多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法，所述方法包括：获取用于表示预先配置的芯片低功耗工作方式的配置文件，基于所述多处理器系统芯片的硬件结构，生成所述配置文件的至少一个用例；利用预设的低功耗验证流程对每个用例进行验证；在确定异常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例未通过验证；在确定正常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例通过验证；在所有的用例均通过验证时，确定预先配置的芯片低功耗工作方式正确。本发明专利技术实施例还公开了一种多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证装置。

【技术实现步骤摘要】
多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法和装置
本专利技术涉及芯片设计领域，尤其涉及一种多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法和装置。
技术介绍
随着半导体工艺技术的不断发展，及芯片的规模和工作频率的不断提高，芯片的功耗迅速增加，而功耗的增加又将导致芯片发热量的增大和可靠性的下降。因此，对芯片的低功耗设计要求越来越高，芯片的电源分区划分得越来越细致，导致低功耗控制越来越复杂，低功耗场景越来越多，从而对低功耗验证技术的提出了更高的要求和更大的挑战。电子设计自动化(ElectronicsDesignAutomation，EDA)业界支持的低功耗设计标准有两种：一种是在硅集成创新联盟的赞助下，由Cadence公司推出的公共功耗格式标准(CommonPowerFormat，CPF)，另一种是由Synopsys、Mentor和Magma公司支持的统一功耗格式标准(UnifiedPowerFormat，UPF)。CPF和UPF都是使用工具命令语言(ToolCommandLanguage，TCL)建立脚本，用户可以使用其中的指令建立和管理独立电源域、确定隔离、定义与电源相关的规则和限制条件等。目前，大多数芯片会使用由多种处理器构成的多处理器系统，在芯片的低功耗设计过程中，会将CPF或者UPF与芯片的硬件设计代码相结合，以实现多处理器系统芯片的整体低功耗方案。但是对使用多处理器系统的芯片进行低功耗验证时，更多的是针对其子系统或者单模块进行单独的低功耗验证，而缺少对芯片整体低功耗设计流程的验证方法。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术实施例期望提供一种多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法和装置，实现了多处理器系统芯片的整体低功耗设计流程的验证。本专利技术的技术方案是这样实现的：本专利技术实施例提供了一种多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法，包括：获取用于表示预先配置的芯片低功耗工作方式的配置文件，基于所述多处理器系统芯片的硬件结构，生成所述配置文件的至少一个用例；利用预设的低功耗验证流程对每个用例进行验证；在确定异常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例未通过验证；在确定正常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例通过验证；在所有的用例均通过验证时，确定预先配置的芯片低功耗工作方式正确。上述方案中，所述预设的低功耗验证流程包括：A1：在满足预设的低功耗条件时，控制芯片跳转至低功耗状态；A2：对所述芯片执行唤醒操作，使所述芯片从低功耗状态恢复至正常工作状态；A3：结束流程。上述方案中，在控制芯片跳转至低功耗状态之前，所述预设的低功耗验证流程还包括：配置所述芯片的低功耗模式；所述控制芯片跳转至低功耗状态，包括：控制芯片跳转至与配置的低功耗模式对应的低功耗状态。上述方案中，所述预设的低功耗条件包括：获得低功耗状态跳转使能信号，所述低功耗状态跳转使能信号用于指示所述芯片进行相应的低功耗状态跳转。上述方案中，所述对所述芯片执行唤醒操作，包括：产生唤醒中断信号，以指示所述芯片执行唤醒操作。上述方案中，所述方法还包括：在所述结束流程之后，确定正常结束低功耗验证流程。上述方案中，所述预设的低功耗验证流程还包括：在确定不满足预设的低功耗条件时，进行第一次持续等待直至满足预设的低功耗条件；判断进行第一次持续等待的时间是否超过第一预设时长；在判断结果为是的情况下，确定异常结束低功耗验证流程；或者，在对所述芯片执行唤醒操作之后，进行第二次持续等待直至所述芯片从低功耗状态恢复至正常工作状态；判断进行第二次持续等待的时间是否超过第二预设时长；在判断结果为是的情况下，确定异常结束低功耗验证流程。上述方案中，所述方法还包括：在至少一个用例未通过验证时，确定所述芯片的低功耗设计方案不正确。本专利技术实施例还提供了一种多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证装置，其特征在于，所述装置包括：生成模块、验证模块和确定模块；其中，生成模块，用于获取用于表示预先配置的芯片低功耗工作方式的配置文件，基于所述多处理器系统芯片的硬件结构，生成所述配置文件的至少一个用例；验证模块，用于利用预设的低功耗验证流程对每个用例进行验证；在确定异常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例未通过验证；在确定正常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例通过验证；确定模块，用于在所有的用例均通过验证时，确定预先配置的芯片低功耗工作方式正确。上述方案中，所述预设的低功耗验证流程包括：A1：在满足预设的低功耗条件时，控制芯片跳转至低功耗状态；A2：对所述芯片执行唤醒操作，使所述芯片从低功耗状态恢复至正常工作状态；A3：结束流程。上述方案中，所述验证模块，还用于在确定所述在所述结束流程之后，确定正常结束低功耗验证流程。上述方案中，在确定不满足预设的低功耗条件时，进行第一次持续等待直至满足预设的低功耗条件；所述验证模块，还用于判断进行第一次持续等待的时间是否超过第一预设时长；在判断结果为是的情况下，确定异常结束低功耗验证流程；或者，所述预设的低功耗验证流程还包括：在对所述芯片执行唤醒操作之后，进行第二次持续等待直至所述芯片从低功耗状态恢复至正常工作状态；所述验证模块，还用于判断进行第二次持续等待的时间是否超过第二预设时长；在判断结果为是的情况下，确定异常结束低功耗验证流程。本专利技术实施例提供的一种多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法和装置，获取用于表示预先配置的芯片低功耗工作方式的配置文件，基于所述多处理器系统芯片的硬件结构，生成所述配置文件的至少一个用例；利用预设的低功耗验证流程对每个用例进行验证；在确定异常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例未通过验证；在确定正常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例通过验证；在所有的用例均通过验证时，确定预先配置的芯片低功耗工作方式正确。如此，实现了多处理器系统芯片的整体低功耗设计流程的验证。附图说明图1为本专利技术多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法的第一实施例的流程图；图2为本专利技术实施例中多处理器系统芯片的电源分区示意图；图3为本专利技术多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法的第二实施例的流程图；图4为本专利技术实施例中多处理器系统芯片的结构示意图；图5为本专利技术实施例中CPF文件的验收流程图；图6为本专利技术实施例中多处理器系统芯片的低功耗验证流程图；图7为本专利技术实施例中多处理器系统芯片的低功耗控制信号时序的示意图；图8为本专利技术实施例多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证装置的组成结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。第一实施例图1为本专利技术多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法的第一实施例的流程图，如图1所示，该方法包括：步骤10：获取用于表示预先配置的芯片低功耗工作方式的配置文件，基于所述多处理器系统芯片的硬件结构，生成所述配置文件的至少一个用例。这里，配置文件是用于实现芯片的低功耗设计方案，设计方案中包括了芯片的各种低功耗工作方式。而在进行芯片的低功耗设计方案验证时可以使用CPF文件或者UPF文件来仿真模拟芯片的低功耗工作状态，以便可以直接使用仿真工具来实现芯片的低功耗验证。示例性的，生成用例的过程具体可以包括：利用芯片的低功耗设计方案和多处理器系统芯片的整体硬件结构搭建芯片的低本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法，其特征在于，所述方法包括：获取用于表示预先配置的芯片低功耗工作方式的配置文件，基于所述多处理器系统芯片的硬件结构，生成所述配置文件的至少一个用例；利用预设的低功耗验证流程对每个用例进行验证；在确定异常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例未通过验证；在确定正常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例通过验证；在所有的用例均通过验证时，确定预先配置的芯片低功耗工作方式正确。

