一种移相电路、移相器和辐射性能的测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种移相电路、移相器和辐射性能的测试方法及装置。所述移相电路包括：一个移相器、主接收通道和辅接收通道；所述移相器的输入端与时钟信号输入源的输出端连接；所述移相器的第一输出端分别与所述主接收通道的同向分量支路和所述辅接收通道的同向分量支路连接；所述移相器的第二输出端分别与所述主接收通道的移相分量支路和所述辅接收通道的移相分量支路连接。本发明专利技术实施例提供的移相电路、移相器和辐射性能的测试方法及装置，主接收通道和辅接收通道共用一个移相器将信号移相，可有效的避免主辅接收通道的参考信号天线相对相位产生随机的±180°翻转，从而实现TD‑LTE终端可以采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。

A phase shifting circuit, phase shifter and testing method and device for radiation performance

The embodiment of the invention discloses a phase shifting circuit, a phase shifter and a test method and device for radiation performance. The phase shift circuit includes a phase shifter, a main receiving channel and an auxiliary receiving channel; the input end of the phase shifter is connected with the output end of the clock signal input source; the first output end of the phase shifter is connected with the same direction component branch of the main receiving channel and the same direction component branch of the auxiliary receiving channel; The second output terminals of the phase shifter are respectively connected with the phase shifting component branch of the main receiving channel and the phase shifting component branch of the auxiliary receiving channel. The phase shifter, phase shifter and radiative performance test method and device provided by the invention, the main receiving channel and the auxiliary channel share a phase shifter to move the signal, and can effectively avoid a random + 180 degree reversal of the relative phase of the reference signal antenna of the main and auxiliary receiving channel, thus the TD LTE terminal can be realized. The radiative reception performance is tested by the two stage radiation method.

