可检测工件凹槽底端壁厚的外径千分尺制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可检测工件凹槽底端壁厚的外径千分尺，解决了深度大于38毫米的凹槽底端壁厚的测量难题。包括千分尺测砧（1）、带凹槽工件（4）和测微螺杆（5），在千分尺测砧（1）上活动套接有支承套筒（2），在支承套筒（2）中连接有加长尖头测量杆（3），在加长尖头测量杆（3）与测微螺杆（5）之间设置有带凹槽工件（4），加长尖头测量杆（3）的尖头顶接在带凹槽工件（4）的凹槽底端内侧面上，测微螺杆（5）的端头顶接在带凹槽工件（4）的下底面上。充分利用了千分尺自身的量具精度，测量尺寸精确，具有一定的通用性。

An external diameter micrometer that can detect the thickness of the bottom end of the workpiece groove.

The utility model discloses an external diameter micrometer which can detect the thickness of the bottom end wall of the grooves of the workpiece, and solves the problem of measuring the thickness of the bottom end of the groove at the depth of more than 38 millimeters. Including a micrometer anvil (1), a grooved workpiece (4) and a micrometer screw (5), a supporting sleeve (2) is connected to a micrometer anvil (1), a lengthened pointed measuring rod (3) is connected in the support sleeve (2), and a grooved workpiece (4) is set between the lengthened tip measuring rod (3) and the micrometer screw (5). The tip of the lengthened pointed measuring rod (3) is attached to the inner side of the bottom of the groove with a grooved workpiece (4), and the end of the micrometer screw (5) is attached to the lower bottom surface of the grooved workpiece (4). It makes full use of the measuring accuracy of the micrometer, and the measurement accuracy is quite universal.

【技术实现步骤摘要】
可检测工件凹槽底端壁厚的外径千分尺
本技术涉及一种工件厚度的检测装置，特别涉及一种对工件上的凹槽的底端处的壁厚进行测量的装置。
技术介绍
在对工件凹槽底端壁厚进行测量时，采用的量具一般是游标卡尺和外径千分尺，但游标卡尺的量爪只能测量平面，而外径千分尺测砧为平面，也无法接触到凹槽的底部。现有的能测量尺寸1.50-0.2范围各种测量工具，均存在测量深度不够的问题，如要使测量深度大于38毫米，就需要对现有量具进行改进，而满足上述条件的量具只有外径千分尺，需要改制的部位是外径千分尺的尺架和测砧两处。外径千分尺是依据螺旋传动原理制成的，分辨为0.01-0.001毫米，测量精度非常高，尤其是尺架、测微螺杆、测砧等部分影响到测量精度。如何利用现有外径千分尺完成凹槽的精确测量，又不损伤千分尺，是现场检测中急需要解决的问题。
技术实现思路
本技术提供了一种可检测工件凹槽底端壁厚的外径千分尺，解决了深度大于38毫米的凹槽底端壁厚的测量难题。本技术是通过以下技术方案解决以上技术问题的：一种可检测工件凹槽底端壁厚的外径千分尺，包括千分尺测砧、带凹槽工件和测微螺杆，在千分尺测砧上活动套接有支承套筒，在支承套筒中连接有加长尖头测量杆，在加长尖头测量杆与测微螺杆之间设置有带凹槽工件，加长尖头测量杆的尖头顶接在带凹槽工件的凹槽底端内侧面上，测微螺杆的端头顶接在带凹槽工件的下底面上。千分尺测砧的外径是与加长尖头测量杆的外径相同的。本技术不损坏量具原有测量特性及自身结构，充分利用了千分尺自身的量具精度，测量尺寸精确，具有一定的通用性，可以测量各种形状的凹槽及盘状类产品，凹型薄壁件等；支承套筒和加长尖头测量杆可在不同量程范围的千分尺上使用，互换性好。附图说明图1是本技术的结构示意图。具体实施方式下面结合附图对本技术进行详细说明：一种可检测工件凹槽底端壁厚的外径千分尺，包括千分尺测砧1、带凹槽工件4和测微螺杆5，在千分尺测砧1上活动套接有支承套筒2，在支承套筒2中连接有加长尖头测量杆3，在加长尖头测量杆3与测微螺杆5之间设置有带凹槽工件4，加长尖头测量杆3的尖头顶接在带凹槽工件4的凹槽底端内侧面上，测微螺杆5的端头顶接在带凹槽工件4的下底面上。千分尺测砧1的外径是与加长尖头测量杆3的外径相同的；外径千分尺上的锁紧机构6、固定套管7和微分筒8均保持不变。测量范围为50-75毫米的外径千分尺，它的最小测量尺寸是50毫米，如测量尺寸为1.5毫米，就需要增加一个加长尖头测量杆3，最小长度为50毫米；加长尖头测量杆3的外径与千分尺测砧1的外径一致，一端为平面与千分尺测砧接触，另一端根据测量部位需要制作成不同形状，如圆锥形、梯形、U形等，根据圆弧凹槽做成锥角为60度圆锥形；千分尺测砧1是固定在尺架上的，无法取出，需要做一个活动套筒，套接在测砧上，用于支承和固定加长尖头测量杆，可根据千分尺的规格将支承套筒2做成阶梯形，内孔为通孔，直径与测砧一致，孔和轴采用间隙配合。先将外径千分尺用校对量杆进行零位校准，松开锁紧机构6，转动微分筒8，使测量距离大于50毫米；将加长尖头测量杆3的平面一端放入支承套筒2内，然后，将支承套筒2的大端插入千分尺测砧内，使端面与尺架端面紧紧贴合；转动微分筒8，使测微螺杆5与加长尖头测量杆3接触对零，微分筒8上的零线与固定套管7上的基准线在一条直线上；测量时，将千分尺两测量面与被测部位接触后，按千分尺的测量方法进行测量和直接读数。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可检测工件凹槽底端壁厚的外径千分尺，包括千分尺测砧（1）、带凹槽工件（4）和测微螺杆（5），其特征在于，在千分尺测砧（1）上活动套接有支承套筒（2），在支承套筒（2）中连接有加长尖头测量杆（3），在加长尖头测量杆（3）与测微螺杆（5）之间设置有带凹槽工件（4），加长尖头测量杆（3）的尖头顶接在带凹槽工件（4）的凹槽底端内侧面上，测微螺杆（5）的端头顶接在带凹槽工件（4）的下底面上。

【技术特征摘要】
1.一种可检测工件凹槽底端壁厚的外径千分尺，包括千分尺测砧（1）、带凹槽工件（4）和测微螺杆（5），其特征在于，在千分尺测砧（1）上活动套接有支承套筒（2），在支承套筒（2）中连接有加长尖头测量杆（3），在加长尖头测量杆（3）与测微螺杆（5）之间设置有带凹槽工件（...

【专利技术属性】
技术研发人员：李卫，孟强，郑云凯，杨西军，张志明，
申请(专利权)人：山西江淮重工有限责任公司，
类型：新型
国别省市：山西,14