【技术特征摘要】
1.一种多处理器系统芯片的低功耗工作方式的验证方法，其特征在于，所述方法包括：获取用于表示预先配置的芯片低功耗工作方式的配置文件，基于所述多处理器系统芯片的硬件结构，生成所述配置文件的至少一个用例；利用预设的低功耗验证流程对每个用例进行验证；在确定异常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例未通过验证；在确定正常结束低功耗验证流程时，确定对应的用例通过验证；在所有的用例均通过验证时，确定预先配置的芯片低功耗工作方式正确。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的低功耗验证流程包括：A1：在满足预设的低功耗条件时，控制芯片跳转至低功耗状态；A2：对所述芯片执行唤醒操作，使所述芯片从低功耗状态恢复至正常工作状态；A3：结束流程。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在控制芯片跳转至低功耗状态之前，所述预设的低功耗验证流程还包括：配置所述芯片的低功耗模式；所述控制芯片跳转至低功耗状态，包括：控制芯片跳转至与配置的低功耗模式对应的低功耗状态。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设的低功耗条件包括：获得低功耗状态跳转使能信号，所述低功耗状态跳转使能信号用于指示所述芯片进行相应的低功耗状态跳转。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述芯片执行唤醒操作，包括：产生唤醒中断信号，以指示所述芯片执行唤醒操作。6.根据权利要求2至4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在所述结束流程之后，确定正常结束低功耗验证流程。7.根据权利要求2至4任一项所述的方法，其特征在于，所述预设的低功耗验证流程还包括：在确定不满足预设的低功耗条件时，进行第一次持续等待直至满足预设的低功耗条件；判断进行第一次持续等待的时间是否超过第一预设时长；在判断结果为是的情况下，确定异常结束低功耗验证流程；或者，在对所述芯片执行唤醒操作之后，进行第二次持续等待直至所述芯片从低功耗状态恢...

【专利技术属性】
技术研发人员：康颖，
申请(专利权)人：深圳市中兴微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44