中央处理器测试机制造技术

本实用新型专利技术提供一种中央处理器测试机，至少包括用于对中央处理器进行测试的测试部位、用于抓取并且转运中央处理器的操作部位、主机系统、和不间断电源，至少所述主机系统和所述不间断电源被封装在壳体中，在所述壳体上设置有可打开的门，其特征在于，所述主机系统和所述不间断电源并排地设置在所述壳体中，所述不间断电源位于所述主机系统与所述门之间，所述门上设置有多个通风孔。根据本实用新型专利技术可以显著提高中央处理器测试机的测试效率，并且明显减少中央处理器测试机的运行维护成本。

CPU test machine

The utility model provides a central processor testing machine, at least a test site for testing a central processor, an operating part, a host system, and an uninterrupted power supply for grasping and transporting a central processor. At least the host system and the uninterrupted power are encapsulated in the shell, and the shells are in the shell. An open door is arranged on the body, which is characterized in that the host system and the uninterruptible power supply are arranged in the shell side by side. The uninterruptible power supply is located between the host system and the door, and the doors are provided with a plurality of ventilation holes. According to the utility model, the test efficiency of the central processor test machine can be significantly improved, and the operation and maintenance cost of the central processor test machine can be obviously reduced.

【技术实现步骤摘要】
中央处理器测试机
本技术涉及对中央处理器(CPU)的测试，尤其涉及一种中央处理器测试机。
技术介绍
在中央处理器制造过程中，需要在中央处理器测试机上对每个单独的中央处理器进行测试。中央处理器测试机通常包括用于对中央处理器进行测试的测试部位、用于抓取并且转运中央处理器的操作部位、主机系统、不间断电源、电路板、以及传导气体的导管，这些组件中的至少一部分被封装在壳体中，壳体上设置有可打开的门。通过打开门，操作人员可以接近位于壳体内部的组件，以进行维护和更换。在中央处理器测试机运行期间，这些组件尤其是主机系统和不间断电源会产生大量的热量，但是由于壳体处于密闭状态且内部自由空间非常狭窄，壳体内部气流不流畅，导致壳体内部总是处于90至100℃高温。不间断电源设计的正常工作温度通常是25±3℃，高温会使得不间断电源很快就没有电了，不能起任何作用。主机系统在这种高温下也频繁出现死机现象，电路板上的电容和二极管等元器件在这种高温下也频繁出现故障。这都将导致中央处理器测试机需要停机维修。因而，现有的中央处理器测试机需要频繁停机维护、更换各种组件或元器件，这不仅显著降低了中央处理器测试机的测试效率，而且显著增大了中央处理器测试机的运行维护成本。因此，需要对现有技术的中央处理器测试机进行改进。
技术实现思路
本技术的目的就是要提出一种改进的中央处理器测试机，这种中央处理器测试机通过降低壳体密闭空间内的温度，能够避免频繁停机维护、更换各种组件或元器件，从而显著提高中央处理器测试机的测试效率，并且明显减少中央处理器测试机的运行维护成本。根据本技术，提供一种中央处理器测试机，至少包括用于对中央处理器进行测试的测试部位、用于抓取并且转运中央处理器的操作部位、主机系统、和不间断电源，至少所述主机系统和所述不间断电源被封装在壳体中，在所述壳体上设置有可打开的门，其特征在于，所述主机系统和所述不间断电源并排地设置在所述壳体中，所述不间断电源位于所述主机系统与所述门之间，所述门上设置有多个通风孔。优选地，在所述门的后侧表面上设置有过滤膜。优选地，在所述门与所述不间断电源之间的空间中设置有至少一个风扇。优选地，所述风扇是扁平形风扇。优选地，所述风扇被固定在支撑板上，所述支撑板上安装所述风扇的位置处形成有透气部。优选地，所述透气部是由多个螺旋扇形孔形成的圆形部。优选地，所述支撑板被安装在所述壳体的框架上。优选地，在所述支撑板的透气部上设置另外一层过滤膜。根据本技术，通过将所述不间断电源设置成靠近所述门、并且在所述门上设置有多个通风孔，壳体外侧的冷空气可以通过通风孔进入壳体中，以降低壳体内部环境的温度，避免中央处理器测试机频繁停机维护、更换各种组件或元器件，从而显著提高中央处理器测试机的测试效率，并且明显减少中央处理器测试机的运行维护成本。