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本实用新型涉及一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体，所述测试压块本体中间位置设有测试压头，所述测试压头外围设有梅花纹路，所述梅花纹路顶部设有连接块，所述连接块两侧分别设有腰型定位孔、圆形定位孔，所述腰型定位孔一侧设有第一衬套，...
该专利属于苏州纳思特精密机械有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州纳思特精密机械有限公司授权不得商用。

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