一种芯片测试压块衬套防呆设计结构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体，所述测试压块本体中间位置设有测试压头，所述测试压头外围设有梅花纹路，所述梅花纹路顶部设有连接块，所述连接块两侧分别设有腰型定位孔、圆形定位孔，所述腰型定位孔一侧设有第一衬套，所述圆形定位孔一侧设有第二衬套，所述第一衬套上设有第一衬套孔，所述第二衬套上设有第二衬套孔，所述第一衬套、第二衬套上均安装孔，所述测试压块本体四角均设置有凹槽，所述凹槽一侧均设置有螺纹安装孔，整体设计结构合理，不易磨损，减少材料成本及机器的有效使用率，两边衬套设为不同尺寸，进行防呆，便于辨识。

A type of chip test block bushing anti stay design structure

The utility model relates to a chip test block bushing anti - stay design structure, which includes a test block body. The middle position of the test block body is provided with a test pressure head, and a plum flower pattern is provided on the periphery of the test pressure head. The top of the plum flower pattern is provided with a connection block, and the two sides of the connection block are provided with a waist type positioning hole and a circle respectively. A first liner is provided on one side of the waist positioning hole, and a first bushing hole is provided on one side of the circular positioning hole. The second bushing is provided with a second liner hole, and the first bushing and the second lining are installed on the second bushing. The four corners of the test block body are both provided with a concave corner. The grooves are arranged with threaded installation holes on one side of the grooves, and the overall design structure is reasonable, not easy to wear, and the cost of materials and the effective use rate of the machine are reduced. The two sides of the bushing are set in different sizes to prevent the stay and be easy to identify.

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试压块衬套防呆设计结构
本技术涉及一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，属于IC检测

技术介绍
集成电路(integratedcircuit)是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步，防呆(日语：ポカヨケ；英语：Fool-proofing)是一种预防矫正的行为约束手段，运用避免产生错误的限制方法，让操作者不需要花费注意力、也不需要经验与专业知识即可直接无误地完成正确的操作，在工业设计上，为了避免使用者的操作失误造成机器或人身伤害(包括无意识的动作或下意识的误动作或不小心的肢体动作)，会有针对这些可能发生的情况来做预防措施，称为防呆，现有的芯片测试压块是通过孔与导向PIN来对中测试，无方向性，易装错，现有技术的缺点/不足：孔易磨损，导致芯片测试偏位；无方向性，易装错，无法正确测试。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体(1)，其特征在于：所述测试压块本体(1)中间位置设有测试压头(2)，所述测试压头(2)外围设有梅花纹路(3)，所述梅花纹路(3)顶部设有连接块(12)，所述连接块(12)两侧分别设有腰型定位孔(4)、圆形定位孔(5)，所述腰型定位孔(4)一侧设有第一衬套(6)，所述圆形定位孔(5)一侧设有第二衬套(7)，所述第一衬套(6)上设有第一衬套孔(8)，所述第二衬套(7)上设有第二衬套孔(13)，所述第一衬套(6)、第二衬套(7)上均设有安装孔(9)，所述测试压块本体(1)四角均设置有凹槽(11)，所述凹槽(11)一侧均设置有螺纹安装孔(10)。

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体(1)，其特征在于：所述测试压块本体(1)中间位置设有测试压头(2)，所述测试压头(2)外围设有梅花纹路(3)，所述梅花纹路(3)顶部设有连接块(12)，所述连接块(12)两侧分别设有腰型定位孔(4)、圆形定位孔(5)，所述腰型定位孔(4)一侧设有第一衬套(6)，所述圆形定位孔(5)一侧设有第二衬套(7)，所述第一衬套(6)上设有第一衬套孔(8)，所述第二衬套(7)上设有第二衬套孔(13)，所述第一衬套(6)、第二衬套(7)上均设有安装孔(9)，所述测试压块本体(1)四角均设置有凹槽(11)，所述凹槽(11)一侧均设置有...

【专利技术属性】
技术研发人员：周先庆，
申请(专利权)人：苏州纳思特精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32