一种直线中间检测方法技术

技术编号:18136941 阅读:14 留言:0更新日期:2018-06-06 10:51
本发明专利技术涉及一种石英晶体行业的参数,尤其是一种直线中间检测方法,将需要检测晶体数值在电脑里设定,电机转动后,带动晶体移动,晶体接触测试头时,测试头检测晶体的参数,参数值立刻在电脑上显示,解决了直线微调机不能精确检测晶体电阻等参数,能根据客户需求,检测不同的晶体参数,判定产品性能,达到设计的效果。

A linear intermediate detection method

The invention relates to a parameter of the quartz crystal industry, especially a linear intermediate detection method, which will need to detect the crystal values in the computer. After the motor is rotated, the crystal moves. When the crystal contacts the test head, the test head detects the parameters of the crystal. The parameter values are displayed on the computer immediately, and the straight-line trimming is solved. The machine can not accurately detect crystal resistance and other parameters. It can detect different crystal parameters according to customer needs, determine product performance and achieve design results.

【技术实现步骤摘要】
一种直线中间检测方法
本专利技术涉及一种石英晶体行业的参数,尤其是一种直线中间检测方法。
技术介绍
目前,直线微调机不能精确检测晶体电阻等参数,所以,晶体微调完成后必须检测参数,判定晶体性能。
技术实现思路
为了解决现有直线微调机不能精确检测晶体电阻等参数,本专利技术提供了一种直线中间检测方法,能根据客户需求,检测不同的晶体参数,判定产品性能,达到设计的效果。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种直线中间检测方法,将需要检测晶体数值在电脑里设定,电机转动后,带动晶体移动,晶体接触测试头时,测试头检测晶体的参数,参数值立刻在电脑上显示,检测速度快,精度高,由于上一盘的数据一直显示,不影响工作,且生产效率高。具体实施方式将需要检测晶体数值在电脑里设定,电机转动后,带动晶体移动,晶体接触测试头时,测试头检测晶体的参数,参数值立刻在电脑上显示,检测速度快,精度高,由于上一盘的数据一直显示,不影响工作,且生产效率高。

【技术保护点】
一种直线中间检测方法,其特征是:将需要检测晶体数值在电脑里设定,电机转动后,带动晶体移动,晶体接触测试头时,测试头检测晶体的参数,参数值立刻在电脑上显示。

【技术特征摘要】
1.一种直线中间检测方法,其特征是:将需要检测晶体数值在电脑里设定,电机转动后...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈志纯
申请(专利权)人:大冶市正宏电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:湖北,42

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