贴片二极管的波形测试治具制造技术

贴片二极管的波形测试治具。涉及半导体领域，具体涉及一种贴片二极管的波形测试治具。提供了一种方便快捷的贴片二极管的波形测试治具。所述贴片二极管从上到下依次包括正极、本体和负极，所述贴片二极管测试前并列在料管中，所述贴片二极管的波形测试治具包括长条型的底盘和与底盘适配的盖板，所述底盘上设有与贴片二极管适配的阶梯型的凹槽，所述本体适配在凹槽的底部，所述正极和负极分别搭在凹槽的台阶上；所述盖板上设有两条开口，所述底盘和盖板合起时两条开口分别处于凹槽的台阶的正上方。本实用新型专利技术方便快捷，适用性高。

Waveform test tool for patch diode

The waveform test tool of the patch diode. The utility model relates to the semiconductor field, and specifically relates to a waveform test fixture for a patch diode. A convenient and fast waveform tester for patch diodes is provided. The patch diode includes the positive pole, the body and the negative pole from top to bottom. The patch diode is arranged in the tube before the test. The waveform test tool of the patch diode includes a long strip type chassis and a chassis adaptable to the chassis. The chassis is provided with a ladder shaped groove adapted to the patch dipole tube. The body is fitted at the bottom of the groove, the positive pole and the negative pole are mounted on the grooves, with two openings on the cover plate. When the chassis and the cover plate are closed, the two openings are above the steps of the grooves, respectively. The utility model is convenient and fast, and has high applicability.

【技术实现步骤摘要】
贴片二极管的波形测试治具
本技术涉及半导体领域，具体涉及一种贴片二极管的波形测试治具。
技术介绍
随着半导体行业的飞速发展，本体小而便于组装的材料愈受欢迎，而这类材料本体较小且薄，不便于进行波形测试。图4-5是一种贴片二极管的结构示意图，可以看出，该贴片二极管包括正极、本体和负极，目前对其进行波形测试前需要手工将其滑入测试导管内再码整齐，工作效率低，而且因为本体有一定的脱模角度，波形测试的时候材料与材料相碰会导致材料错位与蹦出，加大测试难度。
技术实现思路
本技术针对以上问题，提供了一种方便快捷的贴片二极管的波形测试治具。本技术的技术方案是：所述贴片二极管从上到下依次包括正极、本体和负极，所述贴片二极管测试前并列在料管中，所述贴片二极管的波形测试治具包括长条型的底盘和与底盘适配的盖板，所述底盘上设有与贴片二极管适配的阶梯型的凹槽，所述本体适配在凹槽的底部，所述正极和负极分别搭在凹槽的台阶上；所述盖板上设有两条开口，所述底盘和盖板合起时两条开口分别处于凹槽的台阶的正上方。所述底盘的顶端设有贴片二极管的入口，所述料管的出口可插在所述入口中。所述底盘和盖板上分别设有对应的内嵌吸铁石。所述凹槽的长度等于所述料管的长度。本技术的有益效果是：二极管的本体适配在凹槽的底部，所述正极和负极分别搭在凹槽的台阶上，盖板盖在其上，测试时不会错位与蹦出，盖板由吸铁石吸住，可以保证盖板不会自行活动或打开，测试到不良品的时候可以手动打开盖子，取出不良品，然后可以再盖上；在底盘的一端设有与料管出口适配的入口，测试前将料管插在入口中，直接将二极管倒入测试治具内，测试完后，再将其从治具内倒回料管即可，二极管不需手动入管，直接倾倒，大大节约了时间。本技术方便快捷，适用性高。附图说明图1是本技术中底盘的结构示意图，图2是图1的A-A向剖视图，图3是本技术中盖板的结构示意图，图4是贴片二极管的结构示意图，图5是图4的仰视图，图6是料管的结构示意图，图7是图6的右视图；图中1是底盘，11是凹槽，12是入口，2是盖板，21是开口，3是贴片二极管，31是本体，4是料管。具体实施方式下面结合附图对本技术作具体说明。如图4-5所示（为了看清结构，特意将产品图放大，所以图4-5与图1-3和图6-7未按比例绘制），所述贴片二极管3从上到下依次包括正极、本体31和负极，所述贴片二极管3测试前并列在料管4中，如图6-7所示，料管4为中空的长方体型，贴片二极管3并列适配在中空的腔体中，如图1-3所示，本技术的贴片二极管3的波形测试治具包括长条型的底盘1和与底盘1适配的盖板2，所述底盘1上设有与贴片二极管3适配的阶梯型的凹槽11，所述本体31适配在凹槽11的底部，所述正极和负极分别搭在凹槽11的台阶上；所述盖板2上设有两条开口21，所述底盘1和盖板2合起时两条开口21分别处于凹槽11的台阶的正上方，便于测试表棒伸入测试。所述底盘1的顶端（此处的顶端指的是倾倒工作时朝上的一端）设有贴片二极管的入口12，所述料管的出口可插在所述入口12中，方便倾倒工作。所述底盘1和盖板2上分别设有对应的内嵌吸铁石，使得盖板能够吸在底盘上压住贴片二极管3使其不会因撞击而错位和蹦出，同时使得盖板不会自行活动或打开。所述凹槽11的长度等于所述料管4的长度，使得料管4中的贴片二极管能够一次性全部倒入治具中进行测试。本技术的工作过程是：将装有贴片二极管3的料管4的一端水平插入底盘的入口12中，然后倾斜料管和治具，使得贴片二极管3受重力作用滑入凹槽11中，然后将测试表针插入盖板2的开口21中对贴片二极管的正负极进行滑测，如果发现不良品，手动打开盖板取出即可，然后盖上盖板继续测试，测试完后，将料管4和治具反方向倾斜，使贴片二极管3倒回料管4中，至此，一次测试工作完成。本文档来自技高网...

【技术保护点】
贴片二极管的波形测试治具，所述贴片二极管从上到下依次包括正极、本体和负极，所述贴片二极管测试前并列在料管中，所述贴片二极管的波形测试治具包括长条型的底盘和与底盘适配的盖板，其特征在于，所述底盘上设有与贴片二极管适配的阶梯型的凹槽，所述本体适配在凹槽的底部，所述正极和负极分别搭在凹槽的台阶上；所述盖板上设有两条开口，所述底盘和盖板合起时两条开口分别处于凹槽的台阶的正上方。

【技术特征摘要】
1.贴片二极管的波形测试治具，所述贴片二极管从上到下依次包括正极、本体和负极，所述贴片二极管测试前并列在料管中，所述贴片二极管的波形测试治具包括长条型的底盘和与底盘适配的盖板，其特征在于，所述底盘上设有与贴片二极管适配的阶梯型的凹槽，所述本体适配在凹槽的底部，所述正极和负极分别搭在凹槽的台阶上；所述盖板上设有两条开口，所述底盘和盖板合起时两条开口分别...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晓华，丁毓婷，王毅，
申请(专利权)人：扬州扬杰电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32