光传输装置制造方法及图纸

一种光传输装置，包括第一发光元件、第二发光元件和检测单元。第一发光元件被配置为发射光。第二发光元件被配置为发射光。第二发光元件与第一发光元件并联连接并且被配置为比第一发光元件早劣化。检测单元被配置为检测第二发光元件是否劣化。

【技术实现步骤摘要】
光传输装置
本专利技术涉及光传输装置。
技术介绍
专利文献1描述了一种包括光发送机和光接收机的光通信系统。光发送机具有基于输入数据来输出光信号的发光元件。光接收机具有接收所发送的光信号并将光信号转换为电信号的光接收元件。光通信系统包括输出波形劣化检测电路，其设置有光接收元件以监测光发送机的发光元件的输出光。输出波形劣化检测电路通过检测光接收元件的监测信号的上升或下降时间来检测光发送机的输出波形中的劣化。在专利文献1中所描述的光通信系统中，在作为光通信系统的光发送机的发光元件的激光二极管的输出波形劣化并导致光接收机的故障之前，预先检测并通告输出波形的劣化。专利文献专利文献1：JP-A-2002-368694
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种光传输装置，其与光传输装置仅配置有具有相同使用寿命的发光元件的情况相比，能够在较早阶段检测出发光元件越来越接近其使用寿命的终点。根据本专利技术的第一方面，一种光传输装置包括第一发光元件、第二发光元件和检测单元。第一发光元件被配置为发射光。第二发光元件被配置为发射光。第二发光元件与第一发光元件并联连接并且被配置为比第一发光元件早劣化。检测单元被配本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光传输装置，该光传输装置包括：第一发光元件，该第一发光元件被配置为发射光；第二发光元件，该第二发光元件被配置为发射光，该第二发光元件与所述第一发光元件并联连接并且被配置为比所述第一发光元件早劣化；以及检测单元，该检测单元被配置为检测所述第二发光元件是否劣化。

【技术特征摘要】
2016.11.16 JP 2016-2235431.一种光传输装置，该光传输装置包括：第一发光元件，该第一发光元件被配置为发射光；第二发光元件，该第二发光元件被配置为发射光，该第二发光元件与所述第一发光元件并联连接并且被配置为比所述第一发光元件早劣化；以及检测单元，该检测单元被配置为检测所述第二发光元件是否劣化。2.根据权利要求1所述的光传输装置，该光传输装置还包括：光接收单元，该光接收单元被配置为接收从所述第一发光元件和所述第二发光元件发射的光；以及驱动单元，该驱动单元被配置为基于所述光接收单元所接收的光量来驱动所述第一发光元件和所述第二发光元件，以使得从所述第一发光元件和所述第二发光元件发射的光量恒定，其中，当从所述驱动单元输出至所述第一发光元件和所述第二发光元件的电流或电压的值偏离预定范围时，所述检测单元检测出所述第二发光元件劣化。3.根据权利要求1所述的光传输装置，该光传输装置还包括：光接收单元，该光接收单元被配置为接收从所述第一发光元件和所述第二发光元件发射的光；以及驱动单元，该驱动单元被配置为利用恒定电压或恒定电流来驱动所述第一发光元件和所述第二发...

【专利技术属性】
技术研发人员：村上朱实，早川纯一朗，中山秀生，大塚勤，
申请(专利权)人：富士施乐株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP