一种用于集成电路测试中信号采集的系统技术方案

本申请公开了一种用于集成电路测试中信号采集的系统，包括：信号发生器，用于输出于第一设定时间触发的第一激励信号和于第二设定时间触发的数据采集及存储的第二激励信号；待测试的所述集成电路，与所述信号发生器耦接，用于接收所述第一激励信号并据此生成并输出信号；信号采集器，与所述信号发生器和所述集成电路分别耦接，分别用于接收所述第二激励信号和所述集成电路的输出信号，并在接收到所述第二激励信号后对所述集成电路的输出信号进行采集及存储。由上，本申请可以在集成电路测试中提高测试分辨率和测试精度。

A system for signal acquisition in integrated circuit testing

The present application discloses a system for signal acquisition in an integrated circuit test, including a signal generator for a first excitation signal that is triggered at the first setting time and a second excitation signal for data acquisition and storage triggered at the second setting time; the integrated circuit to be tested and the signal generator are used to test the signal generator. The coupling is used to receive the first excitation signal and to generate and output signals accordingly; the signal collector is coupled to the signal generator and the integrated circuit respectively, respectively for receiving the second excitation signal and the output signal of the integrated circuit, and the integrated electricity after receiving the second excitation signal. The output signal of the road is collected and stored. From above, this application can improve test resolution and test accuracy in integrated circuit test.

