属性；在当前文件夹下创建存储文件；使用遍历函数对需要布局的器件进行逐个数据操作，根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，将操作数据导出至存储文件中；判断遍历函数是否遍历结束；根据存储文件中保存的操作数据，对相关单元区域的器件进行布局；本发明专利技术适用于Loadboard电路布局领域。

A fast layout system and method for ATE test board

The invention belongs to the technical field of ATE test board layout, and specifically involves a rapid layout system and method of ATE test board. The technical problem solved is to provide a fast layout system and method of ATE test board to shorten the time of Load board layout design and improve the design efficiency; the technical scheme adopted is: including the layout line To initialize the setting with the number of layout units; select the device that needs the layout; obtain the related properties of the device; create the storage file under the current folder; use the ergodic function to perform one by one data operation on the device that needs the layout, and operate the device accordingly according to the initialized layout behavior and the number of layout units. The operation data is exported to the storage file, and the traversal function is judged to end, and the devices in the related unit area are laid out according to the operating data stored in the stored file, and the invention is suitable for the Loadboard circuit layout domain.

【技术实现步骤摘要】
一种ATE测试板快速布局系统和方法
本专利技术属于ATE测试板布局的
，具体涉及一种ATE测试板快速布局系统和方法。
技术介绍
复杂PCB的设计一般都是采用功能强大的布局布线设计工具。布局布线设计工具是一个交互的环境，用于建立和编辑复杂的多层PCB，其丰富功能可以满足当今世界设计和制造的需求。针对目标按时完成系统的协同设计，使PCB设计平台能够协同设计高性能的集成电路、封装和PCB的互连，降低成本并加快产品上市。众多品牌的布局布线设计工具除了本身拥有丰富的功能外，还允许使用者通过合适的语言对软件进行二次开发，从而开发出满足特定需求的设计的辅助功能。芯片在晶圆级别和封装完成后都要进行测试，一般会采用自动测试设备(ATE)，ATE包含测试机台、测试头和显示设备，其中和芯片直接接触的是测试头上的芯片载板Loadboard和与晶圆接触的Probecard。芯片载板Loadboard结构有一定的特点，如图1所示：1、第1、2区域是与机台相连接的区域，对于固定配置的机台，这两个区域是不会变化的；2、第3、4、5、6四个区域是设计区域，对应不同的芯片需要进行不同电路的设计都在这些区域；3、根据客户对同时测试芯片的个数要求不同，第3、4、5、6区域所放置的芯片座(socket)的数量亦不相同，一般同测芯片数量为2、4、8个；4、四个区域元器件放置的特点：①3、4、5、6区域电子元器件放置的位置顺序是一致的，相当于3区域的元器件放置拷贝到其他区域；②4区域与3区域关于Y轴对称，5、6区域与3、4区域又关于X轴对称，相当于将3区域的器件摆放位置，关于X、Y、原点进行镜像到其他区域；③为了便于识别器件所在区域，一般器件编号都遵循一定的规则。例如电阻R1在DUT1部分叫做R1001或者D1_R1，在DUT2部分则叫做R2001或者D2_R1。针对于上述芯片载板Loadboard的结构特点，现在对于3、4、5、6区域进行电子元器件布局的方法主要是：1、根据原理图，先将3区域的器件摆放完毕；2、选中3区域DUT电路中的器件，创建MDD模块复用文件；3、通过使用模块复用命令将4区域的器件选中，进行模块复用，得到和3区域一样的电路；4、通过坐标定位，将器件放置到4区域，同样的方法放置5、6区域的器；5、由于使用模块复用命令会出现某些器件的网络对应关系错乱，因此需要对器件位置，参考3区域的顺序进行逐个排查，将放错的器件替换为正确的器件。现有的设计软件功能所能提供的最便捷的办法就是上述方法了，如上所述采用模块复用的设计方法有如下弊端：1、Loadboard通常有30到50层，器件pin数达到数万pin，一个loadboard包含了大量的数据，设计数据的大小通常有几十到一百多兆；模块复用功能使用时将瞬间增大计算机数据的处理量，通常会将计算机卡死或者软件假死；更有甚者由于性能较差的电脑无法完成任务处理而出现软件闪退或者电脑蓝屏；2、模块复用本身只能复制3区域电子元器件的布局，对于需要进行镜像等操作布局的Loadboard则无能为力，设计者不得不对每个区域进行布局，这将耗费相当长的时间完成所有的器件布局；布局3区域的模块需要2-3天时间，布局其他区域的模块至少也要2-3天时间；3、使用模块复用命令会出现某些器件的网络对应关系错乱，因此需要对器件位置，参考3区域的顺序进行逐个排查，将放错的器件替换为正确的器件，这个工作量也会用1天左右，设计者需要先选择4区域中器件对应3区域的器件，有时软件会自动识别，但是做出来是错误的，仍然需要设计者逐个检查器件摆放。Loadboard设计时间客户一般都要求3周左右完成。如果将大量的时间浪费在布局阶段，将会对交期产品严重影响。更多时候设计者不得不放弃周末，连续加班将工作进度往前赶。如果缩短了布局阶段的设计时间，将会为后面的布线留出更多的时间。如此设计者更能从容掌握设计进度，提高设计效率。综上所述：针对Loadboard的布局设计，目前很多公司并没有开发出一个更加有效率的功能，让设计者能够进行方便布局。
技术实现思路
本专利技术克服现有技术存在的不足，所要解决的技术问题为：提供一种缩短Loadboard布局设计时间，提高设计效率的ATE测试板快速布局系统和方法。为了解决上述技术问题，本专利技术采用的技术方案为：一种ATE测试板快速布局方法，包括以下步骤：S101、对布局行为和布局单元数目进行初始化设置；S102、选择需要布局的器件；S103、获取器件的相关属性；S104、在当前文件夹下创建存储文件；S105、使用遍历函数对需要布局的器件进行逐个数据操作，根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，将操作数据导出至步骤S104中创建的存储文件中；S106、判断遍历函数是否遍历结束，如是，执行步骤S107，否则，返回步骤S105；S107、根据存储文件中保存的操作数据，对相关单元区域的器件进行布局。优选地，所述根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，具体包括：读取初始化的布局单元数目；根据所述布局单元数目，屏蔽不可能进行布局的单元区域；读取初始化的布局行为；根据所述布局行为，对器件进行相应操作；判断器件的当前旋转角度是否大于360°；如是，则将器件的最终旋转角度调整为：180°-当前旋转角度，否则，执行步骤S107。优选地，所述获取器件的相关属性之后，还包括：将器件的位号分离出来重新进行标记。优选地，遍历函数遍历结束后，对所有操作数据进行再次保存。相应地，一种ATE测试板快速布局系统，包括：初始化模块：用于对布局行为和布局单元数目进行初始化设置；选择模块：用于选择需要布局的器件；获取模块：获取器件的相关属性；创建模块：在当前文件夹下创建存储文件；遍历操作模块：用于使用遍历函数对需要布局的器件进行逐个数据操作：根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，将操作数据导出至创建的存储文件中；判断模块：用于判断遍历函数是否遍历结束；布局模块：用于根据存储文件中保存的操作数据，对相关单元区域的器件进行布局。优选地，所述遍历操作模块，包括：第一读取单元：用于读取初始化的布局单元数目；屏蔽单元：用于根据所述布局单元数目，屏蔽不可能进行布局的单元区域；第二读取单元：用于读取初始化的布局行为；操作单元：用于根据所述布局行为，对器件进行相应操作；判断单元：用于判断器件的当前旋转角度是否大于360°；调整单元：用于当器件的当前旋转角度大于360°时，将器件的最终旋转角度调整为：180°-当前旋转角度。优选地，还包括：标记模块：用于将器件的位号分离出来重新进行标记。优选地，还包括：保存模块：用于遍历函数遍历结束后，对所有操作数据进行再次保存。本专利技术与现有技术相比具有以下有益效果：本专利技术针对Loadboard的电路布局设计的特点，能够让设计者布局完基准区域器件的情况下，自动完成其他区域器件关于基准区域器件镜像或者复制的布局操作，缩短了Loadboard布局设计时间，提高了设计效率。附图说明下面结合附图对本专利技术做进一步详细的说明；图1为芯片载板Loadboard的结构特点示意图；图2为本专利技术实施例一提供的一种ATE测试板快速布局方法的流程示意图；图3为本专利技术实施例二提供的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种ATE测试板快速布局方法，其特征在于：包括以下步骤：S101、对布局行为和布局单元数目进行初始化设置；S102、选择需要布局的器件；S103、获取器件的相关属性；S104、在当前文件夹下创建存储文件；S105、使用遍历函数对需要布局的器件进行逐个数据操作，根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，将操作数据导出至步骤S104中创建的存储文件中；S106、判断遍历函数是否遍历结束，如是，执行步骤S107，否则，返回步骤S105；S107、根据存储文件中保存的操作数据，对相关单元区域的器件进行布局。

