The present invention provides a method for measuring the collimation error of the radome, which belongs to the field of electromagnetic and microwave technology. On the basis of the conventional scans of the traditional zeros, the method is improved to a variable scale scan, that is, the rough location of the zero depth position first, through relatively large scanning range and relatively low scanning precision, Only a rough position of zero depth is needed, and on this basis, the scanning range is reduced and the precision is improved, the number of sampling points can be reduced greatly, and the testing efficiency of the collimation error of the radome can be greatly improved. The measurement method of the drawing solves the problem of low efficiency of aiming error test, and has good engineering application prospect.
【技术实现步骤摘要】
一种用于天线罩瞄准误差的测试方法
本专利技术属于电磁场与微波
,具体涉及一种用于天线罩瞄准误差的测试方法。
技术介绍
瞄准误差测试是天线罩电性能测试的一个项目,测试方法包括搜零法和比幅电子定标法,其中,电子定标法测试系统需要建立接收电平与瞄准误差的定标曲线,对于新研制的天线罩往往需要重新建立定标曲线,因此存在一定的不足,搜零法相对电子定标法更接近天线罩实际工作状态,它通过发射天线的移动扫描或接收天线的小范围旋转扫描实现天线波束指向的定位,测试更为精确,然而传统的搜零法采用等尺度扫描,即测试瞄准误差时,需要事先设定好寻零器的搜零区间及搜零精度,采用等尺度的搜零方式,寻零器在固定的搜零区间内以固定的搜零精度不断的往复运动进行搜零操作,该种测试方式测试效率较低,完成一次测试任务需耗费大量的时间成本。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服传统天线罩瞄准误差测试时,寻零器等尺度扫描效率较低,测试周期较长等问题,提供一种用于天线罩瞄准误差的测试方法。本专利技术的技术方案如下:一种用于天线罩瞄准误差的测试方法,包括以下步骤:1)垂直方向不带罩天线零深位置粗定位,得到粗略零深位置X1,所述扫描精度为a;2)垂直方向不带罩天线零深位置精确定位,具体是:对步骤1)所得零深位置进行置零操作,以步骤1)所得零深位置为中心,以沿该中心水平轴相反方向各1-2倍的a距离为扫描范围,扫描范围太大则导致效率降低,范围太小可能得不到零深位置,扫描精度a'由以下公式得到:a'≤R×L公式(1)其中,R为收发天线的距离,L为瞄准误差测试精度要求(单位为mrad);得到精确零深位置X1';3) ...
【技术保护点】
一种用于天线罩瞄准误差的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:1)垂直方向不带罩天线零深位置粗定位,得到粗略零深位置X1,所述扫描精度为a;2)垂直方向不带罩天线零深位置精确定位,具体是:对步骤1)所得零深位置进行置零操作,以步骤1)所得零深位置为中心,以沿该中心水平轴相反方向各1‑2倍的a距离为扫描范围,扫描精度a'由以下公式得到:a'≤R×L 公式(1)其中,R为收发天线的距离,L为瞄准误差测试精度要求(单位为mrad);得到精确零深位置X1';3)得到垂直方向不带罩天线零深精确位置后,对其零深位置进行置零操作;4)将接收天线转台转至角度α,所述天线罩测试方位角为α~β;5)水平方向不带罩天线零深位置粗定位,采用步骤1)所述的扫描方法,得到粗略零深位置X20i,其中i指转台步进1次;6)水平方向不带罩天线零深位置精确定位,具体为:对步骤5)所得零深位置进行置零操作,以步骤5)所得零深位置为中心,采用步骤2)所述扫描方法,得到精确零深位置X2'0i;7)将转台依次步进角度γ,重复步骤5)和6),得到不同转台角度下的精确零深位置X2'1i,X2'2i……X2'(i|β‑α|/γ);8) ...
【技术特征摘要】
1.一种用于天线罩瞄准误差的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:1)垂直方向不带罩天线零深位置粗定位,得到粗略零深位置X1,所述扫描精度为a;2)垂直方向不带罩天线零深位置精确定位,具体是:对步骤1)所得零深位置进行置零操作,以步骤1)所得零深位置为中心,以沿该中心水平轴相反方向各1-2倍的a距离为扫描范围,扫描精度a'由以下公式得到:a'≤R×L公式(1)其中,R为收发天线的距离,L为瞄准误差测试精度要求(单位为mrad);得到精确零深位置X1';3)得到垂直方向不带罩天线零深精确位置后,对其零深位置进行置零操作;4)将接收天线转台转至角度α,所述天线罩测试方位角为α~β;5)水平方向不带罩天线零深位置粗定位,采用步骤1)所述的扫描方法,得到粗略零深位置X20i,其中i指转台步进1次;6)水平方向不带罩天线零深位置精确定位,具体...
【专利技术属性】
技术研发人员:阳开华,裴雨辰,张春波,杨帆,蔡汝峰,
申请(专利权)人:航天特种材料及工艺技术研究所,
类型:发明
国别省市:北京,11
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