一种多探头和单探头综合测试系统和测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种多探头和单探头综合测试系统和测试方法，旨在解决现有的天线测量系统中无法实现从米波级频带到毫米波级频带的测量的缺点，其技术方案要点是：一种多探头和单探头综合测试系统，包括可旋转的承载台、位于所述承载台一侧具有多个呈环形阵列分布的用于实现米波级与毫米波级之间频带检测的第一探头的多探头阵列装置、以及位于与所述多探头阵列装置相对的一侧具有一能够绕被测物旋转以形成检测弧面的用于检测米波级频带及毫米波级频带上下延伸的第二探头的单探头检测装置。本发明专利技术的测试系统和测试方法实现了对被测物从米波级频带到毫米波级频带辐射特性数据的测量，且测量过程更加便捷。

An integrated test system and test method for multi probe and single probe

The invention discloses a multi probe and single probe integrated test system and a testing method, which aims to solve the shortcoming of measuring the frequency band from the meter wave band to the millimeter wave band in the existing antenna measurement system. The main point of the technical scheme is that a multi probe and single probe integrated test system, including a rotatable bearing table, is designed. A multi probe array device located at one side of the bearing platform with a plurality of circular arrays for realizing the first probe of the frequency band detection between the meter wave and the millimeter wave level, and a side having one side that is able to rotate around the measured object to form a detection surface at the opposite side of the multi probe array device for detecting the meter wave level. A single probe detector with second probes extending up and down the band and millimeter wave band. The test system and test method of the invention have realized the measurement of the measured objects from the meter wave band to the millimeter wave band radiation characteristic data, and the measurement process is more convenient.

【技术实现步骤摘要】
一种多探头和单探头综合测试系统和测试方法
本专利技术涉及天线测量
，更具体地说，它涉及一种多探头和单探头综合测试系统和测试方法。
技术介绍
在天线测量系统中需要测定电磁性能的被测物通常会具有从米波级频带到毫米波级频带不同频段的波长，而一种探头只能覆盖有限的一段，为了实现米波级频带到毫米波级频带的频率覆盖一般需要几十种探头，在单一的多探头阵列中是无法实现的；同时米波级频带的探头一般都比较大，尺寸可以通常在1米到3米，将它作为多探头阵列布置在一个弧形阵列上是难以实现的，而毫米波级频带虽然探头尺寸小，但是其配到的波导和扩频模块体积也非常大，在弧形阵列上布局多探头也是不现实的，因此在现有的天线测量系统中，要实现从米波级频带到毫米波级频带的测量是十分困难的。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足，本专利技术的第一个目的在于提供一种多探头和单探头综合测试系统，具有实现从米波级频带到毫米波级频带的测量更加便捷的优点。