样品解析系统技术方案

提供样品解析系统，即便在参照物一致度较低时也能容易作出与分析对象样品有关的判断。样品解析系统根据多个分析装置(40、50)的样品测量结果对样品进行解析，具备：参照物数据库(11)，包括与各参照物的信息有关的每个分析装置得到的该参照物的测量结果及成分分类信息；参照物指定部(13)；测量结果比对部(14)，对指定参照物按照各分析装置求出成分共通性、各成分物理量之差及测量结果一致度；整合一致度计算部(17)，求出整合一致度；判定部(18)，判断含有成分量的差是否在容许范围，基于成分分类信息对该成分分类；结果输出部(19)，以整合一致度从高到低的顺序对规定数量的参照物输出整合一致度及与判定和分类结果对应的附加信息。

Sample analysis system

A sample analysis system is provided, and even when the consistency of reference materials is low, it is easy to make judgments about the object samples. The sample analysis system parses the sample according to the sample measurements of multiple analytical devices (40, 50), with the reference material database (11), including the results of the reference and the classification information obtained by each analysis device related to the reference materials; the reference section (13); the measurement result comparison Department (14). For the specified reference material, the composition compatibility, the difference of the physical quantity of each component and the consistency of the measurement results are calculated according to the analysis devices; the integration consistency calculation Department (17) is used to find the conformity consistency; the decision department (18) determines whether the difference in the components of the components is in the allowable range, based on the component classification information to the component classification; the result output unit is based on the component classification information. (19) integrate consistency of the specified number of reference output and the additional information corresponding to the decision and classification results in the order of consistency and consistency from high to low.

