场均匀性校准支架制造技术

本实用新型专利技术涉及一种场均匀性校准支架，包括底座及垂直连接底座的Z轴支杆；底座包括X轴支杆，X轴支杆上设有若干个支杆插槽，若干个支杆插槽位于同一直线上，若干个支杆插槽的开口方向平行于Z轴支杆自底部往顶部延伸的方向；Z轴支杆可拆卸地连接其中一个所述支杆插槽，所述Z轴支杆的一侧设有若干个探头连接槽，若干个所述探头连接槽位于同一直线上；若干个所述支杆插槽所在的直线垂直于若干个所述探头连接槽所在的直线。每测试一个测试点只需要将场强探头连接入对应的探头连接槽，或将Z轴支杆安插入对应的支杆插槽即可，定位准确，易于操作，减少了定位和测试的时间，减少了测量的不确定性因素，提高了测试的可重复性，提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
场均匀性校准支架
本技术涉及电磁场抗扰度测试设备
，特别是涉及场均匀性校准支架。
技术介绍
辐射电磁场抗扰度测试的目的是为了评估电子电气产品在强辐射干扰环境下的是否能正常工作，测试之前会用一个场强探头放在被测物所在位置，进行辐射场强的强度校准，但由于被测物大小不一，为了让较大的被测物整个平面接收到的干扰强度一致，国际标准便定义了一个垂直于地面的1.5m×1.5m的均匀场区域，该均匀场区域包含16个测试点，16个测试点的排列方式为4(行)×4(列)，相邻的点间隔0.5m。校准时，将场强探头分别放置于16个测试点中的各个点进行校准，再对16个点的数据进行分析，从而得出该区域的均匀性是否符合标准要求，整个校准测试即为场均匀性校准。为了让场强探头准确的放置在上面所述的16个测试点中的各个点，传统方法是利用一个固定的支架(一个底座+一个垂直支杆)，垂直支杆上套一个可以上下滑动的水平套筒，在定位时上下滑动水平套筒以固定探头的高度，在平移底座，用以固定探头的水平位置。将底座水平移动用以固定探头的水平位置时，容易因为人为的操作误差从而导致16个测试点不在同一垂直平面上；探头每更换一个位置时，都需要进行高度测量从而确保位置准确，在进行多次测试时，很难保证每次高度测量都完全一致没有。所以每次测试时都要调节、测量16次，从而确保探头处于设定的位置，这大大增加了测量的不确定性和误差，降低了测试的可重复性，且固定位置比较花时间，影响测试效率。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述问题，提供一种场均匀性校准支架，其具有定位准确，易于操作，减少了定位和测试的时间，提高了测试效率的特点。一种场均匀性校准支架，包括底座及垂直连接底座的Z轴支杆；底座包括X轴支杆，X轴支杆上设有若干个支杆插槽，若干个支杆插槽位于同一直线上，若干个支杆插槽的开口方向平行于Z轴支杆自底部往顶部延伸的方向；Z轴支杆可拆卸地连接其中一个支杆插槽，Z轴支杆的一侧设有若干个探头连接槽，若干个探头连接槽位于同一直线上；若干个支杆插槽所在的直线垂直于若干个探头连接槽所在的直线。上述场均匀性校准支架，应用于放置场强探头以进行场均匀性校准，使用时，底座放置于水平地面或平台上，场强探头通过探头连接杆连接入其中一个探头连接槽，若干个支杆插槽所在的直线平行于电磁场抗扰度测试时的均匀场区域，Z轴支杆安插于其中一个支杆插槽内，相邻的支杆插槽之间的距离等于X轴方向的相邻的测试点之间的距离，则一个支杆插槽与一个探头连接槽的结合形成一个测试位置，对应均匀场16个点中的一个测试点；由于相邻的支杆插槽之间的距离及相邻的支杆插槽之间的距离与测试点的距离对应，所以只要将本技术场均匀性校准支架与均匀场区域对应放置好，并获得其中一个测试点的准确的测试位置，就可以确定其它测试点的测试位置，每测试一个测试点只需要将场强探头连接入对应的探头连接槽，或将Z轴支杆安插入对应的支杆插槽即可，无需每个测试点都测量距离然后滑动调节测试位置，定位准确，易于操作，减少了定位和测试的时间，减少了测量的不确定性因素，大大提高了测试的可重复性，提高了测试效率。在其中一个实施例中，支杆插槽的数量为四个，探头连接槽的数量为四个。在其中一个实施例中，四个支杆插槽中，相邻的支杆插槽之间的距离为50cm；四个探头连接槽中，相邻的探头连接槽之间的距离为50cm。在其中一个实施例中，Z轴支杆由若干个第一连接头和若干个第一连接管连接而成。在其中一个实施例中，第一连接头包括第一竖直端和第一垂直端，第一竖直端与第一连接管连接形成Z轴支杆的Z轴主杆部分，第一垂直端垂直于Z轴主杆部分，第一垂直端的孔槽作为探头连接槽。在其中一个实施例中，X轴支杆由若干个第二连接头和若干个第二连接管连接而成。在其中一个实施例中，第二连接头包括第二竖直端和第二垂直端，第二竖直端与第二连接管连接形成X轴支杆的X轴主杆部分，第二垂直端垂直于X轴主杆部分，第二垂直端的孔槽作为探头连接槽。在其中一个实施例中，底座还包括分别连接X轴支杆的若干个Y轴支脚，若干个Y轴支脚分布于X轴支杆的两侧。在其中一个实施例中，若干Y轴支脚分别由若干个第二连接头和若干个第二连接管连接而成。