本专利技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种多探头和单探头综合测试系统，包括可旋转的承载台、位于所述承载台一侧具有多个呈环形阵列分布的用于实现米波级与毫米波级之间频带检测的第一探头的多探头阵列装置、以及位于与所述多探头阵列装置相对的一侧具有一能够绕被测物旋转以形成检测弧面的用于检测米波级频带及毫米波级频带上下延伸的第二探头的单探头检测装置。通过采用上述技术方案，在测试时，驱动承载台转动，第一探头即可形成对被测物的检测球面，从而检测出被测物米波级与毫米波级之间频带的辐射特性数据；若需要检测米波级频带及毫米波级频带上下延伸范围的辐射特性数据，驱动第二探头绕被测物转动一周，第二探头对被测物的一个切面进行检测，随后再驱动承载台转动至被测物的另一个切面，第二探头对被测物的第二个切面进行检测，直至承载台转动一周，第二探头也形成对被测物的检测球面，从而检测出被测物米波级频带及毫米波级频带上下延伸范围的辐射特性数据；通过多探头阵列装置和单探头检测装置的同步使用，实现了对被测物从超长波到毫米波级频带辐射特性数据的测量，测量过程更加便捷。本专利技术进一步设置为：所述多探头阵列装置包括用于固定多个所述第一探头且呈扇形状的安装环和用于固定所述安装环的支撑架，所述承载台位于所述安装环的圆心处。通过采用上述技术方案，安装环呈扇形状，从而第一探头在安装环上即呈环形阵列分布，形成对被测物的检测弧面，实现对被测物米波级与毫米波级之间频带的辐射特性数据的测量。本专利技术进一步设置为：所述单探头检测装置包括立架、转动连接于所述立架用于固定所述第二探头的摆臂、以及用于驱动所述摆臂转动的驱动机构，所述第二探头位于所述承载台的正上方。通过采用上述技术方案，通过驱动机构驱动摆臂转动，从而带动第二探头绕被测物进行旋转，形成对被测物的检测弧面，实现对被测物米波级频带及毫米波级频带上下延伸范围的辐射特性数据的测量。本专利技术进一步设置为：所述驱动机构包括承托架、固定于所述承托架的第一驱动电机、固定于所述第一驱动电机转轴的第一主动齿轮、以及固定于所述摆臂且与所述第一主动齿轮相啮合的第一从动齿轮。通过采用上述技术方案，启动第一驱动电机带动第一主动齿轮转动，从而带动第一从动齿轮转动，即带动摆臂转动，最终带动第二探头绕被测物转动形成检测弧面。本专利技术进一步设置为：所述承托架滑移连接于所述立架，且所述立架上设有用于驱动所述摆臂沿竖直方向移动的升降机构。通过采用上述技术方案，在测试前，根据被测物的形状和大小通过升降机构驱动摆臂在竖直方向上滑移，使摆臂的转动中心位于与被测物的中心位置相对齐，从而使第二探头形成的检测弧面更加完整，检测效果更好。本专利技术进一步设置为：所述升降机构包括固定于所述立架的第二驱动电机和固定于所述第二驱动电机转轴且螺纹连接于所述承托架的第一丝杆。通过采用上述技术方案，启动第二驱动电机即带动第一丝杆转动，由于承托架与立架滑移连接，因此第一丝杆在正反转的过程中即可带动承托架沿竖直方向移动。本专利技术进一步设置为：所述承载台包括载物平台、用于驱动所述载物平台转动的周向驱动组件和用于驱动所述载物平台升降的轴向驱动组件。通过采用上述技术方案，通过周向驱动组件驱动载物平台转动，从而形成对被测物的检测球面，通过轴向驱动组件驱动载物平台的升降，方便被测物的放置，并能够调整被测物的位置，使被测物位于安装环的圆心处，从而使检测效果更好。本专利技术进一步设置为：所述周向驱动组件包括的转动连接于地面的支撑杆、固在地面上的第三驱动电机、固定于所述第三驱动电机转轴的第二主动齿轮、固定于所述支撑杆且与所述第二主动齿轮相啮合的第二从动齿轮以及固定于所述支撑杆端部的支撑平台。通过采用上述技术方案，启动第三驱动电机即可带动第二主动齿轮转动，并啮合第二从动齿轮转动，即可带动支撑杆转动，从而带动支撑平台转动，最终实现载物平台的转动。本专利技术进一步设置为：所述轴向驱动组件包括固定于所述支撑平台的安装套筒、转动连接于所述安装套筒底壁的从动锥齿轮、固定于所述从动锥齿轮端面的升降套筒、螺纹连接于所述升降套筒且滑移连接于所述安装套筒的升降杆、转动连接于所述升降套筒且与所述从动锥齿轮相啮合的主动锥齿轮、以及固定于所述支撑平台且转轴固定于所述主动锥齿轮的第四驱动电机，所述载物平台固定于所述升降杆的端部。通过采用上述技术方案，启动第四驱动电机即可带动主动锥齿轮转动，并啮合从动锥齿轮转动，升降套筒跟随从动锥齿轮同步转动，由于升降杆与安装套筒滑移连接且升降套筒滑移连接，因此升降套筒在转动的过程中即会驱动升降管进行竖直方向的升降运动，从而带动载物平台升降。本专利技术进一步设置为：所述承载台还包括用于驱动所述载物平台沿水平方向发生倾斜的横向驱动组件。通过采用上述技术方案，通过横向驱动组件驱动载物平台发生倾斜或由倾斜状态恢复水平，从而使被测物具有不同的检测角度，根据被测数据的需要调整被测物角度，提高对被测物的检测效果。