半值层测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例涉及一种半值层测量装置，包括：支撑部，顶部设有导轨，轨上具有滑块；调节部，包括座体、伸缩杆、调节手柄和台体；座体的底面安装于滑块上，使得调节部沿导轨运动；伸缩杆连接座体的上表面和台体的下表面，调节手柄驱动伸缩杆压缩或拉伸，从而调节台体与座体之间距离；光阑组件，置于台体上，包括屏蔽体和光阑；其中，屏蔽体上有插接孔，光阑的外边缘尺寸和插接孔相匹配，光阑插入插接孔中；吸收片支架，置于台体上，通过吸收片支架固定吸收片，使得吸收片和光阑的中心相对准。本实用新型专利技术实施例提供的半值层测量装置，通过增置光阑组件，将测量过程中的散射辐射的影响尽可能减小，实现半值层的精确测量。

Half value layer measuring device

The utility model relates to a semi - value layer measuring device, which comprises a supporting part, a guide rail on the top and a slide on the rail, and a adjusting part, which includes a seat, a telescopic rod, an adjusting handle and a table body, the bottom of the seat is mounted on the slide block, the adjusting part is moving along the guide rail, and the telescopic rod connects the upper surface of the seat body and the table body. On the lower surface, the adjusting handle drives the telescopic rod to compress or stretch to adjust the distance between the table and the seat; the diaphragm is placed on the body, including the shield and the diaphragm; among them, the shield has an inserting hole, the outer edge size of the diaphragm is matched with the socket hole, and the diaphragm is inserted into the socket hole; the absorber bracket is placed and placed. The absorption plate is fixed on the platform body through the absorption plate bracket, so that the center of the absorption film and the diaphragm is relatively accurate. The semi - value layer measuring device provided by the utility model is designed to reduce the impact of the scattering radiation in the measurement process as much as possible by adding a diaphragm component to achieve accurate measurement of the semi - value layer.

【技术实现步骤摘要】
半值层测量装置
本技术涉及辐射测量领域，尤其涉及一种半值层测量装置。
技术介绍
X射线规范辐射质主要依赖于加在X射线管上的高压、总过滤的性质和厚度以及靶的特性，辐射质经常以半值层作为参数来表征，X射线半值层是指X射线强度减弱到初始值的一半所需要的物质厚度。半值层通常用毫米铝或毫米铜表示，在符合规定的管电压及附加过滤条件下，半值层值可以作为参考辐射质的表征参数，针对实际工作环境，有适用于不同领域的X射线参考辐射质。测量半值层时，需要保证辐射场足够大，以满足电离室的测量需求，但是散射辐射会对半值层测量的精确度有较大影响，这就需要一种装置能够尽可能地减小散射辐射的影响。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种半值层测量装置，通过增置光阑组件，将测量过程中的散射辐射的影响尽可能减小，实现半值层的精确测量，并且能够方便地更换内径尺寸不同的光阑，以满足不同电离室和不同测量条件下的测量需求。为实现上述目的，本技术提供了一种半值层测量装置，包括：支撑部，顶部设有导轨,所述导轨上具有滑块；调节部，包括座体、伸缩杆、调节手柄和台体；所述座体的底面安装于所述滑块上，使得所述调节部沿所述导轨运动；所述伸缩杆连接所述座本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种半值层测量装置，其特征在于，所述半值层测量装置包括：支撑部，顶部设有导轨，所述导轨上具有滑块；调节部，包括座体、伸缩杆、调节手柄和台体；所述座体的底面安装于所述滑块上，使得所述调节部沿所述导轨运动；所述伸缩杆连接所述座体的上表面和所述台体的下表面，所述调节手柄驱动所述伸缩杆压缩或拉伸，从而调节所述台体与所述座体之间距离；光阑组件，置于所述台体上，包括屏蔽体和光阑；其中，所述屏蔽体上有插接孔，所述光阑的外边缘尺寸和所述插接孔相匹配，所述光阑插入所述插接孔中；吸收片支架，置于所述台体上，通过所述吸收片支架固定吸收片，使得所述吸收片和所述光阑的中心相对准。

【技术特征摘要】
1.一种半值层测量装置，其特征在于，所述半值层测量装置包括：支撑部，顶部设有导轨，所述导轨上具有滑块；调节部，包括座体、伸缩杆、调节手柄和台体；所述座体的底面安装于所述滑块上，使得所述调节部沿所述导轨运动；所述伸缩杆连接所述座体的上表面和所述台体的下表面，所述调节手柄驱动所述伸缩杆压缩或拉伸，从而调节所述台体与所述座体之间距离；光阑组件，置于所述台体上，包括屏蔽体和光阑；其中，所述屏蔽体上有插接孔，所述光阑的外边缘尺寸和所述插接孔相匹配，所述光阑插入所述插接孔中；吸收片支架，置于所述台体上，通过所述吸收片支架固定吸收片，使得所述吸收片和所述光阑的中心相对准。2.根据权利要求1所述的半值层测量装置，其特征在于，所述光阑组件由铅材料制成。3.根据权利要求1所述的半值层测量装置，其特征在于，所述光阑的内径为30mm，厚度为30mm。4.根据权利要求1所述的半值层测量装...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴金杰，杜海燕，刘莹，赵瑞，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：新型
国别省市：北京,11