一种物镜像质与焦深的检测装置制造方法及图纸

技术编号:18172169 阅读:199 留言:0更新日期:2018-06-09 15:48
本实用新型专利技术公开了一种物镜像质与焦深的检测装置,包括相机以及固定在相机前端的镜筒,待测物镜位于镜筒内;还包括水平放置的底座以及垂直于底座设置的竖向导轨I,竖向导轨I上设有与导轨I相互配合连接的滑块I;底座上固定有二维倾斜台,所述二维倾斜台上固定有二维平移台,所述二维平移台上固定有底部带光源的双面分划板;所述滑块I固定连接有竖向微调装置,竖向微调装置包括固定在滑块I上的竖向导轨II、与竖向导轨II相互配合连接的滑块II以及与滑块II固定连接的放置架,镜筒架设在放置架上;还包括图像处理装置,所述相机与图像处理装置连接。

【技术实现步骤摘要】
一种物镜像质与焦深的检测装置
本技术涉及一种物镜像质与焦深的检测装置,属于光学仪器

技术介绍
传统的物镜焦深检测方法需要在焦深范围内移动分划板,分析分划板在不同位置物镜采集到图像的结果进行对比,来计算最佳像面,但是因为物镜场曲和畸变不可避免的存在,最佳焦面不容易确定,在检测过程中需要多次离焦来确定最佳像面最终对比出数据结果。
技术实现思路
技术目的:本技术所要解决的技术问题是提供一种物镜像质与焦深的检测装置,该检测装置可测量出物镜在焦深范围内的具体性能。为解决上述技术问题,本技术所采用的技术方案为:一种物镜像质与焦深的检测装置,包括相机以及固定在相机前端的镜筒,待测物镜位于镜筒内;还包括水平放置的底座以及垂直于底座设置的竖向导轨I,竖向导轨I上设有与导轨I相互配合连接的滑块I;底座上固定有二维倾斜台,所述二维倾斜台上固定有二维平移台,所述二维平移台上固定有底部带光源的双面分划板;所述滑块I固定连接有竖向微调装置,竖向微调装置包括固定在滑块I上的竖向导轨II、与竖向导轨II相互配合连接的滑块II以及与滑块II固定连接的放置架,镜筒架设在放置架上。进一步优选,所述相机和待测物镜的光轴与双面分划板的中心线位于同一条直线上。进一步优选,还包括图像处理装置,所述相机与图像处理装置连接。进一步优选,所述双面分划板的两面采用交错方法刻画黑白格,双面分划板的厚度等于待测物镜的焦深。进一步优选,所述二维倾斜台包括底板I,底板I上设有Y向的转轴,Y向转轴上固定有Y向转向板,Y向转向板上设有X向的转轴,X向转轴上固定有X向转向板,所述X向转轴与Y向转轴分别与转向动力机构连接。进一步优选,所述二维平移台包括底板II,底板II上设有X向传动装置,X向传动装置包括电机I以及与电机I转轴传动连接的滚珠丝杆I,滚珠丝杆I通过轴承固定在底板II上,滚珠丝杆I上设有与滚珠丝杆I相互配合连接的X向滑块,X向滑块上固定连接有X向移动板;X向移动板上设有Y向传动装置,Y向传动装置包括电机II以及与电机II转轴传动连接的滚珠丝杆II,滚珠丝杆II通过轴承固定在X向移动板上,滚珠丝杆II上设有与滚珠丝杆II相互配合连接的Y向滑块,Y向滑块上固定连接有Y向移动板。相比于现有技术,本技术技术方案具有的有益效果为:本技术检测装置的原理采用成像原理,双面分划板在两个面都刻了黑白网格,通过待测物镜和标准筒成像到相机上,相机采集了双面分划板两面的像作为图像处理装置的输入,双面分划板在整个检测过程中无需移动;本技术检测装置在检测前通过竖向微调装置、二维平移台和二维倾斜台结合使用,使双面分划板与待测物镜光轴垂直度在1’之内。附图说明图1为本技术物镜像质与焦深的检测装置的结构示意图;图2为本技术物镜像质与焦深的检测装置中二维倾斜台的结构示意图;图3为本技术物镜像质与焦深的检测装置中二维平移台的结构示意图。具体实施方式以下结合附图对本技术技术方案作进一步说明。如图1~3所示,本技术物镜像质与焦深的检测装置,包括相机1以及固定在相机1前端的镜筒2,待测物镜位于镜筒2内;还包括水平放置的底座3以及垂直于底座3设置的竖向导轨I4,竖向导轨I4上设有与导轨I5相互配合连接的滑块I6;底座3上固定有二维倾斜台8,二维倾斜台8上固定有二维平移台7,二维平移台7上固定有底部带光源10的双面分划板9;滑块I6固定连接有竖向微调装置,竖向微调装置包括固定在滑块I6上的竖向导轨II11、与竖向导轨II11相互配合连接的滑块II12以及与滑块II12固定连接的放置架13,镜筒2固定架设在放置架13上;相机1和待测物镜的光轴与双面分划板9的中心线位于同一条直线上;本技术物镜像质与焦深的检测装置还包括图像处理装置15,相机1与图像处理装置15连接。本技术装置中二维倾斜台包括底板I8-1,底板I8-1上设有Y向的转轴8-4,Y向转轴8-4上固定有Y向转向板8-2,Y向转向板8-2上设有X向的转轴8-5,X向转轴8-5上固定有X向转向板8-3,X向转轴8-5连接有转动手柄8-6,通过转动手柄8-6给予X向转轴8-5转动动力,Y向转轴8-4连接有转动手柄8-7,通过转动手柄8-7给予Y向转轴8-4转动动力。本技术装置中二维平移台包括底板II7-1,底板II7-1上设有X向传动装置,X向传动装置包括电机I7-5以及与电机I7-5转轴传动连接的滚珠丝杆I7-7,滚珠丝杆I7-7通过轴承7-6固定在底板II7-1上,滚珠丝杆I7-7上设有与滚珠丝杆I7-7相互配合连接的X向滑块7-4,X向滑块7-4上固定连接有X向移动板7-2;X向移动板7-2上设有Y向传动装置,Y向传动装置包括电机II7-8以及与电机II7-8转轴传动连接的滚珠丝杆II7-11,滚珠丝杆II7-11通过轴承7-9固定在X向移动板7-2上,滚珠丝杆II7-11上设有与滚珠丝杆II7-11相互配合连接的Y向滑块7-10,Y向滑块7-10上固定连接有Y向移动板7-3。二维倾斜台的底板I8-1固定在底座3上,二维平移台的底板II7-1固定在二维倾斜台的X向转向板8-3上,底部带光源10的双面分划板9固定在Y向移动板7-3上。双面分划板9的两面采用交错方法刻画黑白格,黑白格尺寸需在待测物镜镜头视场内,双面分划板9的厚度等于待测物镜的焦深,双面分划板9同均匀光照明模组整组装配,照明模组光源10采用大发散角LED面板方式,照明模组提供均匀照明且尺寸略大于双面分划板9,均匀性和时间上的稳定性均被高精度标定用于后期系统性消除影响。双面分划板9与平板光源10放在可以调节倾斜和平移的调节台上,相机1与待测物镜通过转接微调机构相连接并固定在竖向微调装置上,竖向微调装置与竖直导轨I4的滑块I6固定连接,先移动滑块I6使待测物镜与双面分划板9处于所需位置,在微动竖向微调装置。竖向微调机构、二维平移台7和二维倾斜台8结合使用,使双面分划板9与待测物镜光轴垂直度在1’之内;待测物镜、竖向移动导轨以及竖向微调装置的移动精度小于焦深范围的二十分之一;相机1及竖向微调装置,相机1及双面分划板9之间的尺寸需要满足光学系统总长的1%内,在系统调试阶段可微调,微调后即固定,以后的测试过程中无需再做调整。在测试过程中待测物镜需要通过竖向微调装置微调来寻找最佳像面以满足双面分划板9两面像质均满足测试要求。本文档来自技高网...
一种物镜像质与焦深的检测装置