本专利技术进一步设置为：所述支撑平台包括上、下分体设置且相互贴合的上支撑板和下支撑板，所述上支撑板和所述下支撑板的贴合处呈弧形设置，且所述上支撑板滑移连接于所述下支撑板；所述横向驱动组件包括固定于所述上支撑板的驱动齿条、固定与所述下支撑板的第五驱动电机、以及固定于所述第五驱动电机转轴且与所述驱动齿条相啮合的第三主动齿轮。通过采用上述技术方案，启动第五驱动电机即可带动第三主动齿轮转动，从而啮合驱动齿条移动，即带动上支撑板发生左右滑移，而由于上支撑板和下支撑板的贴合处为弧形，因此上支撑板在左右偏移后即可相对与下支撑板发生倾斜，从而带动载物平台发生倾斜。本专利技术进一步设置为：地面上设有滑轨，所述支撑架和所述立架均滑移连接于所述滑轨，且在地面上设有用于驱动所述支撑架所述立架沿所述滑轨滑移的滑移驱动组件。通过采用上述技术方案，通过滑移驱动组件驱动支撑架和立架沿着滑轨滑移，可以调节安装环和摆臂与承载台的位置关系，使被测物能够更加准确的位于安装环的中心或位于摆臂的转动中心，从而提高检测效果；同时可以通过滑移驱动组件可以将支撑架和立架滑移至暗室的一侧，使暗室具有较大的活动空间以便完成其余的检测工作；同时可以通过滑移支撑架和立架带动第一探头和第二探头移动而对被测物形成平面扫描，使测试形式更加多样化，满足不同形式的测试要求。本专利技术进一本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多探头和单探头综合测试系统，其特征在于：包括可旋转的承载台、位于所述承载台一侧具有多个呈环形阵列分布的用于实现米波级与毫米波级之间频带检测的第一探头(13)的多探头阵列装置、以及位于与所述多探头阵列装置相对的一侧具有一能够绕被测物旋转以形成检测弧面的用于检测米波级频带及毫米波级频带上下延伸的第二探头(23)的单探头检测装置。

【技术特征摘要】
1.一种多探头和单探头综合测试系统，其特征在于：包括可旋转的承载台、位于所述承载台一侧具有多个呈环形阵列分布的用于实现米波级与毫米波级之间频带检测的第一探头(13)的多探头阵列装置、以及位于与所述多探头阵列装置相对的一侧具有一能够绕被测物旋转以形成检测弧面的用于检测米波级频带及毫米波级频带上下延伸的第二探头(23)的单探头检测装置。2.根据权利要求1所述的一种多探头和单探头综合测试系统，其特征在于：所述多探头阵列装置包括用于固定多个所述第一探头(13)且呈扇形状的安装环(12)和用于固定所述安装环(12)的支撑架(11)，所述承载台位于所述安装环(12)的圆心处。3.根据权利要求2所述的一种多探头和单探头综合测试系统，其特征在于：所述单探头检测装置包括立架(21)、转动连接于所述立架(21)用于固定所述第二探头(23)的摆臂(22)、以及用于驱动所述摆臂(22)转动的驱动机构，所述第二探头(23)位于所述承载台的正上方。4.根据权利要求3所述的一种多探头和单探头综合测试系统，其特征在于：所述驱动机构包括承托架(241)、固定于所述承托架(241)的第一驱动电机(242)、固定于所述第一驱动电机(242)转轴的第一主动齿轮(243)、以及固定于所述摆臂(22)且与所述第一主动齿轮(243)相啮合的第一从动齿轮(244)。5.根据权利要求4所述的一种多探头和单探头综合测试系统，其特征在于：所述承托架(241)滑移连接于所述立架(21)，且所述立架(21)上设有用于驱动所述摆臂(22)沿竖直方向移动的升降机构。6.根据权利要求5所述的一种多探头和单探头综合测试系统，其特征在于：所述升降机构包括固定于所述立架(21)的第二驱动电机(251)和固定于所述第二驱动电机(251)转轴且螺纹连接于所述承托架(241)的第一丝杆(252)。7.根据权利要求1至6任意一项所述的一种多探头和单探头综合测试系统，其特征在于：所述承载台包括载物平台(31)、用于驱动所述载物平台(31)转动的周向驱动组件和用于驱动所述载物平台(31)升降的轴向驱动组件。8.根据权利要求7所述的一种多探头和单探头综合测试系统，其特征在于：所述周向驱动组件包括的转动连接于地面的支撑杆(321)、固在地面上的第三驱动电机(322)、固定于所述第三驱动电机(322)转轴的第二主动齿轮(323)、固定于所述支撑杆(321)且与所述第二主动齿轮(323)相啮合的第二从动齿轮(324)以及固定于所述支撑杆(321)端部的支撑平台。9.根据权利要求8所述的一种多探头和单探头综合测试系统，其特征在于：所述轴向驱动组件包括固定于所述支撑平台的安装套筒(331)、转动连接于所述安装套筒(331)底壁的从动...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘科宏，
申请(专利权)人：刘科宏，
类型：发明
国别省市：海南,46