【技术实现步骤摘要】
样品解析系统
本专利技术涉及样品解析系统，所述样品解析系统将使用多种分析装置而取得的对象样品的测量数据与参照物的测量数据进行比对，由此对对象样品进行解析，所述多种分析装置包括：适合于无机物分析的荧光X射线分析装置、原子吸收光度计以及电感耦合等离子体发光分析装置之中的至少一种与适合于有机物分析的红外分光光度计以及拉曼分光光度计之中的至少一种。
技术介绍
若食品等产品以混入了塑料片或金属片等异物的状态进入市场，则对该产品的信赖性会显著降低，因此会在工厂等中进行产品的异物检查。若在产品的异物检查中发现异物，则对该异物进行分析而确定所含物质、所含元素、它们的含量等，通过参照物数据库而确定异物并弄清楚来源或混入路径。适合对由塑料片等有机物构成的异物进行分析的分析装置有傅里叶转换红外分光光度计(FTIR)。在FTIR中，将由包括固定镜以及移动镜的迈克耳孙干涉仪生成的干涉波照射在异物上，将透射光或反射光作为干涉图进行测量。然后，通过对其进行傅里叶转换，得到横轴为波数、纵轴为强度(吸光度或透过率等)的吸收光谱。在吸收光谱中，在与异物所包含的各种物质的振动能或旋转能相对应的波数(波长)中出现与该物质的含量相对应的大小的峰。因此，由异物的吸收光谱求出吸收峰的位置(波数)与大小(吸收率)作为测量结果，并与参照物数据库中预先保存的各种参照物的测量结果进行比较，由此能够求出异物与参照物所包含的有机物的一致度(例如专利文献1)。另一方面，适合对包括金属片等无机物的异物进行分析的分析装置有能量色散型荧光X射线分析装置(EDX)。在EDX中，将X射线照射至异物从而取得荧光X射线的光谱。在荧光X射线光谱中，在各元素的固有能量位置出现荧光X射线的峰。因此，通过调查荧光X射线光谱的峰位置而确定异物所包含的元素。在确定元素的定量法中存在FP法(基本参数法)与标准曲线法2种。在FP法中，在假定了主要成分的组分的基础上，使用公式再现荧光X射线的实测强度，由此求出各元素的定量值作为测量结果(例如专利文献2、3)。在标准曲线法中，需要对组分相同且含量已知的标准样品进行多次测量而制作标准曲线，另一方面，在FP法中无需这样的操作，因此具有能够简便地执行分析这样的优点。另外，为了与标准曲线法求出的严密的定量值进行区别，由FP法求出的定量值也被称为半定量值。将由FP法求出的异物的各元素的半定量值(测量结果)与参照物数据库预先保存的各种参照物所含各元素的半定量值(测量结果)进行比较，由此能够求出异物与参照物所包含的无机物的一致度。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2001-74650号公报专利文献2：日本特开平6-337252号公报专利文献3：日本特开2010-223908号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题以往，对于包含无机物与有机物两者的异物，将使用FTIR取得的测量结果(吸收光谱或该吸收光谱中的峰位置与吸收率)与参照物数据库所保存的测量结果进行比较，由此能够求出一致度，或者将使用EDX取得的测量结果(半定量结果)与参照物数据库所保存的测量结果进行比较，由此也能求出一致度。因为在FTIR中主要求出与有机物参照物的一致度，在EDX中主要求出与无机物参照物的一致度，所以存在由FTIR的测量结果得到的结果与由EDX的测量结果得到的结果不一致的情况。在这样的情况下，无法从测量结果的一致度确定异物，使用者需要分别对两个装置中的测量结果进行确认而确定异物，因为该判断依赖于使用者的经验，所以存在因使用者的熟练度而将相同的异物确定为不同的物质(例如，即便是对无机物有着充分的见解的使用者而言，如果对有机物的见解不充分，也会错误地判断FTIR的确定结果)的情况这样的问题。用于解决上述技术问题的方案本案申请人为了解决这样的问题，在在先申请(日本专利申请2016-084964)中提出了如下的样品解析系统的方案：将使用FTIR取得的分析对象样品的测量结果(吸收光谱或该吸收光谱中的峰位置与吸收率)以及使用EDX取得的荧光光谱求出的测量结果(半定量结果)分别与参照物的测量结果进行比较，由此求出其一致度，根据参照物求出对这些一致度进行整合的整合一致度，以该整合一致度从高到低的顺序输出规定数量的参照物的列表。该样品解析系统(以下称为“在先申请的样品解析系统”)除了能够确定以往技术说明的异物以外，还能够用于产品的检查等各种各样的分析对象样品的解析，无论使用者的熟练度如何，都能够容易地确定最接近于分析对象样品的参照物。但是，在分析对象样品中含有较多杂质等情况下，根据样品不同，有时输出的列表中可能仅能列举整合一致度较低的参照物。在该情况下，仅由提示的整合一致度的值不能进行判断，使用者还必须对分析对象样品的测量结果与参照物的测量结果进行详细的调查，对于熟练度较低的使用者而言成为一种负担。本专利技术对上述技术问题进行解决，并且在这一点上对在先申请的样品解析系统进行了改良。此处，虽然列举了FTIR与EDX的组合作为具体的分析装置，但是作为适合于无机物的分析的装置，也能够使用原子吸收光度计或电感耦合等离子体发光分析装置。此外，作为适合于有机物的分析的装置也能够使用拉曼分光光度计。进而，也存在并用3个以上的装置而对异物等进行分析的情况。这些之中的任一种情况都存在上述同样的问题。考虑上述事项而完成的本专利技术是一种样品解析系统，用于根据由多个分析装置分别测量而得到的、与分析对象样品所包含的成分及其含量相对应的物理量的测量结果而对该分析对象样品进行解析，所述多个分析装置包括：荧光X射线分析装置、原子吸收光度计以及电感耦合等离子体发光分析装置之中的至少一种与红外分光光度计以及拉曼分光光度计之中的至少一种，其特征在于，具备：a)参照物数据库，是对多个参照物的信息进行集存的数据库，各参照物的信息包括由所述多个分析装置分别测量得到的该参照物所包含的多个成分与所述物理量的测量结果、以及表示该多个成分是否分别表征该参照物的成分分类信息；b)参照指定部，供使用者从所述多个参照物之中指定与所述分析对象样品比对的1个或者多个参照物；c)测量结果比对部，分别对所述1个或者多个参照物，按照每个所述分析装置将该参照物的测量结果与所述分析对象样品的测量结果进行比对，求出示出是否存在共通成分的成分共通性、各成分的所述物理量的差以及所述测量结果的一致度；d)整合一致度计算部，分别对所述1个或者多个参照物，求出将每个所述分析装置求出的所述一致度进行整合的整合一致度；e)判定部，分别对所述1个或者多个参照物判断该参照物所包含的成分的所述物理量的差是否在预先决定的容许范围内，基于所述成分分类信息对该物理量的差为所述容许范围外的成分进行分类；f)结果输出部，以所述整合一致度从高到低的顺序对规定数量的参照物输出所述整合一致度与附加信息，所述附加信息与所述判定部的判定以及所述分类的结果相对应。作为所述分析对象样品所包含的成分以及与其含量相对应的物理量的测量结果，能够使用例如由EDX的测量结果得到的半定量值(所含元素以及含有比的组合)或由FTIR的测量结果得到的吸收光谱的吸收峰的位置(波数)以及大小(吸收率)的组合等。在本专利技术的样品解析系统中，使用者指定与分析对象样品进行比对的1个或者多个参照物，与在先申请的样品解析系统同样地，由荧光X射线本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种样品解析系统，用于根据由多个分析装置分别测量而得到的、与分析对象样品所包含的成分及其含量相对应的物理量的测量结果而对该分析对象样品进行解析，所述多个分析装置包括：荧光X射线分析装置、原子吸收光度计以及电感耦合等离子体发光分析装置之中的至少一种与红外分光光度计以及拉曼分光光度计之中的至少一种，其特征在于，所述样品解析系统具备：a)参照物数据库，是对多个参照物的信息进行集存的数据库，各参照物的信息包括由所述多个分析装置分别测量得到的该参照物所包含的多个成分与所述物理量的测量结果、以及表示该多个成分是否分别表征该参照物的成分分类信息；b)参照物指定部，供使用者从所述多个参照物之中指定与所述分析对象样品比对的1个或者多个参照物；c)测量结果比对部，分别对所述1个或者多个参照物，按照每个所述分析装置将该参照物的测量结果与所述分析对象样品的测量结果进行比对，求出示出是否存在共通成分的成分共通性、各成分的所述物理量的差以及所述测量结果的一致度；d)整合一致度计算部，分别对所述1个或者多个参照物，求出将每个所述分析装置求出的所述一致度进行整合的整合一致度；e)判定部，分别对所述1个或者多个参照物判断该参照物所包含的成分的所述物理量的差是否在预先决定的容许范围内，基于所述成分分类信息对该物理量的差为所述容许范围外的成分进行分类；f)结果输出部，以所述整合一致度从高到低的顺序对规定数量的参照物输出所述整合一致度与附加信息，所述附加信息与所述判定部的判定以及所述分类的结果相对应。...