【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路测试中信号采集的系统
本申请涉及集成电路测试领域，特别涉及一种用于集成电路测试中信号采集的系统。
技术介绍
在集成电路测试中，常常需要对输入和输出信号进行信号采集，传统的信号采集方法一般用信号采集器同时采集全部输入和输出信号，再对采集到的数据进行计算。但是这种信号采集存在一定的缺点，由于信号采集卡的测量深度是有限的，当输入信号时序较长，但对于最终的参数计算仅关心信号时序的一小部分信号时，而这就必然导致参数计算仅关心信号时序的数据量减少，测试分辨率降低，测试精度达不到测试需求。传统的解决方法是更换采样深度更高、测试精度更高的信号采集器，但是这种解决方法会极大提高测试成本，且测试精度的提升还是有限的。因此，目前亟需一种能够提高测试分辨率和测试精度数据用于集成电路测试中信号采集的系统。
技术实现思路
有鉴于此，本申请的主要目的在于提供了一种用于集成电路测试中信号采集的系统，可以在集成电路测试中提高测试分辨率和测试精度。本申请提供一种用于集成电路测试中信号采集的系统，包括：信号发生器，用于输出一于第一设定时间触发的第一激励信号和一于第二设定时间触发的数据采集及存储的第二激励信号；待测试的所述集成电路，与所述信号发生器耦接，用于接收所述第一激励信号并据此生成并输出信号；信号采集器，与所述信号发生器和所述集成电路分别耦接，分别用于接收所述第二激励信号和所述集成电路的输出信号，并在接收到所述第二激励信号后对所述集成电路的输出信号进行采集及存储。由上，本申请的信号采集系统的信号发生器还与信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号。关于此处的第二设定时间可以仅设定与被测参数有关的时间，从而可以减少采集时间及采集的数据量，有利于提高测试分辨率及测试精度。例如，如图1、3所示，传统测量方法一般以输入测试信号为触发信号，从发生触发时刻“T1”开始抓取数据，直到“T3”时刻结束信号采集。而实际被测参数仅需要“T2”时刻到“T3”时刻的数据，此时需要从信号采集器的大量数据中找出“T2”时刻到“T3”时刻的数据，而信号采集卡的测量深度是有限的，这就必然导致“T2”时刻到“T3”时刻的数据量减少，测试分辨率降低，测试精度达不到测试需求。本技术解决了传统测量方法的弊端，如图2、4所示，信号发生器还与信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号。设定该信号的触发位置在“T2”时刻，此时信号采集器仅采集并存储“T2”到“T3”时刻的数据，对于信号采集器来说，同样的测量深度，采集的时间量越短，测试分辨率越高，测试精度也越高。优选地，所述系统还包括：控制器，与所述信号发生器耦接，用于控制所述信号发生器提供的各个信号的同步，以及用于调节所述第一激励信号、第二激励信号的时序和频率。由上，本申请通过设置一控制器，有利于控制于待测集成电路输入及输出信号的同步性。例如，由于输入信号和输出信号之间的时间参数都很小，基本都在1us以内；并且这些时间参数不仅仅针对单一信号，而是不同信号之间的时间关系，因此对于信号采集器来说，一定要实现不同被测信号的同步信号采集。因此，通过设置一控制器，有利于控制各个信号的同步性。优选地，所述所述信号发生器为：可输出作为所述第一激励信号的连续脉冲信号，和输出作为所述第二激励信号的一单脉冲信号的信号发生器。优选地，所述系统还包括：显示装置，分别与信号发生器和信号采集器耦接，用于将所述第一激励信号、第二激励信号和所述集成电路的输出信号进行显示。由上，通过上述显示模块显示输入及输出的全部时间段的信号进行显示，有利于用于直观查看输入输出的数据。综上所述，本申请提供了一种用于集成电路测试中信号采集的系统，可以在集成电路测试中提高测试分辨率和测试精度。本申请的信号采集系统的信号发生器还与信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号。关于此处的第二设定时间可以仅设定与被测参数有关的时间，从而可以减少采集时间及采集的数据量，有利于提高测试分辨率及测试精度。同时，本申请通过设置一控制器，有利于控制于各个信号的同步性，以及用于调节所述第一激励信号、第二激励信号的时序和频率。附图说明图1为现有技术的用于集成电路测试的信号采集的系统的结构示意图；图2为本申请实施例提供的一种用于集成电路测试的信号采集的系统的结构示意图；图3为现有技术的用于集成电路测试的信号采集的系统的波形显示的示意图；图4为本申请实施例提供的一种用于集成电路测试的信号采集的系统的显示模块的波形显示的示意图。具体实施方式下面结合说明书附图对本申请实施例进行详细描述。实施例一如图1所示，为传统的集成电路测试的信号采集装置。其中“DUT”为待测试集成电路，“L”、“C”、“HV”为测试“DUT”的外围线路，“输入激励信号INA’”为“DUT”的输入信号，“DUT”的两个输出信号为OUT1和OUT2，“输入激励信号INA”和输出信号“OUT1”、“OUT2”同时连接到信号采集器，信号采集器对采集到的数据进行计算。其中,“OUT1”、“OUT2”可分别为电压电平信号、电流信号或其他。如图2所示，为本申请提供一种用于集成电路测试中信号采集的系统，包括：信号发生器100，与所述待测试集成电路耦接；用于向其提供一于第一设定时间触发的第一激励信号INA；其中，所述信号发生器还与一信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号INB；信号采集器200，与所述待测试集成电路及所述信号发生器耦接；用于将输入所述待测试集成电路的信号及所述待测试集成电路输出的信号进行采集、或采集及存储。同时，本申请通过设置一控制器300，与所述信号发生器及所述待测试集成电路耦接；用于控制所述信号发生器提供的各个信号以及所述待测试集成电路输出的各个信号之间在同一时刻同步；以及用于调节所述第二激励信号的时序和频率。由此，本申请的信号采集系统的信号发生器还直接与信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号INB。关于此处的第二设定时间可以仅设定与被测参数有关的时间，从而可以减少采集时间及采集的数据量，有利于提高测试分辨率及测试精度。例如，如图1、3所示，传统测量方法一般以输入测试信号为触发信号，从发生触发时刻“T1”开始抓取数据，直到“T3”时刻结束信号采集。而实际被测参数仅需要“T2”时刻到“T3”时刻的数据，此时需要从信号采集器的大量数据中找出“T2”时刻到“T3”时刻的数据，而信号采集卡的测量深度是有限的，这就必然导致“T2”时刻到“T3”时刻的数据量减少，测试分辨率降低，测试精度达不到测试需求。本技术解决了传统测量方法的弊端，如图2所示，信号发生器还与信号采集器耦接；用于向其提供于一于第二设定时间触发信号采集及存储的第二激励信号INB。如图4所示，设定该信号的触发位置在“T2”时刻，此时信号采集器仅采集并存储“T2”到“T3”时刻的数据，对于信号采集器来说，同样的测量深度，采集的时间量越短，测试分辨率越高，测试精度也越高。本申请还设置有控制器，与所述信号发生器耦接，用于控制所述信号发生器提供的各个信号的同步，以及用于调节本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于集成电路测试中信号采集的系统，其特征在于，包括：信号发生器，用于输出于第一设定时间触发的第一激励信号和于第二设定时间触发的数据采集及存储的第二激励信号；待测试的所述集成电路，与所述信号发生器耦接，用于接收所述第一激励信号并据此生成并输出信号；信号采集器，与所述信号发生器和所述集成电路分别耦接，分别用于接收所述第二激励信号和所述集成电路的输出信号，并在接收到所述第二激励信号后对所述集成电路的输出信号进行采集及存储。

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路测试中信号采集的系统，其特征在于，包括：信号发生器，用于输出于第一设定时间触发的第一激励信号和于第二设定时间触发的数据采集及存储的第二激励信号；待测试的所述集成电路，与所述信号发生器耦接，用于接收所述第一激励信号并据此生成并输出信号；信号采集器，与所述信号发生器和所述集成电路分别耦接，分别用于接收所述第二激励信号和所述集成电路的输出信号，并在接收到所述第二激励信号后对所述集成电路的输出信号进行采集及存储。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：闫肃，陈跃俊，刘惠鹏，
申请(专利权)人：北京华峰测控技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11