附图说明图1是根据本技术的中央处理器测试机的简化示意图；图2是图1中被简化显示的中央处理器测试机的主视图；图3是根据本技术的中央处理器测试机的可打开门的示意主视图，其中以虚线表示了设置在门后侧的中央处理器测试机组件；图4是以示意侧视图显示了门后侧的中央处理器测试机组件与门的位置关系；图5是根据本技术的装有风扇的风扇支撑板的主视图；图6是图5中装有风扇的风扇支撑板的右视图；以及图7是图5中装有风扇的风扇支撑板的左视图。具体实施方式下面结合示例详细描述本技术的各优选实施例。本领域技术人员应理解的是，这些实施例是示例性的，它并不意味着对本技术形成任何限制。图1是根据本技术的中央处理器测试机的简化示意图，图2是图1中被简化显示的中央处理器测试机的主视图。中央处理器测试机1通常包括用于对中央处理器进行测试的测试部位、用于抓取并且转运中央处理器的操作部位、主机系统、不间断电源、电路板、以及传导气体的导管，这些组件中至少主机系统和不间断电源被封装在壳体3中。在图1中以非常简化的方式将壳体3示意性地显示为一个方形体，但应理解的是，壳体3可以是任意合适的形状，并且可以由一个或多个部分构成。壳体3的一侧上设置有可打开的门5。通过打开门5，操作人员可以接近位于壳体3内部的组件，以对位于壳体3内的中央处理器测试机1的部分组件进行维护和更换。图3是根据本技术的中央处理器测试机的可打开门的示意主视图，其中以虚线表示了设置在门后侧的中央处理器测试机组件，以及图4是以示意侧视图显示了门后侧的中央处理器测试机组件与门的位置关系。如图3和4所示，中央处理器测试机1的主机系统7和不间断电源9并排地设置在壳体3中、并且大体上位于门5的后侧，其中，不间断电源9大体上位于主机系统7与壳体3上的门5之间。从图4的示意图可以看出，在门5的后侧与中央处理器测试机1的不间断电源9之间的空间11非常狭窄，因此，主机系统7和不间断电源9产生的热量易于导致壳体内部处于90至100℃或者甚至更高的温度。为了避免壳体内部处于高温，根据本技术，在位于不间断电源9前侧的门5上设置多个通风孔13。这样，壳体3外侧的冷空气可以通过通风孔13进入壳体3中，以降低壳体3内部环境的温度。在门5上设置多个通风孔13的情况下，为了至少避免灰尘通过通风孔13进入壳体3内部导致诸如电路板等的电气元件出现故障，可以在门5的后侧表面设置一层过滤膜(未示出)。该过滤膜允许空气由其通过但会阻止灰尘通过。更优选地，可以采用能够同时阻止灰尘以及潮气通过的过滤膜。为了使外侧的冷空气快速地进入壳体3内侧、以及使进入壳体3内侧的空气加速流通以进行高效的热交换并且通过壳体3上的出口(未示出)快速地排出，可以在门5的后侧与不间断电源9之间的空间11中设置有风扇14。由于门5与不间断电源9之间的可用空间11非常有限，风扇14优选地采用径向尺寸显著大于厚度方向尺寸的扁平形风扇。图5是根据本技术的装有风扇的风扇支撑板的主视图，图6是图5中装有风扇的风扇支撑板的右视图，以及图7是图5中装有风扇的风扇支撑板的左视图。如图5-7所示，有六个风扇14通过螺钉15被固定在支撑板17上，在支撑板17上安装风扇14的位置处形成有透气部19。尽管透气部19可以为任何合适的形状，但透气部19优选地为由多个螺旋扇形孔21形成的圆形部，以有助于气体的通过。支撑板17可以被安装在壳体3的框架上。为了进一步阻止灰尘和/或潮气通过透气部19进入到诸如电路板等的电气元件而出现故障，还可以在支撑板17的透气部19上设置另外一层过滤膜。在优选实施例中，在支撑板17上设置有六个风扇14，应理解的是，可以根据需要设置更多或更少的风扇。以上结合具体实施例对本技术进行了详细描述。显然，以上描述以及在附图中示出的实施例均应被理解为是示例性的，而不构成对本技术的限制。对于本领域技术人员而言，可以在不脱离本技术的精神的情况下对其进行各种变型或修改，这些变型或修改均不脱离本技术的范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种中央处理器测试机(1)，至少包括用于对中央处理器进行测试的测试部位、用于抓取并且转运中央处理器的操作部位、主机系统(7)、和不间断电源(9)，至少所述主机系统(7)和所述不间断电源(9)被封装在壳体(3)中，在所述壳体(3)上设置有可打开的门(5)，其特征在于，所述主机系统(7)和所述不间断电源(9)并排地设置在所述壳体(3)中，所述不间断电源(9)位于所述主机系统(7)与所述门(5)之间，所述门(5)上设置有多个通风孔(13)。

【技术特征摘要】
1.一种中央处理器测试机(1)，至少包括用于对中央处理器进行测试的测试部位、用于抓取并且转运中央处理器的操作部位、主机系统(7)、和不间断电源(9)，至少所述主机系统(7)和所述不间断电源(9)被封装在壳体(3)中，在所述壳体(3)上设置有可打开的门(5)，其特征在于，所述主机系统(7)和所述不间断电源(9)并排地设置在所述壳体(3)中，所述不间断电源(9)位于所述主机系统(7)与所述门(5)之间，所述门(5)上设置有多个通风孔(13)。2.根据权利要求1所述的中央处理器测试机(1)，其特征在于，在所述门(5)的后侧表面上设置有过滤膜。3.根据权利要求1所述的中央处理器测试机(1)，其特征在于，在所述门(5)与所述不间断电源(9)之间的空...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁红斌，郑荣，席洪旺，
申请(专利权)人：英特尔产品成都有限公司，英特尔公司，
类型：新型
国别省市：四川,51