【技术特征摘要】
2016.11.28 JP 2016-2297451.一种样品解析系统，用于根据由多个分析装置分别测量而得到的、与分析对象样品所包含的成分及其含量相对应的物理量的测量结果而对该分析对象样品进行解析，所述多个分析装置包括：荧光X射线分析装置、原子吸收光度计以及电感耦合等离子体发光分析装置之中的至少一种与红外分光光度计以及拉曼分光光度计之中的至少一种，其特征在于，所述样品解析系统具备：a)参照物数据库，是对多个参照物的信息进行集存的数据库，各参照物的信息包括由所述多个分析装置分别测量得到的该参照物所包含的多个成分与所述物理量的测量结果、以及表示该多个成分是否分别表征该参照物的成分分类信息；b)参照物指定部，供使用者从所述多个参照物之中指定与所述分析对象样品比对的1个或者多个参照物；c)测量结果比对部，分别对所述1个或者多个参照物，按照每个所述分析装置将该参照物的测量结果与所述分析对象样品的测量结果进行比对，求出示出是否存在共通成分的成分共通性、各成分的所述物理量的差以及所述测量结果的一致度；d)整合一致度计算部，分别对所述1个或者多个参照物，求出将每个所述分析装置求出的所述一致度进行整合的整合一致度；e)判定部，...

【专利技术属性】
技术研发人员：赤丸久光，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本,JP