【技术实现步骤摘要】
一种移相电路、移相器和辐射性能的测试方法及装置
本专利技术实施例涉及移动通信测试
，尤其涉及一种移相电路、移相器和辐射性能的测试方法及装置。
技术介绍
辐射两阶段法是演进的UMTS陆地无线接入网(EvolvedUMTSTerrestrialRadioAccessNetwork，E-UTRAN)中对多天线用户设备的辐射接收性能进行测试常用的测试方法。现有技术中，时分长期演进(TimeDivisionLongTermEvolution，TD-LTE)零中频接收机架构的主辅接收通道的参考信号天线相对相位(ReferenceSignalAntennaRelativePhase，RSARP)存在随机的±180°翻转特性，无法类似频分双工长期演进(FrequencyDivisionDoubleLongTermEvolution，FDD-LTE)模式那样计算出稳定的主辅接收通道的参考信号天线相对相位，由于TD-LTE接收机参考信号天线相对相位的±180°翻转特性，使得现有的TD-LTE终端无法采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种移相电路、移相器和辐射性能的测试方法及装置，使得TD-LTE终端可以采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。第一方面，本专利技术实施例提供了一种移相电路，该移相电路包括：一个移相器、主接收通道和辅接收通道；所述移相器的输入端与时钟信号输入源的输出端连接；所述移相器的第一输出端分别与所述主接收通道的同相分量支路和所述辅接收通道的同相分量支路连接；所述移相器的第二输出端分别与所述主接收通道的移相分量支路和所述辅接收通道的移相分量支路连接。进一步地，所述移相器的输出端分别通过混频器与所述主接收通道以及所述辅接收通道连接。进一步地，所述时钟信号输入源包括依次连接的分频器、频率综合器和预设频率时钟源，所述移相器的输入端与所述分频器的输出端连接。进一步地，所述预设频率时钟源为26MHz时钟源。进一步地，所述移相器的移相角为0度/90度。进一步地，所述移相器的第一输出端为0度输出端；所述移相器的第二输出端为90度输出端。进一步地，所述主接收通道为TD-LTE射频零中频接收机主通道；所述辅接收通道为TD-LTE射频零中频接收机辅通道。第二方面，本专利技术实施例还提供了一种移相器，该移相器包括第一方面所述的移相电路。第三方面，本专利技术实施例还提供了一种移相电路的辐射性能的测试方法，该辐射性能的测试方法包括：通过所述移相电路获取参考信号天线相对相位RSARP；基于所述参考信号天线相对相位，使用辐射两阶段法对辐射接收性能进行测试。第四方面，本专利技术实施例还提供了一种移相电路的辐射性能的测试装置，该辐射性能的测试装置包括：相对相位获取模块，用于通过所述移相电路获取参考信号天线相对相位RSARP；两阶段法测试模块，用于基于所述相对相位获取模块获取的所述参考信号天线相对相位，使用辐射两阶段法对辐射接收性能进行测试。本专利技术实施例中的移相电路包括：一个移相器、主接收通道和辅接收通道，移相器的输入端与时钟信号输入源的输出端连接，移相器的第一输出端分别与所述主接收通道的同相分量支路和所述辅接收通道的同相分量支路连接，移相器的第二输出端分别与主接收通道的移相分量支路和辅接收通道的移相分量支路连接。现有技术中，主接收通道和辅接收通道各自分别用一个移相器将信号移相，使得TD-LTE零中频接收机架构的主辅接收通道的参考信号天线相对相位存在随机的±180°翻转特性而无法采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。本申请中，主接收通道和辅接收通道共用一个移相器将信号移相，可有效的避免主辅接收通道的参考信号天线相对相位产生随机的±180°翻转，从而实现TD-LTE终端可以采用辐射两阶段法完成辐射接收性能的测试。附图说明图1是本专利技术实施例一中的一种移相电路的结构示意图；图2是本专利技术实施例一中的信号进入0度/90度移相器后输出信号的相位关系示意图；图3是本专利技术实施例二中的一种移相电路的辐射性能的测试方法的流程图；图4是本专利技术实施例三中的一种移相电路的辐射性能的测试装置的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各步骤描述成顺序的处理，但是其中的许多步骤可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各步骤的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。实施例一图1为本专利技术实施例一提供的一种移相电路的结构示意图，本实施例可适用于测试多天线用户设备辐射接收性能中主辅通道参考信号天线相对相位的情况，如图1所示，该移相电路包括：时钟信号输入源110，移相器120，主接收通道130和辅接收通道140。移相器120的输入端与时钟信号输入源110的输出端连接，移相器120的第一输出端分别与主接收通道130的同相分量支路和辅接收通道140的同相分量支路连接，移相器120的第二输出端分别与主接收通道130的移相分量支路和辅接收通道140的移相分量支路连接。在本应用场景下，时钟信号源110用于产生时钟信号，时钟信号的频率可以根据实际应用的驱动需求进行调节。移相器120可以是能够对信号的相位进行调节的装置，其作用是将信号的相位移动一个角度。优选的，TD-LTE射频零中频接收机中移相器的移相角为0度/90度，即输入该移相器的信号在输出时其中一个输出端的信号相位变化0度，另一输出端的信号相位变化为90度，本应用场景下，移相器120的第一输出端为0度输出端，第二输出端为90度输出端，即从第一输出端输出的信号产生0度的相移，从第二输出端输出的信号产生90度的相移。图2为本专利技术实施例一提供的信号进入0度/90度移相器后输出信号的相位关系示意图。如图2所示，移相0度信号的相位与输入信号的相位相同，没有产生移相，而移相90度信号的相位与输入信号的相位相差90度，产生了90度的移相，示例性的，假设移相0度信号的相位为j2πfLot+θ0，移相90度信号的相位为j2πfLot+θ0+90°。信号从移相器120输出后分别再采用功分器分为主辅I或主辅Q两路本振信号，其中功分器确保两路输出之间的隔离。示例性的，当移相器120采用图1所示的设计方式设计后，假设主接收通道130的I路本振信号的相位为j2πfLot+θ0′，则Q路本振信号的相位为j2πfLot+θ0′+90°。此时，辅接收通道140对应的I路本振信号的相位为j2πfLot+θ1′，则Q路本振信号的相位为j2πfLot+θ1′+90°，而θ0′-θ1′＝0±360°，即主辅I/Q本振相位是同步变化的，故RSARP不再存在随机±180°跳变。主接收通道130和辅接收通道140可以是FDD-LTE接收机中的主接收通道和辅接收通道，或者TD-LTE接收机中的主接收通道和辅接收通道。在本应用场景下，优选的，主接收通道1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种移相电路，其特征在于，包括：一个移相器、主接收通道和辅接收通道；所述移相器的输入端与时钟信号输入源的输出端连接；所述移相器的第一输出端分别与所述主接收通道的同相分量支路和所述辅接收通道的同相分量支路连接；所述移相器的第二输出端分别与所述主接收通道的移相分量支路和所述辅接收通道的移相分量支路连接。

【技术特征摘要】
1.一种移相电路，其特征在于，包括：一个移相器、主接收通道和辅接收通道；所述移相器的输入端与时钟信号输入源的输出端连接；所述移相器的第一输出端分别与所述主接收通道的同相分量支路和所述辅接收通道的同相分量支路连接；所述移相器的第二输出端分别与所述主接收通道的移相分量支路和所述辅接收通道的移相分量支路连接。2.根据权利要求1所述的移相电路，其特征在于，所述移相器的输出端分别通过混频器与所述主接收通道以及所述辅接收通道连接。3.根据权利要求1所述的移相电路，其特征在于，所述时钟信号输入源包括依次连接的分频器、频率综合器和预设频率时钟源，所述移相器的输入端与所述分频器的输出端连接。4.根据权利要求3所述的移相电路，其特征在于，所述预设频率时钟源为26MHz时钟源。5.根据权利要求1所述的移相电路，其特征在于，所述移相器的移相角为0度/90度。6.根据权利要求5所述的移相电路，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：林代娟，张勇，陈文杰，
申请(专利权)人：联芯科技有限公司，大唐半导体设计有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31