【技术特征摘要】
1.一种ATE测试板快速布局方法，其特征在于：包括以下步骤：S101、对布局行为和布局单元数目进行初始化设置；S102、选择需要布局的器件；S103、获取器件的相关属性；S104、在当前文件夹下创建存储文件；S105、使用遍历函数对需要布局的器件进行逐个数据操作，根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，将操作数据导出至步骤S104中创建的存储文件中；S106、判断遍历函数是否遍历结束，如是，执行步骤S107，否则，返回步骤S105；S107、根据存储文件中保存的操作数据，对相关单元区域的器件进行布局。2.根据权利要求1所述的一种ATE测试板快速布局方法，其特征在于：所述根据初始化的布局行为和布局单元数目，对器件进行相应操作和角度调整，具体包括：读取初始化的布局单元数目；根据所述布局单元数目，屏蔽不可能进行布局的单元区域；读取初始化的布局行为；根据所述布局行为，对器件进行相应操作；判断器件的当前旋转角度是否大于360°；如是，则将器件的最终旋转角度调整为：180°-当前旋转角度，否则，执行步骤S107。3.根据权利要求1所述的一种ATE测试板快速布局方法，其特征在于：所述获取器件的相关属性之后，还包括：将器件的位号分离出来重新进行标记。4.根据权利要求1所述的一种ATE测试板快速布局方法，其特征在于：遍历函数遍历结束后，对所有操作数据进行再次保存。5.一种ATE测试板快速布局系统，其特征在于：包括：初始化模块(101)：用于对布局行为...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨建，周杰，周德祥，
申请(专利权)人：无锡天芯互联科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32