一种基于贝叶斯概率模型的组合逻辑电路选择性加固算法制造技术

本发明专利技术公开了一种基于贝叶斯概率模型的组合逻辑电路选择性加固算法，首先读取输入的电路网表文件并生成电路传播网络，计算出整个电路网络中边的SP值；其次采用深度优先搜索算法对每一个节点都搜索出其通往电路输出的所有路径；然后利用贝叶斯概率模型以及逻辑屏蔽法则计算出这些路径中错误传播到输出的概率，并乘以距离因子，即为节点敏感度；最后利用生成的节点敏感度排序表以及用户指定的加固比例进行选择性加固，并输出加固后的电路网表。本发明专利技术的选择性加固算法经过实际仿真测试，在不同加固开销下都有不同程度的可靠性提升。

【技术实现步骤摘要】
一种基于贝叶斯概率模型的组合逻辑电路选择性加固算法
本专利技术涉及一种基于贝叶斯概率模型的组合逻辑电路选择性加固算法，属于数据结构与算法领域。
技术介绍
在宇宙空间中存在着许多高能粒子，而当这些高能粒子击中数字芯片时会导致芯片中逻辑门的状态发生改变，这种现象称为单粒子效应。在高端应用领域如卫星中，由于单粒子效应导致的芯片功能出错可能会导致灾难性后果，因此对逻辑电路进行加固可以提高芯片抗单粒子效应的性能，从而提高系统的可靠性。一种常用的加固方案是TMR(三模冗余)，即将原先的一个门改成三个相同的门，再结合投票器即可实现对节点错误的逻辑屏蔽。但是在对逻辑电路进行加固时，由于加固电路门数越多，电路面积就越大，功耗也越大，所以就需要用最小的加固比例得到最优的可靠性提升，也就是应用选择性加固方法，只选择最敏感的节点进行加固。在已有的基于逻辑屏蔽的选择性加固算法中，每条路径的错误传播都单独分析，路径之间是相互独立的。但是在实际的大型数字电路中，很有可能会出现多条路径交叉在一起的情况，也就是路径间的相互影响，所以在本专利技术中我们采用贝叶斯概率模型去分析路径间的相互影响，可以有效解决已有算法的不足本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于贝叶斯概率模型的组合逻辑电路选择性加固算法，其特征在于包括如下步骤：（1）、在电路生成的电路传播网络中采用深度优先搜索算法对每一个节点都搜索出其通往电路输出的所有路径，形成错误传播网络结构；（2）、利用贝叶斯概率模型以及逻辑屏蔽法则计算出步骤（1）路径中错误传播到输出的概率，并乘以距离因子，即为节点敏感度。

【技术特征摘要】
1.一种基于贝叶斯概率模型的组合逻辑电路选择性加固算法，其特征在于包括如下步骤：（1）、在电路生成的电路传播网络中采用深度优先搜索算法对每一个节点都搜索出其通往电路输出的所有路径，形成错误传播网络结构；（2）、利用贝叶斯概率模型以及逻辑屏蔽法则计算出步骤（1）路径中错误传播到输出的概率，并乘以距离因子，即为节点敏感度。2.根据权利要求1所述的一种基于贝叶斯概率模型的组合逻辑电路选择性加固算法，其特征在于：所述步骤（1）中的路径搜索算法包括如下步骤：（2.1）、利用深度优先搜索算法搜索出这个错误的所有传播路径；（2.2）、对每一条路径都分析其影响范围，将通向输出的路径...

【专利技术属性】
技术研发人员：王海滨，惠志坚，王灿灿，孙洪文，刘小峰，
申请(专利权)人：河海大学常州校区，
类型：发明
国别省市：江苏,32