在其中一个实施例中，Y轴支脚的数量为四个。附图说明图1为本技术场均匀性校准支架的较佳实施例的示意图；图2为图1的场均匀性校准支架的应用示意图。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将对本技术进行更全面的描述。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容的理解更加透彻全面。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。请参阅图1及图2，为本技术一较佳实施例的场均匀性校准支架10，应用于进行场均匀性校准，为1.5m×1.5m的均匀场区域，包含16个测试点，16个测试点的排列方式为4(行)×4(列)，横向或者竖向的相邻的测试点之间的距离为50cm。本实施例的场均匀性校准支架10包括底座30及垂直连接底座30的Z轴支杆20。本实施例中，Z轴支杆20上由四个第一连接头21和四个第一连接管25连接而成。第一连接头21包括第一竖直端22和第一垂直端23，第一竖直端22与第一连接管25连接形成Z轴支杆20的Z轴主杆部分，第一垂直端23垂直于Z轴主杆部分，第一垂直端23的孔槽作为探头连接槽24。四个探头连接槽24位于Z轴支杆20的同一侧，相邻的探头连接槽24之间的中心距离为50cm，等于Z轴方向上的相邻的测试点之间的距离。请再参阅图1，底座30包括X轴支杆31及连接于X轴支杆31两侧的四个Y轴支脚37，X轴支杆31与四个Y轴支脚37位于同一水平面，如此可平稳放置于水平地面或平台上，并保持X轴支杆31可放置于水平方向。具体地，X轴支杆31及四个Y轴支脚37均由若干个第二连接头32和若干个第二连接管36连接而成。第二连接头32包括第二竖直端33和第二垂直端34，第二竖直端33与第二连接管36连接形成X轴支杆31的X轴主杆部分，第二垂直端33垂直于X轴主杆部分。其中四个第二连接头32的第二垂直端35的孔槽作为支杆插槽35。支杆插槽35的内径与X轴支杆20底部的第一连接管25的直径相匹配，以便于拆卸连接，更换不同的支杆插槽35，且不易松动，以免影响测试的准确性。四个支杆插槽35位于同一直线上，支杆插槽35的开口方向平行于Z轴支杆20自底部往顶部延伸的方向。相邻的支杆插槽35之间的中心距离为50cm，等于X轴方向上的相邻的测试点之间的距离。使用时，Z轴支杆20的底部可拆卸地垂直安插于其中一个支杆插槽35。本实施例中，第一连接头21与第二连接头32均为三向连接头，且规格相同，第一连接管25与第二连接管36的管径规格相同。上述场均匀性校准支架10，应用于放置场强探头42以进行场均匀性校准，支杆插槽35与探头连接槽24形成4(行)×4(列)的排列方式，且相邻的支杆插槽35或探头连接槽24之间的中心距离为50cm，与16个测试点的排列对应。使用时，底座30放置于水平地面或平台上，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种场均匀性校准支架，其特征在于，包括底座及垂直连接所述底座的Z轴支杆；所述底座包括X轴支杆，所述X轴支杆上设有若干个支杆插槽，若干个所述支杆插槽位于同一直线上，若干个所述支杆插槽的开口方向平行于所述Z轴支杆自底部往顶部延伸的方向；所述Z轴支杆可拆卸地连接其中一个所述支杆插槽，所述Z轴支杆的同一侧设有若干个探头连接槽，若干个所述探头连接槽位于同一直线上；若干个所述支杆插槽所在的直线垂直于若干个所述探头连接槽所在的直线。

【技术特征摘要】
1.一种场均匀性校准支架，其特征在于，包括底座及垂直连接所述底座的Z轴支杆；所述底座包括X轴支杆，所述X轴支杆上设有若干个支杆插槽，若干个所述支杆插槽位于同一直线上，若干个所述支杆插槽的开口方向平行于所述Z轴支杆自底部往顶部延伸的方向；所述Z轴支杆可拆卸地连接其中一个所述支杆插槽，所述Z轴支杆的同一侧设有若干个探头连接槽，若干个所述探头连接槽位于同一直线上；若干个所述支杆插槽所在的直线垂直于若干个所述探头连接槽所在的直线。2.根据权利要求1所述的场均匀性校准支架，其特征在于，所述支杆插槽的数量为四个，所述探头连接槽的数量为四个。3.根据权利要求2所述的场均匀性校准支架，其特征在于，四个所述支杆插槽中，相邻的所述支杆插槽之间的距离为50cm；四个所述探头连接槽中，相邻的所述探头连接槽之间的距离为50cm。4.根据权利要求1所述的场均匀性校准支架，其特征在于，所述Z轴支杆由若干个第一连接头和若干个第一连接管连接而成。5.根据权利要求4所述的场均匀性校准支架，其特征在于，所述第一连接头为三向连接头；...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏延全，廖建明，齐昊，彭静，
申请(专利权)人：深圳市巴伦技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44