【技术保护点】
一种物镜像质与焦深的检测装置,其特征在于:包括相机以及固定在相机前端的镜筒,待测物镜位于镜筒内;还包括水平放置的底座以及垂直于底座设置的竖向导轨I,竖向导轨I上设有与导轨I相互配合连接的滑块I;底座上固定有二维倾斜台,所述二维倾斜台上固定有二维平移台,所述二维平移台上固定有底部带光源的双面分划板;所述滑块I固定连接有竖向微调装置,竖向微调装置包括固定在滑块I上的竖向导轨II、与竖向导轨II相互配合连接的滑块II以及与滑块II固定连接的放置架,镜筒架设在放置架上。

【技术特征摘要】
1.一种物镜像质与焦深的检测装置,其特征在于:包括相机以及固定在相机前端的镜筒,待测物镜位于镜筒内;还包括水平放置的底座以及垂直于底座设置的竖向导轨I,竖向导轨I上设有与导轨I相互配合连接的滑块I;底座上固定有二维倾斜台,所述二维倾斜台上固定有二维平移台,所述二维平移台上固定有底部带光源的双面分划板;所述滑块I固定连接有竖向微调装置,竖向微调装置包括固定在滑块I上的竖向导轨II、与竖向导轨II相互配合连接的滑块II以及与滑块II固定连接的放置架,镜筒架设在放置架上。2.根据权利要求1所述的物镜像质与焦深的检测装置,其特征在于:所述相机和待测物镜的光轴与双面分划板的中心线位于同一条直线上。3.根据权利要求1所述的物镜像质与焦深的检测装置,其特征在于:还包括图像处理装置,所述相机与图像处理装置连接。4.根据权利要求1所述的物镜像质与焦深的检测装置,其特征在于:所述双面分划板的两面采用交错方法刻画黑...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯建东
申请(专利权)人:茂莱南京仪器有限公司
类型:新型
国别省市:江苏,32

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