闪存颗粒测试分类工作台制造技术

本发明专利技术公开了一种闪存颗粒测试分类工作台，包括：表面呈上、下两层阶梯的测试桌；可拆卸地固定在所述测试桌的下层阶梯上的至少一个测试架；可拆卸地固定在所述测试架上，并用于加载多个闪存颗粒的至少一个测试治具。本发明专利技术有效提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
闪存颗粒测试分类工作台
本专利技术涉及闪存颗粒（NANDFlash）测试领域，尤其涉及闪存颗粒测试分类工作台。
技术介绍
闪存颗粒在需要做分类筛选时，一般使用随意制作的测试分类工作平台，其只关注在是否可以做测试上，而没有从测试人员的工作效率/疲劳度/产品的取放方便度/异常故障排除的时效性等做考虑。这样会造成人员流动率高/易疲劳/产品取放位置不佳而造成引脚变形和故障排除的时间较长等异常状况。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种闪存颗粒测试分类工作台，有效提高测试效率。实现上述目的的技术方案是：一种闪存颗粒测试分类工作台，包括：表面呈上、下两层阶梯的测试桌；可拆卸地固定在所述测试桌的下层阶梯上的至少一个测试架；以及可拆卸地固定在所述测试架上，并用于加载多个闪存颗粒的至少一个测试治具。优选的，所述测试架的表面呈上、中、下三层阶梯，每个阶梯上可拆卸地固定一个所述测试治具。优选的，所述测试桌包括：呈上、下两层阶梯的桌面；支撑所述桌面底面四角的四个测试桌支架；以及竖直固定在所述桌面后侧的后挡板。优选的，还包括：固定在所述测试桌的上层阶梯上，电连接测试治具，并用于测试各闪存颗粒的至少一台测试计算机；所述测试计算机包括：置于所述测试桌下面的主机；固定在所述后挡板上方，并电连接所述主机的显示屏；紧贴地固定在所述后挡板正面，并电连接所述主机的键盘；以及置于所述测试桌的上层阶梯表面，并电连接所述主机的鼠标。优选的，还包括给所述测试计算机和所述测试治具供电的电源。本专利技术的有益效果是：本专利技术通过阶梯式的测试桌和测试架设计，配合计算机位置的合理布置，能有效降低人员的疲劳度、方便颗粒存取、避免混料，从而有效提高测试的效率和准确性。附图说明图1是本专利技术的闪存颗粒测试分类工作台的立体图；图2是本专利技术的闪存颗粒测试分类工作台的连接结构图。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术作进一步说明。请参阅图1和图2，本专利技术的闪存颗粒测试分类工作台，包括测试桌1、至少一个测试架2、至少一个测试治具3和至少一台测试计算机4。测试桌1包括：呈上、下两层阶梯的桌面；支撑桌面底面四角的四个测试桌支架11；竖直固定在桌面后侧的后挡板12。测试架2可拆卸地固定在测试桌1的下层阶梯上。测试架2的表面呈上、中、下三层阶梯，每个阶梯上可拆卸地固定一个测试治具3。测试治具3用于加载多个闪存颗粒。测试计算机4固定在测试桌1的上层阶梯上，电连接测试治具3，加载有用于测试各闪存颗粒的计算机程序。测试治具3和测试计算机4连接电源。测试计算机4一般包括：置于测试桌1下面的主机；固定在后挡板12上方，并电连接主机的显示屏；紧贴地固定在后挡板12正面，并电连接主机的键盘；置于测试桌1的上层阶梯表面，并电连接主机的鼠标。通过这种布置，能有效节约空间，同时方便存放和拿取闪存颗粒，减少混料的可能。而且配合阶梯状的测试桌1和测试架2，最大限度地保证测试人员的作业舒适度。同时，主机、显示屏、键盘、鼠标、测试桌、测试架以及测试治具的尺寸规格以及各自的放置方式均一致，便于替换。以上实施例仅供说明本专利技术之用，而非对本专利技术的限制，有关
的技术人员，在不脱离本专利技术的精神和范围的情况下，还可以作出各种变换或变型，因此所有等同的技术方案也应该属于本专利技术的范畴，应由各权利要求所限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种闪存颗粒测试分类工作台，其特征在于，包括：表面呈上、下两层阶梯的测试桌；可拆卸地固定在所述测试桌的下层阶梯上的至少一个测试架；以及可拆卸地固定在所述测试架上，并用于加载多个闪存颗粒的至少一个测试治具。

【技术特征摘要】
1.一种闪存颗粒测试分类工作台，其特征在于，包括：表面呈上、下两层阶梯的测试桌；可拆卸地固定在所述测试桌的下层阶梯上的至少一个测试架；以及可拆卸地固定在所述测试架上，并用于加载多个闪存颗粒的至少一个测试治具。2.根据权利要求1所述的闪存颗粒测试分类工作台，其特征在于，所述测试架的表面呈上、中、下三层阶梯，每个阶梯上可拆卸地固定一个所述测试治具。3.根据权利要求1所述的闪存颗粒测试分类工作台，其特征在于，所述测试桌包括：呈上、下两层阶梯的桌面；支撑所述桌面底面四角的四个测试桌支架；以及竖直固...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟涛成，李庭育，庄健民，齐元辅，
申请(专利权)人：江苏华存电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32