一种磁光涡流成像检测的缺陷识别方法技术

本发明专利技术公开了一种磁光涡流成像检测的缺陷识别方法，包括以下步骤：S1：初始化磁光图像及参数；S2：对完成灰度化的磁光灰度图像窗口编号赋值；S3：连通性统计处理；S4：分割图像滤波处理；S5：输出检测结果。本发明专利技术提出了基于连通性的缺陷识别检测方法，该方法主要从磁光图像的产生原理上解释了缺陷引起的磁场变化规律，同时阐述了激励在磁场的畸变中所处的地位，并在分析磁场畸变的基础之上，设计了缺陷识别方法。本方法在检测图像信息含量较弱且凭肉眼无法识别的情况下，可以很快的将缺陷定位并描述其形状特性。且通过对以上方法的分析和结果的展示可以验证，本发明专利技术提出的缺陷识别方法对磁光图像具有极强的实用性。

Defect recognition method of magneto optic eddy current imaging detection

The present invention discloses a defect recognition method for magnetic and optical eddy current imaging detection, which includes the following steps: S1: initializing magneto optical images and parameters; S2: assigning a gray scale image window number; S3: connectivity statistical processing; S4: segmentation image filtering; S5: output detection results. The invention proposes a method of defect recognition detection based on connectivity. This method mainly explains the law of magnetic field change caused by defects from the principle of magnetic and optical image generation. It also expounds the position of excitation in the distortion of magnetic field, and designs a defect recognition method based on the analysis of magnetic field distortion. This method can locate and describe the shape characteristics of the defect very quickly when the information content of the image is weak and can not be identified by the naked eye. Through the analysis of the above methods and the display of the results, it can be verified that the defect recognition method proposed by the invention has strong practicability for magneto optic images.

【技术实现步骤摘要】
一种磁光涡流成像检测的缺陷识别方法
本专利技术涉及涡流检测可视化领域，尤其涉及一种磁光涡流成像检测的缺陷识别方法。
技术介绍
在涡流检测发展过程中，一直在追求检测的可视化，希望可以通过可视化方法可以更加直观的了解缺陷存在的形式。在涡流可视化的研究中，先后有涡流阵列检测方法、脉冲涡流热成像检测方法和涡流磁光检测方法等。通过对这些方法的研究表明，磁光涡流成像检测无论在精度和检测速度上都是这三种方法中最优的，而且这种成像方式更加直观，数据不需要做多余的处理便可得到图像信息。其中，磁光直接检测到的信号为空间中的磁场信号，该磁场信号由涡流和试件缺陷共同作用产生，因此通过对磁场空间的成像，可以直接将内部缺陷的形状进行可视化。另外，对涡流精确检测的研究可以知道，通过对涡流趋肤深度的控制，使用不同的激励方式，可以检测到不同深度下的缺陷形状，实现内部缺陷的可视化检测。然而在检测过程中的各种难题也是层出不穷。根据磁光涡流检测基本原理可知，图像的成像是光和磁场的作用而产生的，由于其对磁场的灵敏度很高，微小的磁场运动都会表现在磁光图像上。这为缺陷的检测带来了巨大的干扰和挑战。另外，缺陷的形成过程是复杂多变的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁光涡流成像检测的缺陷识别方法，其特征在于：包括以下步骤：S1：将磁光涡流成像检测到的磁光图像I进行灰度化处理，得到灰度化后的磁光图像G，，其大小为m×n；S2：对完成灰度化的磁光灰度图G进行窗口化处理，设定一个窗口Window，大小为Windowsize×Windowsize的一个方阵；方阵排列为从左往右，从上而下的顺序进行生成：当原磁光图像的大小边界m和n都是参数Windowsize的整数倍时，生成的窗口所组成的阵列尺寸为M×N，其中M＝m/Windowsize，N＝n/Windowsize；如果不满足整除关系的时候，对剩下的不能满足Windowsize×Windowsize大小的区域...

【技术特征摘要】
1.一种磁光涡流成像检测的缺陷识别方法，其特征在于：包括以下步骤：S1：将磁光涡流成像检测到的磁光图像I进行灰度化处理，得到灰度化后的磁光图像G，，其大小为m×n；S2：对完成灰度化的磁光灰度图G进行窗口化处理，设定一个窗口Window，大小为Windowsize×Windowsize的一个方阵；方阵排列为从左往右，从上而下的顺序进行生成：当原磁光图像的大小边界m和n都是参数Windowsize的整数倍时，生成的窗口所组成的阵列尺寸为M×N，其中M＝m/Windowsize，N＝n/Windowsize；如果不满足整除关系的时候，对剩下的不能满足Windowsize×Windowsize大小的区域，即图像边沿部分，进行特殊处理，就按照最后剩下的大小作为一个窗口；这样将磁光灰度图G划分为了多个小窗口图像，称为像素块，此时得到的窗口阵列大小为M＝floor(Windowsize)+1，N＝floor(Windowsize)+1，其中floor(*)表示向下取整，即舍去小数部分，取整数部分；S3：对M×N个像素块建立一个标记矩阵Mark(M,N)，大小为M×N；遍历所有像素块，对每个像素块的像素值进行统计，设定一个阈值Threshold：(1)若第l行，第h列窗口中像素值Window(i，j)<Threshold的像素点个数占整个窗口像素点数量的Z％以上，则认定该窗口为缺陷或者磁畴斑点的一部分，则令此时窗口对应的编号位置的值Mark(l，h)＝1；(2)若第l行，第h列窗口中的像素值在阈值Threshold以下的不到Z％的，则令Mark(l，h)＝0，其中0<l<M和0<h<N；S4：对标记矩阵Mark进行连通性运算处理，即对于Mark矩阵中的非零元素进行统计，采用4方向联通原则，使得上下左右都是非零元素的集合认为是一个联通容器，若与其他的非零元素群隔离，那另外的认为是另一个联通容器，这样对所有的非零联通容器进行编号为1～n；按照规则对标记矩阵进行处理后得到n个联通容器，且编号值为1～n，记为L(n)；S5：对连通性图像进行统计处理，即统计在矩阵L数字i的个数，其中i＝1，···，n，得到每个数字的数量Number(i)，表示编号为i的联通容器所包含的像素块个数；其中，认为缺陷位置的连通性数量一定是最大的几个数，将向量数表Number排序后，取向前差分最大的那个数为阈值Threshold_filter，然后对Mark矩阵进行遍历：(1)若Mark(l，h)＝i，且Number(i)<Threshold_filter，则Markout(l，h)＝0；(2)若Mark(l，h)＝i，且Number(i)≥Threshold_filter，则Markout(l，h)＝1；最后得到修改后的缺陷磁光二值化图像Markout；S6：对于步骤S5中标记矩阵Mark中的非零像素块，且满足Number(i)<Threshold_filter条件的像素块Mark(l，j)，在图G中找到对应的位置，使用步骤S2中相反的方式，用磁...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑德生，李晓瑜，田露露，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川,51